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복소 유전율 및 복소 투자율 측정용 프로브 제조 방법, 프로브 및 측정 장치

  • 기술번호 : KST2015194546
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 복소 유전율 및 복소 투자율 측정용 프로브는 중심도체, 제 1 유전체, 제 1 동축도체, 제 2 유전체, 제 2 동축도체, 및 연결부를 포함한다. 동축선로의 일부분에서 동축도체 및 유전체를 제거하여 제 1 유전체, 제 1 동축도체, 제 2 유전체, 및 제 2 동축도체를 형성한다. 연결부는 제 1 동축도체와 제 2 동축도체를 전기적으로 연결한다. 따라서 용이하게 프로브를 제조할 수 있고, 프로브를 반영구적으로 재사용할 수 있으며, 피측정 시료를 용이하게 프로브에 충전할 수 있고, 복소 유전율 및 복소 투자율을 용이하게 측정할 수 있다.복소 유전율 측정, 복소 투자율 측정
Int. CL G01R 1/067 (2006.01.01) G01R 27/26 (2006.01.01) G01R 3/00 (2006.01.01)
CPC G01R 1/06733(2013.01) G01R 1/06733(2013.01) G01R 1/06733(2013.01)
출원번호/일자 1020070051727 (2007.05.28)
출원인 서울시립대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0877941-0000 (2009.01.05)
공개번호/일자 10-2008-0104660 (2008.12.03) 문서열기
공고번호/일자 (20090112) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.05.28)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울시립대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 동대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 천창율 대한민국 서울 영등포구
2 박상복 대한민국 충북 청주시 흥덕구
3 정용식 대한민국 서울 양천구
4 권영우 대한민국 서울 송파구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박영우 대한민국 서울특별시 강남구 논현로 ***, *층 **세기특허법률사무소 (역삼동, 세일빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울시립대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 동대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.05.28 수리 (Accepted) 1-1-2007-0390542-60
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.04.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.05.14 수리 (Accepted) 9-1-2008-0028708-94
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.08.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0437261-52
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.09.03 수리 (Accepted) 1-1-2008-0626666-71
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.09.03 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0626658-16
7 등록결정서
Decision to grant
2008.12.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0646349-17
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.01.05 수리 (Accepted) 4-1-2011-5002044-04
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.03 수리 (Accepted) 4-1-2014-0000287-10
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.01.17 수리 (Accepted) 4-1-2017-5009116-18
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.09.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5191631-69
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
