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재료 성분에 따라 특정 파장의 빛을 생성하는 복수의 발광 다이오드, 상기 복수의 발광 다이오드 각각에 대하여 광량을 조절하여 합성광을 생성하는 제어부, 상기 복수의 발광 다이오드로부터 조사되는 빛을 반사시키는 반사부, 그리고상기 반사부로부터 반사된 반사광 중에서 특정 파장을 가지는 단색광이 개구부로 투과되어, 투과된 단색광이 시료 세포에 조사되도록 하는 투과 판을 포함하며, 상기 반사부는 격자 거울로 구성되며, 상기 격자 거울로부터 반사된 반사광 중에서 상기 단색광이 상기 투과 판을 통과하도록 상기 격자 거울을 회전시키는 모터부를 더 포함하는 복수의 발광 다이오드를 이용한 세포 특성 탐지 시스템
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재료 성분에 따라 특정 파장의 빛을 생성하는 복수의 발광 다이오드, 상기 복수의 발광 다이오드 각각에 대하여 광량을 조절하여 합성광을 생성하는 제어부, 상기 복수의 발광 다이오드로부터 조사되는 빛을 반사시키는 반사부, 그리고상기 반사부로부터 반사된 반사광 중에서 특정 파장을 가지는 단색광이 개구부로 투과되어, 투과된 단색광이 시료 세포에 조사되도록 하는 투과 판을 포함하며,상기 반사부는 초미세 전기기계 시스템(MEMS)를 이용한 MEMS 미러 어레이로 구성되며, 상기 MEMS 미러 어레이는 인가되는 전압의 크기에 따라 상기 반사광의 파장이 변경되는 복수의 발광 다이오드를 이용한 세포 특성 탐지 시스템
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제3항에 있어서, 상기 MEMS 미러 어레이는 복수의 미러 셀을 포함하며, 상기 미러 셀은, 반도체 기판 위에 적층되며, 전압이 인가되면 휘어지는 유연성을 가지는 재질로 이루어지는 구동 전극, 그리고 상기 구동 전극 위에 적층되어 상기 복수의 발광 다이오드로부터 조사되는 빛을 반사시키는 미러 판을 포함하는 복수의 발광 다이오드를 이용한 세포 특성 탐지 시스템
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제4항에 있어서, 상기 미러 셀은, 전압이 인가되면 그 높이가 낮아지고, 전압이 인가되지 않으면 그 높이가 유지되는 복수의 발광 다이오드를 이용한 세포 특성 탐지 시스템
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제1항 또는 제3항에 있어서, 상기 제어부는, 상기 복수의 발광 다이오드의 광량을 조절하여 특정 파장에 해당하거나 특정 세기 이상의 상기 합성광이 반사되도록 하는 복수의 발광 다이오드를 이용한 세포 특성 탐지 시스템
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제1항 또는 제3항에 있어서, 상기 시료 세포를 통과하여 출력되는 세포 통과 광원을 측정하는 진단 장치를 더 포함하는 복수의 발광 다이오드를 이용한 세포 특성 탐지 시스템
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