요약 | 강자성체 구조물, 상자성체 구조물, 강자성체와 상자성체가 혼재된 구조물의 표면 결함, 이면 결함 및 내면 결함을 정량적으로 분석하지 못하면 검사자의 지식이나 숙련도에 따라서 탐상 결과가 다르게 해석될 수 있다. 본 발명에 따른 결함 탐상 장치는 유도 전류 인가부, 자전 변환부, 신호 처리부, 신호 변환부 및 데이터 처리부를 구비한다. 상기 유도 전류 인가부는 탐상하고자 하는 깊이에 따라서 다른 주파수를 가지는 교류 전류를 이용하여 피측정체에 선 전류 또는 면 전류를 인가한다. 상기 자전 변환부는 상기 선 전류 또는 상기 면 전류에 의해 상기 피측정체로부터 발생되는 자기장을 감지하고, 감지된 자기장의 세기에 대응하는 자기장 감지 신호를 발생시킨다. 상기 신호 처리부는 상기 자기장 감지 신호를 필터링 및 증폭하고, 필터링 및 증폭된 신호의 진폭에 대응되는 신호를 출력한다. 상기 신호 변환부는 상기 신호 처리부의 출력 신호를 디지털 신호로 변환한다. 상기 데이터 처리부는 상기 신호 변환부의 출력 신호에 기초하여, 상기 피측정체로부터 발생되는 자기장의 세기 분포를 정량적으로 수치화한다. 강자성체, 상자성체, 결함, 자기 센서 어레이, 정량 분석 |
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Int. CL | G01N 27/82 (2006.01.01) G01N 27/72 (2006.01.01) G01R 33/09 (2006.01.01) |
CPC | |
출원번호/일자 | 1020070080324 (2007.08.09) |
출원인 | 조선대학교산학협력단 |
등록번호/일자 | 10-0956163-0000 (2010.04.27) |
공개번호/일자 | 10-2008-0039781 (2008.05.07) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20100506) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 |
대한민국 | 1020060107338 | 2006.11.01
|
법적상태 | 등록 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | 심판사항 |
구분 | |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | 1020090088976; |
심사청구여부/일자 | Y (2007.08.09) |
심사청구항수 | 21 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
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1 | 조선대학교산학협력단 | 대한민국 | 광주광역시 동구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 이진이 | 대한민국 | 광주 서구 |
2 | 전종우 | 대한민국 | 부산 수영구 |
3 | 황지성 | 대한민국 | 전라남도 담양군 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 리앤목특허법인 | 대한민국 | 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 주식회사 이첸 | 광주광역시 북구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2007.08.09 | 수리 (Accepted) | 1-1-2007-0579672-18 |
2 | [전자문서첨부서류]전자문서첨부서류등 물건제출서 [Attachment to Electronic Document] Submission of Object such as Attachment to Electronic Document |
2007.08.13 | 수리 (Accepted) | 1-1-2007-5073406-06 |
3 | 보정요구서 Request for Amendment |
2007.08.20 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 1-5-2007-0116203-31 |
4 | [출원서등 보정]보정서 [Amendment to Patent Application, etc.] Amendment |
2007.09.10 | 수리 (Accepted) | 1-1-2007-0655320-24 |
5 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2007.12.31 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2007-0950583-12 |
6 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2008.07.07 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
7 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2008.08.12 | 수리 (Accepted) | 9-1-2008-0052783-16 |
8 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2009.02.24 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2009-0083288-60 |
9 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2009.03.27 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0186167-35 |
10 | 거절결정서 Decision to Refuse a Patent |
2009.08.21 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2009-0348523-99 |
11 | 명세서 등 보정서(심사전치) Amendment to Description, etc(Reexamination) |
2009.09.21 | 보정승인 (Acceptance of amendment) | 7-1-2009-0048129-03 |
12 | [분할출원]특허출원서 [Divisional Application] Patent Application |
2009.09.21 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0578005-97 |
13 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2009.11.17 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2009-0472598-22 |
14 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2009.12.29 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2009-0813661-19 |
