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자기 센서 어레이를 이용하는 결함 탐상 장치

  • 기술번호 : KST2015191608
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 강자성체 구조물, 상자성체 구조물, 강자성체와 상자성체가 혼재된 구조물의 표면 결함, 이면 결함 및 내면 결함을 정량적으로 분석하지 못하면 검사자의 지식이나 숙련도에 따라서 탐상 결과가 다르게 해석될 수 있다. 본 발명에 따른 결함 탐상 장치는 유도 전류 인가부, 자전 변환부, 신호 처리부, 신호 변환부 및 데이터 처리부를 구비한다. 상기 유도 전류 인가부는 탐상하고자 하는 깊이에 따라서 다른 주파수를 가지는 교류 전류를 이용하여 피측정체에 선 전류 또는 면 전류를 인가한다. 상기 자전 변환부는 상기 선 전류 또는 상기 면 전류에 의해 상기 피측정체로부터 발생되는 자기장을 감지하고, 감지된 자기장의 세기에 대응하는 자기장 감지 신호를 발생시킨다. 상기 신호 처리부는 상기 자기장 감지 신호를 필터링 및 증폭하고, 필터링 및 증폭된 신호의 진폭에 대응되는 신호를 출력한다. 상기 신호 변환부는 상기 신호 처리부의 출력 신호를 디지털 신호로 변환한다. 상기 데이터 처리부는 상기 신호 변환부의 출력 신호에 기초하여, 상기 피측정체로부터 발생되는 자기장의 세기 분포를 정량적으로 수치화한다. 강자성체, 상자성체, 결함, 자기 센서 어레이, 정량 분석
Int. CL G01N 27/82 (2006.01.01) G01N 27/72 (2006.01.01) G01R 33/09 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020070080324 (2007.08.09)
출원인 조선대학교산학협력단
등록번호/일자 10-0956163-0000 (2010.04.27)
공개번호/일자 10-2008-0039781 (2008.05.07) 문서열기
공고번호/일자 (20100506) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020060107338   |   2006.11.01
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항 심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호 1020090088976;
심사청구여부/일자 Y (2007.08.09)
심사청구항수 21

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 조선대학교산학협력단 대한민국 광주광역시 동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이진이 대한민국 광주 서구
2 전종우 대한민국 부산 수영구
3 황지성 대한민국 전라남도 담양군

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 이첸 광주광역시 북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2007.08.09 수리 (Accepted) 1-1-2007-0579672-18
2 [전자문서첨부서류]전자문서첨부서류등 물건제출서
[Attachment to Electronic Document] Submission of Object such as Attachment to Electronic Document
2007.08.13 수리 (Accepted) 1-1-2007-5073406-06
3 보정요구서
Request for Amendment
2007.08.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2007-0116203-31
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2007.09.10 수리 (Accepted) 1-1-2007-0655320-24
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2007.12.31 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0950583-12
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.07.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.08.12 수리 (Accepted) 9-1-2008-0052783-16
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2009.02.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0083288-60
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2009.03.27 수리 (Accepted) 1-1-2009-0186167-35
10 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2009.08.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0348523-99
11 명세서 등 보정서(심사전치)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2009.09.21 보정승인 (Acceptance of amendment) 7-1-2009-0048129-03
12 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application
2009.09.21 수리 (Accepted) 1-1-2009-0578005-97
13 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2009.11.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0472598-22