동축선로에서 동축도체의 일부분을 제거하여 상기 동축도체를 제 1 동축도체 및 제 2 동축도체로 분리하는 단계;상기 제거된 동축도체의 일부분에 상응하는 유전체의 일부분을 제거하는 단계; 및상기 제 1 동축도체와 상기 제 2 동축도체를 전기적으로 연결하는 단계를 포함하는 프로브 제조 방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 전기적으로 연결하는 단계는,상기 제 1 동축도체와 상기 제 2 동축도체를 하나의 연결도체를 통하여 전기적으로 연결하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 제조 방법
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 전기적으로 연결하는 단계는,상기 제 1 동축도체와 상기 제 2 동축도체를 제 1 연결도체를 통하여 전기적으로 연결하는 단계; 및상기 제 1 동축도체와 상기 제 2 동축도체를 상기 동축선로의 중심선에 대하여 상기 제 1 연결도체와 대칭을 이루는 제 2 연결도체를 통하여 전기적으로 연결하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 제조 방법
4 4
제 1 항에 있어서,상기 동축선로를 ‘ㄷ’자 형상으로 성형하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 제조 방법
5 5
제 4 항에 있어서,상기 동축선로의 ‘ㄷ’자 형상을 유지하기 위한 지지대를 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 제조 방법
6 6
원기둥 형상의 중심도체;상기 중심도체의 일 측에서부터 상기 중심도체와 동축인 속이 빈 원기둥 형상으로 형성된 제 1 동축도체;상기 중심도체와 상기 제 1 동축도체 사이에 형성된 제 1 유전체;상기 제 1 동축도체와 분리되어 있고, 상기 중심도체의 타 측에서부터 상기 중심도체와 동축인 속이 빈 원기둥 형상으로 형성된 제 2 동축도체;상기 중심도체와 상기 제 2 동축도체 사이에 형성된 제 2 유전체; 및상기 제 1 동축도체와 상기 제 2 동축도체를 전기적으로 연결하는 연결부를 포함하는 프로브
7 7
제 6 항에 있어서, 상기 연결부는,상기 제 1 동축도체와 상기 제 2 동축도체를 전기적으로 연결하는 하나의 연결도체를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브
8 8
제 6 항에 있어서, 상기 연결부는,상기 제 1 동축도체와 상기 제 2 동축도체를 전기적으로 연결하는 제 1 연결도체; 및상기 중심도체에 대하여 상기 제 1 연결도체와 대칭을 이루고, 상기 제 1 동축도체와 상기 제 2 동축도체를 전기적으로 연결하는 제 2 연결도체를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브
9 9
제 6 항에 있어서,상기 프로브는 ‘ㄷ’자 형상인 것을 특징으로 하는 프로브
10 10
제 9 항에 있어서,상기 ‘ㄷ’자 형상을 유지하기 위한 지지대를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브
11 11
삭제
12 12
동축선로의 일부분에서 동축도체 및 유전체가 제거되어 개방된 부분에 피측정 시료가 충전되고, 상기 동축도체가 제거되어 형성된 제 1 동축도체 및 제 2 동축도체가 전기적으로 연결된 프로브;상기 프로브와 전기적으로 연결되어 상기 피측정 시료가 충전된 상기 프로브의 S-파라미터를 측정하는 네트워크 분석기; 및상기 네트워크 분석기로부터 측정된 상기 S-파라미터로부터 상기 피측정 시료의 복소 유전율 및 복소 투자율을 계산하는 데이터 처리기를 포함하는 측정 장치
13 13
제 12 항에 있어서, 상기 프로브는,원기둥 형상의 중심도체;상기 중심도체의 일 측에서부터 상기 중심도체와 동축인 속이 빈 원기둥 형상으로 형성된 상기 제 1 동축도체;상기 중심도체와 상기 제 1 동축도체 사이에 형성된 제 1 유전체;상기 제 1 동축도체와 분리되어 있고, 상기 중심도체의 타 측에서부터 상기 중심도체와 동축인 속이 빈 원기둥 형상으로 형성된 상기 제 2 동축도체;상기 중심도체와 상기 제 2 동축도체 사이에 형성된 제 2 유전체; 및상기 제 1 동축도체와 상기 제 2 동축도체를 전기적으로 연결하는 연결부를 포함하는 측정 장치
14 14
제 13 항에 있어서, 상기 연결부는,상기 제 1 동축도체와 상기 제 2 동축도체를 전기적으로 연결하는 하나의 연결도체를 포함하는 것을 특징으로 하는 측정 장치
15 15
제 13 항에 있어서, 상기 연결부는,상기 제 1 동축도체와 상기 제 2 동축도체를 전기적으로 연결하는 제 1 연결도체; 및상기 중심도체에 대하여 상기 제 1 연결도체와 대칭을 이루고, 상기 제 1 동축도체와 상기 제 2 동축도체를 전기적으로 연결하는 제 2 연결도체를 포함하는 것을 특징으로 하는 측정 장치
16 16
제 12 항에 있어서, 상기 데이터 처리기는상기 S-파라미터를 측정 T-파라미터로 변환하는 파라미터 변환부;상기 피측정 시료가 충전된 상기 프로브의 등가회로의 등가 T-파라미터를 계산하는 파라미터 계산부; 및상기 측정 T-파라미터와 상기 등가 T-파라미터에 기초하여 복소 유전율 및 복소 투자율을 계산하는 계산부를 포함하는 것을 특징으로 하는 측정 장치
17 17
제 16 항에 있어서, 상기 계산부는,복소 유전율 및 복소 투자율이 알려진 시료를 이용하여 상기 등가 T-파라미터가 포함하는 계수들을 계산하는 보정 작업에 의하여 계산된 상기 계수들을 활용하는 것을 특징으로 하는 측정 장치
18 18
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