15 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2009.12.29 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0813658-82 |
16 | 등록결정서 Decision to grant |
2010.04.16 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2010-0160126-36 |
17 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2010.08.12 | 수리 (Accepted) | 4-1-2010-5149329-23 |
18 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2011.09.19 | 수리 (Accepted) | 4-1-2011-5189513-90 |
19 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.01.09 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5004365-05 |
20 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.04.21 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5049090-32 |
21 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2015.08.10 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5106192-07 |
22 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2017.12.06 | 수리 (Accepted) | 4-1-2017-5199091-10 |
23 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2020.03.26 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5071333-01 |
24 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2020.04.17 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5088703-88 |
번호 | 청구항 |
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1 |
1 탐상하고자 하는 깊이에 따라서 다른 주파수를 가지는 교류 전류를 이용하여 피측정체에 선 전류 또는 면 전류를 인가하는 유도 전류 인가부; 상기 선 전류 또는 상기 면 전류에 의해 상기 피측정체로부터 발생되는 자기장을 감지하고, 감지된 자기장의 세기에 대응하는 자기장 감지 신호를 발생시키는 자전 변환부; 상기 자기장 감지 신호를 필터링 및 증폭하고, 필터링 및 증폭된 신호의 진폭에 대응되는 신호를 출력하는 신호 처리부; 상기 신호 처리부의 출력 신호를 디지털 신호로 변환하는 신호 변환부; 및 상기 신호 변환부의 출력 신호에 기초하여, 상기 피측정체로부터 발생되는 자기장의 세기 분포를 정량적으로 수치화하는 데이터 처리부;를 구비하고, 상기 유도 전류 인가부는, 상기 교류 전류를 발생시키는 교류 전원 공급기와; 상기 교류 전류로부터 유도되는 상기 선 전류 또는 상기 면 전류를 상기 피측정체에 인가하는 도체판;을 구비하며, 상기 교류 전류를 전송하는 1 차 코일과; 상기 1 차 코일과 상기 도체판 사이에서 유도 작용을 매개하는 코어(core)를; 구비하고, 상기 1 차 코일, 상기 코어 및 상기 도체판 각각이 복수개인 경우에, 상기 교류 전류를 상기 복수개의 1차 코일들 각각에 분배하는 분배기;를 구비하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치 |
2 |
2 삭제 |
3 |
3 삭제 |
4 |
4 삭제 |
5 |
5 제 1 항에 있어서, 상기 분배기는 상기 복수개의 1 차 코일들 각각으로 분배되는 교류 전류의 위상을 제어하며, 상기 복수개의 도체판들은 상호 직교하도록 배치되는 것을 특징으로 결함 탐상 장치 |
6 |
6 제 1 항에 있어서, 상기 코어는 복수개의 관통 경로를 구비하며, 상기 도체판이 상기 복수개의 관통 경로를 교차로 통과하도록 하여, 상기 피측정체에 인가되는 상기 선 전류 또는 상기 면 전류를 강화하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치 |
7 |
7 제 1 항에 있어서, 상기 교류 전원 공급기는, 상기 피측정체의 표면으로부터 어느 정도의 깊이를 탐상하고자 하는가에 따라서, 상기 교류 전류의 주파수를 가변시키는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치 |
8 |
8 제 1 항에 있어서, 상기 자전 변환부는 M 행 N 열로 배치되는 홀 센서(hall sensor)들, M 행 N 열로 배치되는 자기 저항 센서들 또는 M 행 N 열로 배치되는 거대 자기 저항 센서들을 구비하며, 상기 M 행 N 열로 배치되는 센서들은 2 차원 평면 상에 배치되거나 3 차원 원통형 곡면 상에 배치되는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치 |
9 |
9 제 1 항에 있어서, 상기 자전 변환부는 M 행 N 열로 배치되는 홀 센서들, M 개의 제 1 전원 라인들, M 개의 제 2 전원 라인들 및 N 개의 제 1 출력 라인들을 구비하며, 제 m(m은 1 ~ M) 행에 속하는 홀 센서들 각각의 제 1 전원 단자들은 제 m 행의 제 1 전원 라인에 접속되고, 제 m 행에 속하는 홀 센서들 각각의 제 2 전원 단자들은 제 m 행의 제 2 전원 라인에 접속되며, 제 n(n은 1 ~ N) 열에 속하는 홀 센서들 각각의 제 1 출력 단자들은 제 n 열의 제 1 출력 라인에 접속되는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치 |
10 |
10 제 9 항에 있어서, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서는, 제 m 행의 제 1 전원 라인에 제 1 전원이 인가되고 제 m 행의 제 2 전원 라인에 제 2 전원이 인가되는 경우에, 상기 피측정체로부터 발생되어 상기 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서로 입사되는 자기장의 세기에 대응되는 자기장 감지 신호를 제 n 열의 제 1 출력 라인을 통하여 출력하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치 |
11 |
11 제 10 항에 있어서, 상기 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서가 상기 제 n 열의 제 1 출력 라인을 통하여 상기 자기장 감지 신호를 출력하는 경우에, 상기 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서의 제 2 출력 단자는 플로팅(floating) 상태 또는 접지(ground) 상태인 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치 |