14 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2009.12.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0813661-19
15 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2009.12.29 수리 (Accepted) 1-1-2009-0813658-82
16 등록결정서
Decision to grant
2010.04.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0160126-36
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.08.12 수리 (Accepted) 4-1-2010-5149329-23
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.09.19 수리 (Accepted) 4-1-2011-5189513-90
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004365-05
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.21 수리 (Accepted) 4-1-2014-5049090-32
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.08.10 수리 (Accepted) 4-1-2015-5106192-07
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.12.06 수리 (Accepted) 4-1-2017-5199091-10
23 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.03.26 수리 (Accepted) 4-1-2020-5071333-01
24 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2020-5088703-88
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
탐상하고자 하는 깊이에 따라서 다른 주파수를 가지는 교류 전류를 이용하여 피측정체에 선 전류 또는 면 전류를 인가하는 유도 전류 인가부; 상기 선 전류 또는 상기 면 전류에 의해 상기 피측정체로부터 발생되는 자기장을 감지하고, 감지된 자기장의 세기에 대응하는 자기장 감지 신호를 발생시키는 자전 변환부; 상기 자기장 감지 신호를 필터링 및 증폭하고, 필터링 및 증폭된 신호의 진폭에 대응되는 신호를 출력하는 신호 처리부; 상기 신호 처리부의 출력 신호를 디지털 신호로 변환하는 신호 변환부; 및 상기 신호 변환부의 출력 신호에 기초하여, 상기 피측정체로부터 발생되는 자기장의 세기 분포를 정량적으로 수치화하는 데이터 처리부;를 구비하고, 상기 유도 전류 인가부는, 상기 교류 전류를 발생시키는 교류 전원 공급기와; 상기 교류 전류로부터 유도되는 상기 선 전류 또는 상기 면 전류를 상기 피측정체에 인가하는 도체판;을 구비하며, 상기 교류 전류를 전송하는 1 차 코일과; 상기 1 차 코일과 상기 도체판 사이에서 유도 작용을 매개하는 코어(core)를; 구비하고, 상기 1 차 코일, 상기 코어 및 상기 도체판 각각이 복수개인 경우에, 상기 교류 전류를 상기 복수개의 1차 코일들 각각에 분배하는 분배기;를 구비하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
삭제
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 분배기는 상기 복수개의 1 차 코일들 각각으로 분배되는 교류 전류의 위상을 제어하며, 상기 복수개의 도체판들은 상호 직교하도록 배치되는 것을 특징으로 결함 탐상 장치
6 6
제 1 항에 있어서, 상기 코어는 복수개의 관통 경로를 구비하며, 상기 도체판이 상기 복수개의 관통 경로를 교차로 통과하도록 하여, 상기 피측정체에 인가되는 상기 선 전류 또는 상기 면 전류를 강화하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 교류 전원 공급기는, 상기 피측정체의 표면으로부터 어느 정도의 깊이를 탐상하고자 하는가에 따라서, 상기 교류 전류의 주파수를 가변시키는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치
8 8
제 1 항에 있어서, 상기 자전 변환부는 M 행 N 열로 배치되는 홀 센서(hall sensor)들, M 행 N 열로 배치되는 자기 저항 센서들 또는 M 행 N 열로 배치되는 거대 자기 저항 센서들을 구비하며, 상기 M 행 N 열로 배치되는 센서들은 2 차원 평면 상에 배치되거나 3 차원 원통형 곡면 상에 배치되는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치
9 9
제 1 항에 있어서, 상기 자전 변환부는 M 행 N 열로 배치되는 홀 센서들, M 개의 제 1 전원 라인들, M 개의 제 2 전원 라인들 및 N 개의 제 1 출력 라인들을 구비하며, 제 m(m은 1 ~ M) 행에 속하는 홀 센서들 각각의 제 1 전원 단자들은 제 m 행의 제 1 전원 라인에 접속되고, 제 m 행에 속하는 홀 센서들 각각의 제 2 전원 단자들은 제 m 행의 제 2 전원 라인에 접속되며, 제 n(n은 1 ~ N) 열에 속하는 홀 센서들 각각의 제 1 출력 단자들은 제 n 열의 제 1 출력 라인에 접속되는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치
10 10
제 9 항에 있어서, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서는, 제 m 행의 제 1 전원 라인에 제 1 전원이 인가되고 제 m 행의 제 2 전원 라인에 제 2 전원이 인가되는 경우에, 상기 피측정체로부터 발생되어 상기 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서로 입사되는 자기장의 세기에 대응되는 자기장 감지 신호를 제 n 열의 제 1 출력 라인을 통하여 출력하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치
