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엠에프아이에스형 전계효과 트랜지스터 및 강유전체 메모리 장치와 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2015194832
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 구조가 간단하고 데이터 유지특성이 우수한 MFIS(Metal-Ferroelectric-Insulator-Semiconductor)형 전계효과 트랜지스터 및 강유전체 메모리 장치와 이들의 제조방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 MFIS형 메모리 장치는 기판과, 상기 기판에 형성되는 소스 및 드레인 영역, 상기 소스 영역과 드레인 영역의 사이에 형성되는 채널 영역, 상기 채널 영역에 대응되는 기판의 상측에 형성되는 버퍼층, 상기 버퍼층의 상측에 형성되는 강유전체층, 상기 소스 및 드레인 영역과 강유전체층의 상측에 각각 형성되는 소스 전극, 드레인 전극 및 게이트 전극을 구비하고, 상기 버퍼층은 전기석을 포함하는 물질로 구성되는 것을 특징으로 한다.
Int. CL H01L 27/105 (2006.01)
CPC H01L 27/11502(2013.01) H01L 27/11502(2013.01) H01L 27/11502(2013.01) H01L 27/11502(2013.01)
출원번호/일자 1020110083840 (2011.08.23)
출원인 서울시립대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2013-0021534 (2013.03.06) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.08.22)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울시립대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 동대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박병은 대한민국 서울특별시 양천구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 아이퍼스 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.08.23 수리 (Accepted) 1-1-2011-0652482-14
2 보정요구서
Request for Amendment
2011.09.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2011-0080650-76
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2011.09.09 수리 (Accepted) 1-1-2011-0706195-15
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.03 수리 (Accepted) 4-1-2014-0000287-10
5 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2015.04.13 수리 (Accepted) 1-1-2015-0355881-33
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.08.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-0813470-37
7 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2016.08.22 수리 (Accepted) 1-1-2016-0813471-83
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.01.17 수리 (Accepted) 4-1-2017-5009116-18
9 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.04.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0254213-90
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.06.01 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0525052-78
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.06.01 수리 (Accepted) 1-1-2017-0525051-22
12 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2017.10.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0717107-30
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.09.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5191631-69
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판과,상기 기판에 형성되는 소스 및 드레인 영역,상기 소스 영역과 드레인 영역의 사이에 형성되는 채널 영역,상기 채널 영역에 대응되는 기판의 상측에 형성되는 버퍼층,상기 버퍼층의 상측에 형성되는 강유전체층,상기 소스 및 드레인 영역과 강유전체층의 상측에 각각 형성되는 소스 전극, 드레인 전극 및 게이트 전극을 구비하고,상기 버퍼층은 전기석을 포함하는 물질로 구성되는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 강유전체 메모리 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 버퍼층을 구성하는 물질이 철 또는 영구자석 분말을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 강유전체 메모리 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 강유전체층이 무기물 강유전 물질로 구성되는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 강유전체 메모리 장치
4 4
제3항에 있어서,상기 강유전 물질이 금속을 추가로 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 강유전체 메모리 장치
5 5
제4항에 있어서,상기 금속이 철인 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 강유전체 메모리 장치
6 6
제1항에 있어서,상기 강유전체층이 유기물 강유전 물질로 구성되는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 강유전체 메모리 장치