12 |
12 제 9 항에 있어서, 상기 자전 변환부는 N 개의 제 2 출력 라인들을 더 구비하며, 제 n 열에 속하는 홀 센서들 각각의 제 2 출력 단자들은 제 n 열의 제 2 출력 라인에 접속되는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치 |
13 |
13 제 12 항에 있어서, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서는, 제 m 행의 제 1 전원 라인에 제 1 전원이 인가되고 제 m 행의 제 2 전원 라인에 제 2 전원이 인가되는 경우에, 상기 피측정체로부터 발생되어 상기 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서로 입사되는 자기장의 세기에 대응되는 자기장 감지 신호를 제 n 열의 제 1 출력 라인 및 제 n 열의 제 2 출력 라인을 통하여 출력하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치 |
14 |
14 제 9 항에 있어서, 상기 자전 변환부는 M 행 N 열로 배치되는 저항들을 더 구비하며, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서의 제 1 전원 단자는 제 m 행 제 n 열에 배치되는 저항을 통하여 제 m 행의 제 1 전원 라인에 접속되는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치 |
15 |
15 제 1 항에 있어서, 상기 자전 변환부는 M 행 N 열로 배치되는 홀 센서들을 구비하며, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서의 제 1 전원 단자는 제 m 행 제 n-1 열에 배치되는 홀 센서의 제 2 전원 단자에 접속되고, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서의 제 2 전원 단자는 제 m 행 제 n+1 열에 배치되는 홀 센서의 제 1 전원 단자에 접속되고, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서의 제 1 출력 단자는 제 m-1 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서의 제 2 출력 단자에 접속되며, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서의 제 2 출력 단자는 제 m+1 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서의 제 1 출력 단자에 접속되는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치 |
16 |
16 제 15 항에 있어서, 제 m 행 제 1 열에 배치되는 홀 센서의 제 1 전원 단자에 제 1 전원을 인가하고, 제 m 행 제 N 열에 배치되는 홀 센서의 제 2 전원 단자에 제 2 전원을 인가하는 경우에, 제 1 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서의 제 1 출력 단자와 제 M 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서의 제 2 출력 단자 간의 전압 차이를, 상기 피측정체로부터 발생되어 상기 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서로 입사되는 자기장의 세기에 대응되는 자기장 감지 신호로서 출력하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치 |
17 |
17 제 1 항에 있어서, 상기 자전 변환부는, 기판 상에 도포되는 소정 크기의 홀(hall) 효과 재료; 상기 홀 효과 재료의 제 1 단면에 형성되는 M 개의 제 1 전원 단자들; 상기 M 개의 제 1 전원 단자들 각각에 접속되는 M 개의 제 1 전원 스위치들; 상기 홀 효과 재료의 제 2 단면에 형성되는 M 개의 제 2 전원 단자들; 상기 M 개의 제 2 전원 단자들 각각에 접속되는 M 개의 제 2 전원 스위치들; 상기 홀 효과 재료의 제 3 단면에 형성되는 N 개의 제 1 출력 단자들; 및 상기 홀 효과 재료의 제 4 단면에 형성되는 N 개의 제 2 출력 단자들; 을 구비하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치 |
18 |
18 제 17 항에 있어서, 상기 홀 효과 재료를 M 행 N 열로 구분하고, 제 m 행의 제 1 전원 스위치와 제 m 행의 제 2 전원 스위치를 턴 온(turn on)시키는 경우에, 제 n 열의 제 1 출력 단자와 제 n 열의 제 2 출력 단자 간의 전압 차이를, 상기 피측정체로부터 발생되어 제 m 행 제 n 열 부분의 홀 효과 재료로 입사되는 자기장의 세기에 대응되는 자기장 감지 신호로서 출력하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치 |
19 |
19 제 1 항에 있어서, 상기 자전 변환부는 M 행 N 열로 배치되는 자기 저항 센서들을 구비하며, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 1 단자는 제 m 행 제 n-1 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 2 단자에 접속되고, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 2 단자는 제 m 행 제 n+1 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 1 단자에 접속되고, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 3 단자는 제 m-1 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 4 단자에 접속되고, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 4 단자는 제 m+1 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 3 단자에 접속되고, 제 m 행 제 N 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 2 단자는 접지 저항을 통하여 접지 전압에 접속되며, 제 M 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 4 단자는 접지 저항을 통하여 접지 전압에 접속되는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치 |
20 |