11 11
제 10 항에 있어서, 상기 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서가 상기 제 n 열의 제 1 출력 라인을 통하여 상기 자기장 감지 신호를 출력하는 경우에, 상기 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서의 제 2 출력 단자는 플로팅(floating) 상태 또는 접지(ground) 상태인 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치
12 12
제 9 항에 있어서, 상기 자전 변환부는 N 개의 제 2 출력 라인들을 더 구비하며, 제 n 열에 속하는 홀 센서들 각각의 제 2 출력 단자들은 제 n 열의 제 2 출력 라인에 접속되는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치
13 13
제 12 항에 있어서, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서는, 제 m 행의 제 1 전원 라인에 제 1 전원이 인가되고 제 m 행의 제 2 전원 라인에 제 2 전원이 인가되는 경우에, 상기 피측정체로부터 발생되어 상기 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서로 입사되는 자기장의 세기에 대응되는 자기장 감지 신호를 제 n 열의 제 1 출력 라인 및 제 n 열의 제 2 출력 라인을 통하여 출력하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치
14 14
제 9 항에 있어서, 상기 자전 변환부는 M 행 N 열로 배치되는 저항들을 더 구비하며, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서의 제 1 전원 단자는 제 m 행 제 n 열에 배치되는 저항을 통하여 제 m 행의 제 1 전원 라인에 접속되는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치
15 15
제 1 항에 있어서, 상기 자전 변환부는 M 행 N 열로 배치되는 홀 센서들을 구비하며, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서의 제 1 전원 단자는 제 m 행 제 n-1 열에 배치되는 홀 센서의 제 2 전원 단자에 접속되고, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서의 제 2 전원 단자는 제 m 행 제 n+1 열에 배치되는 홀 센서의 제 1 전원 단자에 접속되고, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서의 제 1 출력 단자는 제 m-1 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서의 제 2 출력 단자에 접속되며, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서의 제 2 출력 단자는 제 m+1 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서의 제 1 출력 단자에 접속되는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치
16 16
제 15 항에 있어서, 제 m 행 제 1 열에 배치되는 홀 센서의 제 1 전원 단자에 제 1 전원을 인가하고, 제 m 행 제 N 열에 배치되는 홀 센서의 제 2 전원 단자에 제 2 전원을 인가하는 경우에, 제 1 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서의 제 1 출력 단자와 제 M 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서의 제 2 출력 단자 간의 전압 차이를, 상기 피측정체로부터 발생되어 상기 제 m 행 제 n 열에 배치되는 홀 센서로 입사되는 자기장의 세기에 대응되는 자기장 감지 신호로서 출력하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치
17 17
제 1 항에 있어서, 상기 자전 변환부는, 기판 상에 도포되는 소정 크기의 홀(hall) 효과 재료; 상기 홀 효과 재료의 제 1 단면에 형성되는 M 개의 제 1 전원 단자들; 상기 M 개의 제 1 전원 단자들 각각에 접속되는 M 개의 제 1 전원 스위치들; 상기 홀 효과 재료의 제 2 단면에 형성되는 M 개의 제 2 전원 단자들; 상기 M 개의 제 2 전원 단자들 각각에 접속되는 M 개의 제 2 전원 스위치들; 상기 홀 효과 재료의 제 3 단면에 형성되는 N 개의 제 1 출력 단자들; 및 상기 홀 효과 재료의 제 4 단면에 형성되는 N 개의 제 2 출력 단자들; 을 구비하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치
18 18
제 17 항에 있어서, 상기 홀 효과 재료를 M 행 N 열로 구분하고, 제 m 행의 제 1 전원 스위치와 제 m 행의 제 2 전원 스위치를 턴 온(turn on)시키는 경우에, 제 n 열의 제 1 출력 단자와 제 n 열의 제 2 출력 단자 간의 전압 차이를, 상기 피측정체로부터 발생되어 제 m 행 제 n 열 부분의 홀 효과 재료로 입사되는 자기장의 세기에 대응되는 자기장 감지 신호로서 출력하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치
19 19
