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X―선 회절을 이용한 보석용 다이아몬드의 감별방법

  • 기술번호 : KST2015194515
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 X-선 회절을 이용한 보석용 다이아몬드의 감별 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 감별하고자 하는 다이아몬드를 X-선 회절 분석기의 시편홀더에 마운팅하는 단계(단계 1); 및 상기 다이아몬드의 적절한 X-선 회절조건을 선택하여 X-선 조사하고 회절되는 X-선 회절 이미지를 검출기로 검출하는 단계(단계 2)를 포함하여 구성되는 보석용 다이아몬드 감별하는 방법에 관한 것이다. 본 발명은 일반적인 보석학적 감정방법으로 구별하기 힘든 다이아몬드의 감별에 유용하게 사용될 수 있다.다이아몬드, X-선 회절
Int. CL G01N 23/207 (2018.01.01) G01N 33/38 (2006.01.01) G01N 23/20 (2018.01.01)
CPC G01N 23/207(2013.01) G01N 23/207(2013.01) G01N 23/207(2013.01) G01N 23/207(2013.01) G01N 23/207(2013.01)
출원번호/일자 1020060074619 (2006.08.08)
출원인 서울시립대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0825916-0000 (2008.04.22)
공개번호/일자 10-2008-0013290 (2008.02.13) 문서열기
공고번호/일자 (20080428) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.09.13)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울시립대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 동대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 송오성 대한민국 서울 동작구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이원희 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 성지하이츠빌딩*차 ***호 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울시립대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 동대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.08.08 수리 (Accepted) 1-1-2006-0566534-98
2 출원심사청구서
Request for Examination
2006.09.13 수리 (Accepted) 1-1-2006-0661967-05
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.03.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 출원인코드정정신청서
Request for Correction of Applicant Code
2007.03.20 수리 (Accepted) 1-1-2007-0219784-80
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.04.12 수리 (Accepted) 9-1-2007-0023736-66
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2007.09.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0509817-14
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2007.11.20 수리 (Accepted) 1-1-2007-0832387-24
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2007.12.12 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0891929-98
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2007.12.12 수리 (Accepted) 1-1-2007-0891930-34
10 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.02.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0092816-44
11 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.03.03 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0155460-58
12 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.03.03 수리 (Accepted) 1-1-2008-0155461-04
13 등록결정서
Decision to grant
2008.04.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0196487-21
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.01.05 수리 (Accepted) 4-1-2011-5002044-04
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.03 수리 (Accepted) 4-1-2014-0000287-10
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.01.17 수리 (Accepted) 4-1-2017-5009116-18
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.09.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5191631-69
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
감별하고자 하는 다이아몬드를 X-선 회절 분석기의 시편홀더에 마운팅하는 단계(단계 1); 및 상기 다이아몬드의 회절조건으로 다이아몬드 결정면과 상기 결정면에 의해 반사되는 X-선 사이의 각도(2θ)를 20 ~ 30°, 40 ~ 50° 및 65 ~ 75° 중 어느 하나의 범위에서 선택하여 X-선을 조사하고, 회절되는 X-선 회절 이미지를 검출기로 검출하는 단계(단계 2)를 포함하여 구성되는 다이아몬드 감별방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 단계 2의 2θ가 25°, 45° 및 70° 중 어느 하나에서 선택되는 것을 특징으로 하는 다이아몬드 감별방법
3 3
제1항에 있어서, 상기 2θ 범위에서 X-선이 회절되는 다이아몬드의 결정면은 20 ~ 30°, 40 ~ 50° 및 65 ~ 75° 각각에 대하여 (100), (111) 및 (110)면인 것을 특징으로 하는 다이아몬드 감별방법
4 4
제1항에 있어서, 상기 다이아몬드의 감별은 다이아몬드 결정면에 존재하는 불균일한 스트레스 영역에 의해 발생하는 X-선 회절 이미지의 차이로 감별하는 것을 특징으로 하는 다이아몬드 감별방법
5 5
제4항에 있어서, 상기 X-선 회절 이미지의 차이는 상기 불균일한 스트레스 영역에 의해 검출기의 필름상에 감광되는 다이아몬드 이미지의 균일 정도에 차이인 것을 특징으로 하는 다이아몬드 감별방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.