20 제 19 항에 있어서, 제 m 행 제 1 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 1 단자에 전원 전압을 인가하여 제 m 행 제 N 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 2 단자의 전압을 측정하고, 제 1 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 3 단자에 전원 전압을 인가하여 제 M 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 4 단자의 전압을 측정하고, 측정된 제 m 행 제 N 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 2 단자의 전압과 측정된 제 M 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 4 단자의 전압에 기초하여, 상기 피측정체로부터 발생되어 제 m 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서로 입사되는 자기장의 세기에 대응되는 자기장 감지 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치 |
21 |
21 제 1 항에 있어서, 상기 신호 처리부는, 상기 자기장 감지 신호 또는 증폭된 자기장 감지 신호를 고역 통과 필터링, 대역 통과 필터링 또는 저역 통과 필터링하는 필터; 상기 필터링된 신호를 증폭시켜 출력하거나 상기 자기장 감지 신호를 증폭시켜 출력하는 증폭기; 및 상기 필터링 및 증폭된 신호의 진폭에 대응하는 신호를 출력하는 평활 회로; 를 구비하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치 |
22 |
22 제 21 항에 있어서, 상기 평활 회로는, 제곱평균근(RMS, Root Mean Square) 회로, 록-인-앰프(Lock-In-Amplifier), 최대치 검출 회로 중 어느 하나인 것을 특징으로 결함 탐상 장치 |
23 |
23 제 1 항에 있어서, 상기 데이터 처리부는, 상기 피측정체의 각 위치에서 발생되는 자기장의 진폭, 진폭의 면 전류 방향에 대한 미분치(dB/dx), 진폭의 면 전류 수직 방향에 대한 미분치(dB/dy) 및 진폭의 면 전류 수평 수직 방향에 대한 미분치(dB^2/dxdy)를 계산하고, 그 계산된 값을 수치화하여 상기 피측정체에 존재하는 결함을 정량적으로 분석하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치 |
24 |
24 제 1 항에 있어서, 강자성체인 피측정체, 상자성체인 피측정체 또는 강자성체와 상자성체가 혼재된 피측정체의 표면 결함, 이면 결함 또는 내면 결함을 탐상하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치 |
25 |
25 삭제 |
26 |
26 삭제 |
27 |
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28 |
28 삭제 |
29 |
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30 |
30 삭제 |
31 |
31 삭제 |
지정국 정보가 없습니다 |
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순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | EP02084524 | EP | 유럽특허청(EPO) | FAMILY |
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3 | KR100956164 | KR | 대한민국 | FAMILY |
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6 | WO2008054056 | WO | 세계지적재산권기구(WIPO) | FAMILY |
순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
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1 | EP2084524 | EP | 유럽특허청(EPO) | DOCDBFAMILY |
2 | EP2084524 | EP | 유럽특허청(EPO) | DOCDBFAMILY |
3 | EP2084524 | EP | 유럽특허청(EPO) | DOCDBFAMILY |
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8 | WO2008054056 | WO | 세계지적재산권기구(WIPO) | DOCDBFAMILY |
국가 R&D 정보가 없습니다. |
---|
특허 등록번호 | 10-0956163-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
---|---|
1 |
출원 연월일 : 20070809 출원 번호 : 1020070080324 공고 연월일 : 20100506 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20100416 청구범위의 항수 : 21 유별 : G01N 27/82 발명의 명칭 : 자기 센서 어레이를 이용하는 결함 탐상 장치 존속기간(예정)만료일 : |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 조선대학교산학협력단 광주광역시 동구... |
2 |
(권리자) 이진이 광주광역시 서구... |
2 |
(의무자) 조선대학교산학협력단 광주광역시 동구... |
3 |
(권리자) 주식회사 이첸 광주광역시 북구... |
3 |
(의무자) 이진이 광주광역시 서구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 432,000 원 | 2010년 04월 28일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 502,000 원 | 2013년 04월 03일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 351,400 원 | 2014년 03월 27일 | 납입 |
제 6 년분 | 금 액 | 351,400 원 | 2015년 04월 02일 | 납입 |
제 7 년분 | 금 액 | 898,000 원 | 2016년 03월 10일 | 납입 |
제 8 년분 | 금 액 | 628,600 원 | 2017년 03월 29일 | 납입 |
제 9 년분 | 금 액 | 898,000 원 | 2018년 02월 26일 | 납입 |
제 10 년분 | 금 액 | 1,395,000 원 | 2019년 03월 25일 | 납입 |
제 11 년분 | 금 액 | 1,395,000 원 | 2020년 04월 27일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2007.08.09 | 수리 (Accepted) | 1-1-2007-0579672-18 |
2 | [전자문서첨부서류]전자문서첨부서류등 물건제출서 | 2007.08.13 | 수리 (Accepted) | 1-1-2007-5073406-06 |