7 7
제6항에 있어서,상기 강유전 물질이 금속을 추가로 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 강유전체 메모리 장치
8 8
제7항에 있어서,상기 금속이 철인 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 강유전체 메모리 장치
9 9
제1항에 있어서,상기 강유전체층이 무기물 강유전 물질과 유기물 강유전 물질의 혼합물로 구성되는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 강유전체 메모리 장치
10 10
제9항에 있어서,상기 강유전 물질이 금속을 추가로 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 강유전체 메모리 장치
11 11
제10항에 있어서,상기 금속이 철인 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 강유전체 메모리 장치
12 12
기판과,상기 기판에 형성되는 소스 및 드레인 영역,상기 소스 영역과 드레인 영역의 사이에 형성되는 채널 영역,상기 채널 영역에 대응되는 기판의 상측에 형성되는 버퍼층,상기 버퍼층의 상측에 형성되는 강유전체층,상기 소스 및 드레인 영역과 강유전체층의 상측에 각각 형성되는 소스 전극, 드레인 전극 및 게이트 전극을 구비하고,상기 버퍼층은 전기석을 포함하는 물질로 구성되는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 전계효과 트랜지스터
13 13
제12항에 있어서,상기 버퍼층을 구성하는 물질이 철 또는 영구자석 분말을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 전계효과 트랜지스터
14 14
제12항에 있어서,상기 강유전체층이 무기물 강유전 물질, 유기물 강유전 물질, 또는 무기물 강유전 물질과 유기물 강유전 물질의 혼합물 중 적어도 하나를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 전계효과 트랜지스터
15 15
제14항에 있어서,상기 강유전체층이 금속을 추가로 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 전계효과 트랜지스터
16 16
제15항에 있어서,상기 금속이 철인 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 전계효과 트랜지스터
17 17
반도체 기판을 준비하는 단계와,상기 반도체 기판에 소오스 영역, 드레인 영역 및 채널 영역을 형성하는 단계,상기 채널 영역에 대응하는 반도체 기판의 상측에 전기석을 이용하여 버퍼층을 형성하는 단계,상기 버퍼층의 상측에 강유전체층을 형성하는 단계 및,상기 소오스 영역, 드레인 영역 및 강유전체층의 상측에 각각 전극을 형성하는 단계를 구비하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 강유전체 메모리 장치의 제조방법
18 18
제17항에 있어서,상기 버퍼층 형성단계는 전기석 분말을 이용하여 타겟을 형성하는 단계와,스터퍼법을 이용하여 반도체 기판의 상측에 버퍼층을 형성하는 단계를 구비하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 강유전체 메모리 장치의 제조방법
19 19
제17항에 있어서,상기 강유전체층의 형성단계는 무기물 강유전 물질과 유기물 강유전 물질을 혼합하여 혼합 용액을 형성하는 단계와,상기 혼합 용액을 이용하여 강유전체층을 형성하는 단계를 구비하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 강유전체 메모리 장치의 제조방법
20 20
제17항에 있어서,상기 강유전체층의 형성단계는 강유전 물질과 금속을 혼합하여 혼합물을 형성하는 단계와,상기 혼합물을 이용하여 강유전체층을 형성하는 단계를 구비하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 강유전체 메모리 장치의 제조방법
21 21
반도체 기판을 준비하는 단계와,상기 반도체 기판에 소오스 영역, 드레인 영역 및 채널 영역을 형성하는 단계,상기 채널 영역에 대응하는 반도체 기판의 상측에 전기석과 철 또는 영구자석의 혼합물을 이용하여 버퍼층을 형성하는 단계,상기 버퍼층의 상측에 강유전체층을 형성하는 단계 및,상기 소오스 영역, 드레인 영역 및 강유전체층의 상측에 각각 전극을 형성하는 단계를 구비하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 강유전체 메모리 장치의 제조방법
22 22
제21항에 있어서,상기 버퍼층 형성단계는 전기석 분말과 철 또는 영구자석 분말의 혼합물을 이용하여 타겟을 형성하는 단계와,스터퍼법을 이용하여 반도체 기판의 상측에 버퍼층을 형성하는 단계를 구비하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 강유전체 메모리 장치의 제조방법
23 23
제21항에 있어서,상기 강유전체층의 형성단계는 무기물 강유전 물질과 유기물 강유전 물질을 혼합하여 혼합 용액을 형성하는 단계와,상기 혼합 용액을 이용하여 강유전체층을 형성하는 단계를 구비하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 강유전체 메모리 장치의 제조방법
24 24
제21항에 있어서,상기 강유전체층의 형성단계는 강유전 물질과 금속을 혼합하여 혼합물을 형성하는 단계와,상기 혼합물을 이용하여 강유전체층을 형성하는 단계를 구비하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 강유전체 메모리 장치의 제조방법
25 25
반도체 기판을 준비하는 단계와,상기 반도체 기판에 소오스 영역, 드레인 영역 및 채널 영역을 형성하는 단계,상기 채널 영역에 대응하는 반도체 기판의 상측에 전기석을 이용하여 버퍼층을 형성하는 단계,상기 버퍼층의 상측에 강유전체층을 형성하는 단계 및,상기 소오스 영역, 드레인 영역 및 강유전체층의 상측에 각각 전극을 형성하는 단계를 구비하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 전계효과 트랜지스터의 제조방법
26 26
반도체 기판을 준비하는 단계와,상기 반도체 기판에 소오스 영역, 드레인 영역 및 채널 영역을 형성하는 단계,상기 채널 영역에 대응하는 반도체 기판의 상측에 전기석과 철 또는 영구자석의 혼합물을 이용하여 버퍼층을 형성하는 단계,상기 버퍼층의 상측에 강유전체층을 형성하는 단계 및,상기 소오스 영역, 드레인 영역 및 강유전체층의 상측에 각각 전극을 형성하는 단계를 구비하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엠에프아이에스형 전계효과 트랜지스터의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.