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전단간섭계를 이용한 면외변형의 정량계측방법

  • 기술번호 : KST2015191937
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전단간섭계를 이용하여 대상물의 변형의 기울기를 측정하고, 이를 수치적분을 통하여 대상물에 발생하는 결함의 가시화와 면외변형을 정량적으로 계측함으로써 기존 ESPI를 대체하고, 산업적 활용도를 높일 수 있도록 한 전단간섭계를 이용한 면외변형의 정량계측방법에 관한 것이다. 이를 위하여, 본 발명은 전단간섭법으로 대상물체의 변형 전 이미지를 획득하는 단계와, 전단간섭법으로 대상물체의 변형 후 이미지를 획득하는 단계와, 획득된 변형 전 이미지와 변형 후 이미지를 감산처리한 후 변형 전 이미지와 변형 후 이미지의 평행이동 값으로 수치적분함으로써 면외변형을 계측하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 한다. 상기의 기술적 구성에 따르면, 전단간섭법을 이용하여 대상물에 발생하는 면외변형을 정량적으로 측정함으로써, 전단간섭법의 장점인 간단한 간섭계의 구성과 저렴한 레이저의 사용, 그리고 외란에 강인한 장점을 바탕으로 전단간섭계의 산업적 현장적용성을 높일 수 있고, 비파괴 검사기법으로써 스페클 패턴 간섭법이 안정적으로 적용될 수 있다는 효과가 있다. 전단간섭계, ESPI, 면외변형 측정, 수치적분
Int. CL G01B 11/24 (2006.01.01) G01B 11/16 (2006.01.01) G01B 9/02 (2006.01.01) G06T 7/00 (2017.01.01) G01N 21/88 (2006.01.01)
CPC G01B 11/2441(2013.01) G01B 11/2441(2013.01) G01B 11/2441(2013.01) G01B 11/2441(2013.01) G01B 11/2441(2013.01) G01B 11/2441(2013.01)
출원번호/일자 1020070002867 (2007.01.10)
출원인 조선대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2008-0065784 (2008.07.15) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.01.10)
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 조선대학교산학협력단 대한민국 광주광역시 동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김경석 대한민국 광주광역시 서구
2 장호섭 대한민국 광주 광산구
3 정성욱 대한민국 광주광역시 동구
4 정현철 대한민국 광주 남구
5 강명구 대한민국 광주 서구
6 곽재호 대한민국 광주 남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 윤춘주 대한민국 광주광역시 동구 동명로 ***, ***호 서석특허법률사무소 (지산동, 법조타운)
2 양차권 대한민국 광주광역시 동구 동명로 ***, ***호 (지산동, 법조타운)(서석특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.01.10 수리 (Accepted) 1-1-2007-0025099-73
2 보정요구서
Request for Amendment
2007.01.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2007-0009098-45
3 서지사항보정서
Amendment to Bibliographic items
2007.02.23 수리 (Accepted) 1-1-2007-0162309-02
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2007-5087029-16
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.09.06 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.10.12 수리 (Accepted) 9-1-2007-0061515-63
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.03.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0158852-14
8 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2008.09.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0457019-88
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.08.12 수리 (Accepted) 4-1-2010-5149329-23
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.09.19 수리 (Accepted) 4-1-2011-5189513-90
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004365-05
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.21 수리 (Accepted) 4-1-2014-5049090-32
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.08.10 수리 (Accepted) 4-1-2015-5106192-07
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.12.06 수리 (Accepted) 4-1-2017-5199091-10
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.03.26 수리 (Accepted) 4-1-2020-5071333-01
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2020-5088703-88
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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전단간섭법으로 대상물체의 변형 전 이미지를 획득하는 단계와, 전단간섭법으로 대상물체의 변형 후 이미지를 획득하는 단계와, 획득된 변형 전 이미지와 변형 후 이미지를 감산처리한 후 변형 전 이미지와 변형 후 이미지의 평행이동 값으로 수치적분함으로써 면외변형을 계측하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 전단간섭계를 이용한 면외변형의 정량계측방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.