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실리콘 나노점 어레이 제조장치 및 그 제조방법과 이를이용한 다중 레벨 실리콘 비휘발성 메모리 제조방법

  • 기술번호 : KST2015194551
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 펄스형 실리콘 원료 가스 주입을 기반으로 고농도의 균일한 실리콘 나노점 어레이를 형성할 수 있도록 하며, 이와 같이 형성되는 고농도의 균일한 실리콘 나노점 어레이와 실리콘 산화물 부도체 층을 교대로 여러층 형성한 부도체 막을 게이트 절연막으로 이용하는 실리콘 나노점 어레이 제조장치 및 그 제조방법과 이를 이용한 다중 레벨 실리콘 비휘발성 메모리 제조방법을 제공한다. 본 발명에 따른 실리콘 나노점 어레이 제조방법은 실리콘 기판을 반응 챔버 내의 기판 홀더에 장착한 후, 상기 반응 챔버 내에 산소가스를 주입하여 상기 실리콘 기판 상에 산화막을 형성하는 제1단계; 상기 반응 챔버 내에 원료가스를 주입하여 상기 산화막에 실리콘 나노점 어레이를 형성하는 제2단계; 및 상기 반응 챔버 내에 원료가스를 반복적으로 주입 및 배기하여 상기 제2단계에서 형성된 실리콘 나노점 어레이를 고농도의 균일한 실리콘 나노점 어레이로 형성하는 제3단계;를 포함한다. 이러한 본 발명은 실리콘 나노점 어레이를 제조함에 있어 반응 가스의 흡입 밸브들과 배기 밸브를 컴퓨터로 제어함으로써, 펄스형 원료 가스 주입이 가능하여 고농도의 균일한 고밀도 실리콘 나노점 어레이를 제조할 수 있는 효과가 있다. 비휘발성 메모리, 실리콘 나노점 어레이, 저압 화학 기상 증착법, 펄스형 원료 가스 주입
Int. CL H01L 21/205 (2006.01.01) H01L 27/115 (2017.01.01) H01L 21/8247 (2006.01.01)
CPC H01L 21/205(2013.01) H01L 21/205(2013.01) H01L 21/205(2013.01)
출원번호/일자 1020060031408 (2006.04.06)
출원인 서울시립대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0708881-0000 (2007.04.11)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20070418) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.04.06)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울시립대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 동대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박경완 대한민국 서울 노원구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이원희 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 성지하이츠빌딩*차 ***호 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울시립대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 동대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.04.06 수리 (Accepted) 1-1-2006-0241063-17
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2006.11.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2006.12.05 수리 (Accepted) 9-1-2006-0081732-98
4 등록결정서
Decision to grant
2007.02.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0074754-55
5 출원인코드정정신청서
Request for Correction of Applicant Code
2007.03.20 수리 (Accepted) 1-1-2007-0219781-43
6 보정요구서
Request for Amendment
2007.03.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2007-0034457-19
7 서지사항보정서
Amendment to Bibliographic items
2007.03.26 수리 (Accepted) 1-1-2007-0236163-91
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.01.05 수리 (Accepted) 4-1-2011-5002044-04
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.03 수리 (Accepted) 4-1-2014-0000287-10
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.01.17 수리 (Accepted) 4-1-2017-5009116-18
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.09.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5191631-69
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