3 | 보정요구서 | 2007.08.20 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 1-5-2007-0116203-31 |
4 | [출원서등 보정]보정서 | 2007.09.10 | 수리 (Accepted) | 1-1-2007-0655320-24 |
5 | [명세서등 보정]보정서 | 2007.12.31 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2007-0950583-12 |
6 | 선행기술조사의뢰서 | 2008.07.07 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
7 | 선행기술조사보고서 | 2008.08.12 | 수리 (Accepted) | 9-1-2008-0052783-16 |
8 | 의견제출통지서 | 2009.02.24 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2009-0083288-60 |
9 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2009.03.27 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0186167-35 |
10 | 거절결정서 | 2009.08.21 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2009-0348523-99 |
11 | 명세서 등 보정서(심사전치) | 2009.09.21 | 보정승인 (Acceptance of amendment) | 7-1-2009-0048129-03 |
12 | [분할출원]특허출원서 | 2009.09.21 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0578005-97 |
13 | 의견제출통지서 | 2009.11.17 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2009-0472598-22 |
14 | [명세서등 보정]보정서 | 2009.12.29 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2009-0813661-19 |
15 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2009.12.29 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0813658-82 |
16 | 등록결정서 | 2010.04.16 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2010-0160126-36 |
17 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2010.08.12 | 수리 (Accepted) | 4-1-2010-5149329-23 |
18 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2011.09.19 | 수리 (Accepted) | 4-1-2011-5189513-90 |
19 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.01.09 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5004365-05 |
20 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.04.21 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5049090-32 |
21 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2015.08.10 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5106192-07 |
22 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2017.12.06 | 수리 (Accepted) | 4-1-2017-5199091-10 |
23 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2020.03.26 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5071333-01 |
24 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2020.04.17 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5088703-88 |
기술정보가 없습니다 |
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과제고유번호 | 1355050765 |
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세부과제번호 | R01-2005-000-10029-0 |
연구과제명 | 자기카메라및비파괴정량해석알고리즘 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국과학재단 |
연구주관기관명 | 조선대학교 |
성과제출연도 | 2007 |
연구기간 | 200504~200802 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1345135237 |
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세부과제번호 | 2008-2006003 |
연구과제명 | 교류 고밀도 면적형 및 원통형 실시간 자기카메라 개발 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 조선대학교 산학협력단 |
성과제출연도 | 2010 |
연구기간 | 200812~201109 |
기여율 | 0.5 |
연구개발단계명 | 개발연구 |
6T분류명 | ET(환경기술) |
과제고유번호 | 1415109590 |
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세부과제번호 | C1090-1021-0013 |
연구과제명 | IT 기반 실시간 손상계측기술 개발 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 정보통신산업진흥원 |
연구주관기관명 | 조선대학교 산학협력단 |
성과제출연도 | 2010 |
연구기간 | 200903~201212 |
기여율 | 0.5 |
연구개발단계명 | 응용연구 |
6T분류명 | 기타 |
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번호 | 심판번호(숫자) | 심판번호(문자) | 사건의표시 | 청구일 | 심결일자 |
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1 | 2009101008723 | 2009원8723 | 2007년 특허출원 제0080324호 거절결정불복 | 2009.09.21 | 2010.04.16 |