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유전 손실값 산출 방법

  • 기술번호 : KST2015194676
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 측정 대상 매질에서 측정된 반사계수를 이용하여 유전 손실값을 산출할 수 있도록 한 유전 손실값 산출 방법에 관한 것으로, 측정 대상 매질의 반사계수를 측정하는 단계; 상기 반사계수로부터 임피던스를 계산하는 단계; 상기 임피던스로부터 각속도를 추출하는 단계; 상기 각속도를 이용하여 상기 측정 대상 매질의 큐(quality factor) 값을 계산하는 단계; 및 상기 큐 값을 이용하여 유전 손실값을 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL G01R 27/26 (2006.01.01) G01R 27/06 (2006.01.01) G01R 1/067 (2006.01.01)
CPC G01R 27/26(2013.01) G01R 27/26(2013.01) G01R 27/26(2013.01)
출원번호/일자 1020100067108 (2010.07.12)
출원인 서울시립대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1059141-0000 (2011.08.18)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20110825) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.07.12)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울시립대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 동대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 천창율 대한민국 서울특별시 영등포구
2 박상복 대한민국 서울특별시 마포구
3 정용식 대한민국 서울특별시 양천구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인아주 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로 ***, **,**층(역삼동, 동희빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울시립대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 동대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2010.07.12 수리 (Accepted) 1-1-2010-0449171-89
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.01.05 수리 (Accepted) 4-1-2011-5002044-04
3 등록결정서
Decision to grant		 2011.08.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0447179-88
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.01.03 수리 (Accepted) 4-1-2014-0000287-10
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2017.01.17 수리 (Accepted) 4-1-2017-5009116-18
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.09.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5191631-69
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번호 청구항
1 1
프로브에 충전되어 있는 측정 대상 매질의 반사계수를 측정하는 단계;상기 반사계수로부터 임피던스를 계산하는 단계;상기 임피던스로부터 각속도를 추출하는 단계;상기 각속도를 이용하여 상기 측정 대상 매질의 큐 팩터(quality factor)를 계산하는 단계; 및상기 큐 팩터를 이용하여 유전 손실값을 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유전 손실값 측정 방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 반사계수를 측정하는 단계는상기 프로브에 전자파를 급전하는 단계; 및상기 프로브로부터 반사되는 반사파로부터 반사계수를 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유전 손실값 측정 방법
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 큐 팩터는상기 측정 대상 매질이 충진되어 있는 공진부의 큐 팩터 값인 것을 특징으로 하는 유전 손실값 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.