각종 가스 주입을 위한 밸브가 구비된 가스 흡입부; 상기 가스 흡입부를 통해 주입되는 가스가 반응 챔버 내의 기판 홀더에 장착된 실리콘 기판에 반응하도록 된 반응부; 및 배기 밸브를 통해 상기 반응부 내의 가스를 배기함과 더불어 반응부 내의 압력제어를 위한 가스 배기부;를 구비하여 저압 화학 기상 증착법으로 실리콘 나노점 어레이를 형성하는 실리콘 나노점 어레이 제조장치에 있어서, 상기 가스 흡입부 및 가스 배기부의 각종 밸브의 개폐를 제어하여 상기 반응 챔버 내에 기 정해진 시간 동안 원료가스를 주입하여 실리콘 기판에 반응시킨 후, 원료가스의 주입을 차단함과 동시에 배기 밸브를 통해 반응 챔버 내의 반응가스를 제거하는 펄스형 가스 주입을 반복적으로 수행하여 상기 실리콘 기판에 형성되는 실리콘 나노점 어레이의 집적도와 크기를 제어하는 콘트롤러를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 실리콘 나노점 어레이 제조장치
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 반복적으로 수행되는 펄스형 가스 주입시마다 상이한 원료가스를 이용하는 것을 특징으로 하는 실리콘 나노점 어레이 제조장치
3 3
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 원료가스는 SiH4 또는 SiF4 또는 SiCl4 또는 Si2H6 또는 Si3H8 또는 SiH2Cl2인 것을 특징으로 하는 실리콘 나노점 어레이 제조장치
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 원료가스의 주입시간은 수초 인 것을 특징으로 하는 실리콘 나노점 어레이 제조장치
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 콘트롤러는 상기 실리콘 나노점 어레이의 집적도와 크기를 상기 반응 챔버 내의 압력, 원료가스의 주입시간, 반응 챔버 내의 온도, 반응가스의 유량 변화를 바탕으로 제어하는 것을 특징으로 하는 실리콘 나노점 어레이 제조장치
6 6
저압 화학 기상 증착법으로 실리콘 나노점 어레이를 제조하는 방법에 있어서, 실리콘 기판을 반응 챔버 내의 기판 홀더에 장착한 후, 상기 반응 챔버 내에 산소가스를 주입하여 상기 실리콘 기판 상에 산화막을 형성하는 제1단계; 상기 반응 챔버 내에 원료가스를 주입하여 상기 산화막에 실리콘 나노점 어레이를 형성하는 제2단계; 및 상기 반응 챔버 내에 원료가스를 반복적으로 주입 및 배기하여 상기 제2단계에서 형성된 실리콘 나노점 어레이를 고농도의 균일한 실리콘 나노점 어레이로 형성하는 제3단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 실리콘 나노점 어레이 제조방법
7 7
제 6 항에 있어서, 상기 원료가스는 SiH4 또는 SiF4 또는 SiCl4 또는 Si2H6 또는 Si3H8 또는 SiH2Cl2인 것을 특징으로 하는 실리콘 나노점 어레이 제조방법
8 8
제 6 항에 있어서, 상기 원료가스는 수초 동안 주입되는 것을 특징으로 하는 실리콘 나노점 어레이 제조방법
9 9
제 6 항에 있어서, 상기 제3단계에 이용되는 원료가스는 상기 제2단계에서 이용되는 원료가스와 다른 종류의 원료가스 및 혼합가스를 사용하여 상기 제2단계에서 성장된 나노점 어레이의 지속 성장을 억제하고 새로운 실리콘 나노점 핵생성을 유도하는 것을 특징으로 하는 실리콘 나노점 어레이 제조방법
10 10
제 6 항에 있어서, 상기 제2단계에서의 실리콘 나노점 어레이 형성을 위해 상기 실리콘 기판의 온도를 450 ~ 550 ℃, 상기 반응 챔버 내의 압력을 수 Torr로 유지하는 것을 특징으로 하는 실리콘 나노점 어레이 제조방법
11 11
제 6 항에 있어서, 상기 제3단계에서의 고농도의 균일한 실리콘 나노점 어레이 형성을 위해 상기 실리콘 기판의 온도를 400 ~ 500℃로 유지하는 것을 특징으로 하는 실리콘 나노점 어레이 제조방법
12 12
제 6 항에 있어서, 상기 제3단계에서 상기 반응 챔버 내에 반복적으로 주입되는 원료가스는 각 주입시마다 서로 상이한 것을 특징으로 하는 실리콘 나노점 어레이 제조방법
13 13
실리콘 기판을 반응 챔버 내의 기판 홀더에 장착한 후, 상기 반응 챔버 내에 산소가스를 주입하여 상기 실리콘 기판 상에 산화막을 형성하는 제1단계; 상기 반응 챔버 내에 원료가스를 주입하여 상기 산화막에 실리콘 나노점 어레이를 형성하는 제2단계; 상기 반응 챔버 내에 원료가스를 반복적으로 주입 및 배기하여 상기 제2단계에서 형성된 실리콘 나노점 어레이를 고농도의 균일한 실리콘 나노점 어레이로 형성하는 제3단계; 상기 고농도의 균일한 실리콘 나노점 어레이에 실리콘 산화물 박막을 형성하는 제4단계; 상기 제2단계 내지 제4단계를 반복적으로 수행하여 다층 실리콘 산화물 절연층을 형성하는 제5단계; 및 상기 다층 실리콘 산화물 절연층 상에 게이트 전극을 형성하는 제6단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 레벨 실리콘 비휘발성 메모리 제조방법
14 14
제 13 항에 있어서, 상기 원료가스는 SiH4 또는 SiF4 또는 SiCl4 또는 Si2H6 또는 Si3H8 또는 SiH2Cl2인 것을 특징으로 하는 다중 레벨 실리콘 비휘발성 메모리 제조방법
15 15
제 13 항에 있어서, 상기 제3단계에 이용되는 원료가스는 상기 제2단계에서 이용되는 원료가스와 다른 종류의 원료가스 및 혼합가스를 사용하여 상기 제2단계에서 성장된 나노점 어레이의 지속 성장을 억제하고 새로운 실리콘 나노점 핵생성을 유도하는 것을 특징으로 하는 다중 레벨 실리콘 비휘발성 메모리 제조방법
16 16
제 13 항에 있어서, 상기 제3단계에서 상기 반응 챔버 내에 반복적으로 주입되는 원료가스는 각 주입시마다 서로 상이한 것을 특징으로 하는 다중 레벨 실리콘 비휘발성 메모리 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.