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그래핀 배선 형성 방법

  • 기술번호 : KST2015194246
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본원은 금속촉매층 및 그래핀층을 서로 교대로 다수층으로 적층하여 배선을 형성하는 방법에 관한 것이다.
Int. CL B32B 33/00 (2006.01) C01B 31/02 (2006.01) C23C 16/26 (2006.01) H01B 1/04 (2006.01)
CPC C01B 32/186(2013.01) C01B 32/186(2013.01) C01B 32/186(2013.01) C01B 32/186(2013.01)
출원번호/일자 1020110018436 (2011.03.02)
출원인 세종대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0099917 (2012.09.12) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 세종대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 광진구 능동로 *** (군

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정종완 대한민국 서울특별시 성북구
2 이원준 대한민국 서울특별시 마포구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인엠에이피에스 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 **, *층 (역삼동, 한동빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.03.02 수리 (Accepted) 1-1-2011-0149979-38
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.04.13 수리 (Accepted) 4-1-2011-5073277-77
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판 상에 금속촉매층을 형성하고; 상기 금속촉매층 상에 그래핀층을 형성하고; 및,상기 그래핀층 상에 금속촉매층 및 그래핀층을 서로 교대로 다수층으로 적층하여 형성하는 것: 을 포함하는, 그래핀 배선 형성 방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 금속촉매층은 원자층증착(atomic layer deposition; ALD), 스퍼터링(sputtering), 열증착(thermal evaporation), 전자빔 증착(e-beam evaporation), 분자빔 증착(molecular beam epitaxy; MBE), 펄스레이저증착(pulsed laser deposition; PLD), 화학기상증착(chemical vapour deposition; CVD), 졸겔(Sol-Gel) 방법 및 이들의 조합으로 이루어진 군에서 선택된 방법에 의해 형성되는 것인, 그래핀 배선 형성 방법
3 3
제 1 항에 있어서,상기 금속촉매층은 Ni, Co, Fe, Pt, Au, Al, Cr, Cu, Mg, Mn, Mo, Rh, Si, Ta, Ti, W, U, V, Zr, Ge, 황동(brass), 청동(bronze), 백동 및 스테인레스 스틸(stainless steel) 및 이들의 조합으로 이루어진 군에서 선택된 것을 포함하는 것인, 그래핀 배선 형성 방법
4 4
제 1 항에 있어서,상기 그래핀층은 화학기상증착(chemical vapour deposition; CVD) 방법에 의해 형성되는 것인, 그래핀 배선 형성 방법
5 5
제 4 항에 있어서,상기 화학기상증착 방법은 고온 화학기상증착(Rapid Thermal Chemical Vapour Deposition; RTCVD), 유도결합플라즈마 화학기상증착(Inductively Coupled Plasma-Chemical Vapor Deposition; ICP-CVD), 저압 화학기상증착(Low Pressure Chemical Vapor Deposition; LPCVD), 상압 화학기상증착(Atmospheric Pressure Chemical Vapor Deposition; APCVD), 금속 유기화학기상증착(Metal Organic Chemical Vapor Deposition; MOCVD), 플라즈마 화학기상증착(Plasma-enhanced chemical vapor deposition; PECVD), 및 이들의 조합으로 이루어진 군에서 선택된 방법을 포함하는 것인, 그래핀 배선 형성 방법
6 6
제 1 항에 있어서,상기 그래핀층은 상압, 저압 또는 진공 하에 형성되는 것인, 그래핀 배선 형성 방법
7 7
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 따른 방법에 의해 형성된 그래핀 배선
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 한국 반도체 조합 2010년 선정 1단계 1차년 산업원천기술개발사업 초미세 고신뢰성 배선 기술 연구(산업원천기술개발사업)