제 1 항에 있어서, 상기 자전 변환부는 M 행 N 열로 배치되는 자기 저항 센서들을 구비하며, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 1 단자는 제 m 행 제 n-1 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 2 단자에 접속되고, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 2 단자는 제 m 행 제 n+1 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 1 단자에 접속되고, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 3 단자는 제 m-1 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 4 단자에 접속되고, 제 m 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 4 단자는 제 m+1 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 3 단자에 접속되고, 제 m 행 제 N 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 2 단자는 접지 저항을 통하여 접지 전압에 접속되며, 제 M 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 4 단자는 접지 저항을 통하여 접지 전압에 접속되는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치
20 20
제 19 항에 있어서, 제 m 행 제 1 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 1 단자에 전원 전압을 인가하여 제 m 행 제 N 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 2 단자의 전압을 측정하고, 제 1 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 3 단자에 전원 전압을 인가하여 제 M 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 4 단자의 전압을 측정하고, 측정된 제 m 행 제 N 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 2 단자의 전압과 측정된 제 M 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서의 제 4 단자의 전압에 기초하여, 상기 피측정체로부터 발생되어 제 m 행 제 n 열에 배치되는 자기 저항 센서로 입사되는 자기장의 세기에 대응되는 자기장 감지 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치
21 21
제 1 항에 있어서, 상기 신호 처리부는, 상기 자기장 감지 신호 또는 증폭된 자기장 감지 신호를 고역 통과 필터링, 대역 통과 필터링 또는 저역 통과 필터링하는 필터; 상기 필터링된 신호를 증폭시켜 출력하거나 상기 자기장 감지 신호를 증폭시켜 출력하는 증폭기; 및 상기 필터링 및 증폭된 신호의 진폭에 대응하는 신호를 출력하는 평활 회로; 를 구비하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치
22 22
제 21 항에 있어서, 상기 평활 회로는, 제곱평균근(RMS, Root Mean Square) 회로, 록-인-앰프(Lock-In-Amplifier), 최대치 검출 회로 중 어느 하나인 것을 특징으로 결함 탐상 장치
23 23
제 1 항에 있어서, 상기 데이터 처리부는, 상기 피측정체의 각 위치에서 발생되는 자기장의 진폭, 진폭의 면 전류 방향에 대한 미분치(dB/dx), 진폭의 면 전류 수직 방향에 대한 미분치(dB/dy) 및 진폭의 면 전류 수평 수직 방향에 대한 미분치(dB^2/dxdy)를 계산하고, 그 계산된 값을 수치화하여 상기 피측정체에 존재하는 결함을 정량적으로 분석하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치
24 24
제 1 항에 있어서, 강자성체인 피측정체, 상자성체인 피측정체 또는 강자성체와 상자성체가 혼재된 피측정체의 표면 결함, 이면 결함 또는 내면 결함을 탐상하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치
25 25
삭제
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31 31
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순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - 패밀리정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP02084524 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
2 EP02084524 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
3 KR100956164 KR 대한민국 FAMILY
4 US09170234 US 미국 FAMILY
5 US20100042336 US 미국 FAMILY
6 WO2008054056 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - DOCDB 패밀리 정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP2084524 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
2 EP2084524 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
3 EP2084524 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
4 KR100956164 KR 대한민국 DOCDBFAMILY
5 KR20090115099 KR 대한민국 DOCDBFAMILY
6 US2010042336 US 미국 DOCDBFAMILY
7 US9170234 US 미국 DOCDBFAMILY
8 WO2008054056 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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