맞춤기술찾기

이전대상기술

전단간섭법을 이용한 변형측정방법 및 이를 이용한 장치

  • 기술번호 : KST2015191579
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 측정대상물에 발생하는 면외변형을 전단량의 차이를 이용하여 정량적으로 계측하고, 압력 변화에 따른 비결함부의 변형을 정량적으로 계측할 수 있도록 함으로써 전단간섭계의 산업적 활용성을 높일 수 있는 전단간섭법을 이용한 변형측정방법 및 이를 이용한 장치에 관한 것이다.본 발명에 따른 전단간섭법을 이용한 변형측정방법은 전단간섭계를 이용해 전단량을 변화시켜가며 각각의 전단량에 따른 측정대상물의 결함부의 복수개의 위상지도를 획득하는 위상지도 획득단계와, 상기 위상지도 획득단계를 통해 얻어진 결과를 이용해 전단량에 따른 결함부의 변형 선도를 구하는 변형선도 산출단계와, 전단량에 따른 결함부의 변형 선도를 통해 전단량 변화와 변형량 사이의 선형구배를 계산하여 전단량에 따른 최대 변형량 선도를 구하는 최대 변형량 선도 산출단계와, 상기 전단량에 따른 최대 변형량 선도를 통해 전단량이 0인 점의 변형량을 추정하는 면외변형 추정단계를 구비한다.
Int. CL G01B 9/02 (2006.01) G01B 11/16 (2006.01) G01N 21/88 (2006.01)
CPC G01B 11/162(2013.01) G01B 11/162(2013.01) G01B 11/162(2013.01) G01B 11/162(2013.01) G01B 11/162(2013.01)
출원번호/일자 1020100079003 (2010.08.16)
출원인 조선대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1131596-0000 (2012.03.22)
공개번호/일자 10-2012-0016546 (2012.02.24) 문서열기
공고번호/일자 (20120330) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.08.16)
심사청구항수 3

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 조선대학교산학협력단 대한민국 광주광역시 동구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 장호섭 대한민국 광주광역시 남구
2 김경석 대한민국 광주광역시 서구
3 정현철 대한민국 광주광역시 남구
4 김동수 대한민국 강원도 평창군
5 김경수 대한민국 광주광역시 동구
6 정덕운 대한민국 전라남도 완도군

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이재량 대한민국 광주광역시 광산구 하남산단*번로 ***, *층(도천동, 광주경제고용진흥원)(가온특허법률사무소)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 조선대학교산학협력단 광주광역시 동구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.08.16 수리 (Accepted) 1-1-2010-0526585-17
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.09.19 수리 (Accepted) 4-1-2011-5189513-90
3 등록결정서
Decision to grant
2012.03.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0141471-52
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004365-05
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.21 수리 (Accepted) 4-1-2014-5049090-32
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.08.10 수리 (Accepted) 4-1-2015-5106192-07
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.12.06 수리 (Accepted) 4-1-2017-5199091-10
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.03.26 수리 (Accepted) 4-1-2020-5071333-01
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2020-5088703-88
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
상호 다른 전단량으로 전단시켜 복수개의 위상지도를 획득할 수 있는 전단간섭계를 이용하여 측정대상물의 결함부에 대하여 전단량이 다른 복수개의 위상지도를 획득하는 위상지도 획득단계와;상기 위상지도 획득단계를 통해 얻어진 결과를 이용해 전단량에 따른 결함부의 변형 선도를 구하는 변형선도 산출단계와;전단량에 따른 결함부의 변형 선도를 통해 전단량 변화와 변형량 사이의 선형구배를 계산하여 전단량에 따른 최대 변형량 선도를 구하는 최대 변형량 선도 산출단계와;상기 전단량에 따른 최대 변형량 선도를 통해 전단량이 0인 점의 변형량을 추정하는 면외변형 추정단계;를 구비하는 것을 특징으로 하는 전단간섭법을 이용한 변형측정방법
2 2
측정대상물의 변형량 측정을 위해 상기 측정대상물을 향해 레이저광을 조사하는 광조사기와;상기 측정대상물에서 반사된 광을 수광하고 이를 분할하는 빔스플리터와, 분할된 광 중 하나를 임의의 각도로 전단시키기 위한 전단거울 및 상기 전단된 광의 영상을 획득하는 씨씨디카메라를 포함하는 전단간섭계와;상기 씨씨디카메라에서 획득한 각각의 전단량에 따른 위상지도를 통해 전단량에 따른 결함부의 변형선도를 산출하고 각각의 전단량에 따른 최대 변형량 선도를 통해 전단량이 0인 점의 변형량을 추정하는 변형량 추정수단;을 구비하는 것을 특징으로 하는 전단간섭법을 이용한 변형측정장치
3 3
제 2항에 있어서,상기 전단간섭계는 다양한 전단량에 따른 위상지도를 동시에 획득할 수 있도록 상기 측정대상물에서 반사되는 레이저광을 제1 내지 제3 방향으로 분할하는 제1 빔스플리터와;상기 제1 빔스플리터에 의해 분할된 레이저광들이 수광되고 각각 두 방향으로 분할시키는 제2 내지 제4 빔스플리터와;상기 제2 내지 제4 빔스플리터에서 각각 분할된 하나의 광을 반사하도록 상기 제2 내지 제4 빔스플리터와 인접하게 각각 설치된 제1 내지 제3 피지티(PZT) 미러와;상기 제2 내지 제4 빔스플리터에서 분할된 다른 하나의 광을 전단시켜 반사하도록 상기 제2 내지 제4 빔스플리터와 인접하게 각각 설치된 제1 내지 제3 전단미러; 및상기 제2 내지 제4 빔스플리터를 통해 각각의 제1 내지 제3 피지티미러와 제1 내지 제3 전단미러에서 반사된 광을 수광하여 이미지를 획득하는 제1 내지 제3 씨씨디카메라를 구비하는 것을 특징으로 하는 전단간섭법을 이용한 변형측정장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.