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위성레이더 간섭도의 이온왜곡 보정방법 및 그 장치

  • 기술번호 : KST2015194922
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 위성레이더 간섭도의 이온왜곡 보정방법 및 그 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 위성레이더 간섭도의 이온층 왜곡 위상과 MAI 간섭도의 위상이 선형관계임을 이용하여 위성레이더 영상에 나타나는 이온층 왜곡현상을 보다 효과적으로 제거하기 위한 방법 및 그 장치에 관한 것이다.이를 위해, 본 발명에 따른 위성레이더 간섭도의 이온왜곡 보정방법은 MAI 간섭도 제작 단계, MAI 간섭도 정합단계, 변환 MAI 간섭도 제작단계, 이온왜곡 간섭도 제작단계 및 보정된 위성레이더 간섭도 획득단계를 포함한다.한편 본 발명에 따른 위성레이더 간섭도의 이온왜곡 보정장치는 전방관측 레이더 간섭도 제작부, 후방관측 레이더 간섭도 제작부, 위성레이더 간섭도 제작부, MAI 간섭도 제작부, MAI 간섭도 정합부, 변환 MAI 간섭도 제작부, 이온왜곡 간섭도 제작부 및 보정 위성레이더 간섭도 획득부를 포함한다.본 발명은 현재까지 위성레이더 간섭도에 나타나는 이온왜곡을 보정하기 위하여 요구되는 정밀도를 만족하는 방법이 개발되기 어려웠던 단점을 극복하기 위해 안출된 것으로, 지진 및 화산에 의한 지표변위관측, 산사태관측, 수목고도관측, 지반침하관측 등과 같은 다양한 재해분야에 활용되어 향상된 결과를 얻을 수 있다.
Int. CL G01S 13/90 (2006.01) G01S 13/88 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020120156644 (2012.12.28)
출원인 서울시립대학교 산학협력단, 대한민국(국민안전처 국립재난안전연구원장)
등록번호/일자 10-1490981-0000 (2015.02.02)
공개번호/일자 10-2014-0086320 (2014.07.08) 문서열기
공고번호/일자 (20150209) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.12.28)
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울시립대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 동대문구
2 대한민국(행정안전부 국립재난안전연구원장) 대한민국 울산광역시 중구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정형섭 대한민국 서울 동작구
2 이동택 대한민국 경기도 수원시 영통구
3 종루 미국 미합중국 워싱턴주 ***** 벤쿠버
4 원중선 대한민국 경기 고양시 일산서구
5 박영진 대한민국 서울특별시 마포구
6 최재원 대한민국 서울특별시 마포구
7 구신회 대한민국 서울특별시 마포구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 에이치엠피 대한민국 서울특별시 중구 세종대로*길 **, *층 (서소문동, 부영빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울시립대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 동대문구
2 대한민국(행정안전부 국립재난안전연구원장) 대한민국 울산광역시 중구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.12.28 수리 (Accepted) 1-1-2012-1091537-47
2 보정요구서
Request for Amendment
2013.01.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2013-0001207-57
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2013.01.30 수리 (Accepted) 1-1-2013-0090128-19
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2013-5058268-38
5 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2013.10.16 수리 (Accepted) 1-1-2013-0934230-32
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.03 수리 (Accepted) 4-1-2014-0000287-10
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.02.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0135399-45
8 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2014.04.25 수리 (Accepted) 1-1-2014-0396227-64
9 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2014.05.26 수리 (Accepted) 1-1-2014-0490570-93
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.06.24 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0587834-93
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.06.24 수리 (Accepted) 1-1-2014-0587827-73
12 등록결정서
Decision to grant
2014.11.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0799720-05
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.03 수리 (Accepted) 4-1-2015-5026945-15
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.04.06 수리 (Accepted) 4-1-2016-0022689-34
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.01.17 수리 (Accepted) 4-1-2017-5009116-18
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.05.26 수리 (Accepted) 4-1-2017-5079562-32
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.08.23 수리 (Accepted) 4-1-2017-5134668-08
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.02.20 수리 (Accepted) 4-1-2018-5029668-02
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.09.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5191631-69
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.25 수리 (Accepted) 4-1-2020-5141637-40
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번호 청구항
1 1
SAR(Synthetic Aperture Radar) 위성레이더 간섭도를 이용하여 MAI(multiple aperture SAR interferometry) 간섭도를 제작하는 MAI 간섭도 제작단계;상기 MAI 간섭도의 위상을 이용하여 이온층 왜곡위상의 방위방향 미분치를 나타내는 변환 MAI 간섭도를 제작하는 변환 MAI 간섭도 제작단계;상기 변환 MAI 간섭도를 이용하여 이온왜곡 간섭도를 제작하는 단계; 및상기 위성레이더 간섭도에서 상기 제작된 이온왜곡 간섭도를 제거하여 보정된 위성레이더 간섭도를 획득하는 단계;를 포함하는 위성레이더 간섭도의 이온왜곡 보정방법
2 2
제1항에 있어서,상기 MAI 간섭도 제작단계 이후에 상기 위성레이더 간섭도의 위치와 상기 MAI 간섭도의 위치를 정합하는 MAI 간섭도 정합단계;를 더 포함하고,상기 변환 MAI 간섭도 제작단계는상기 MAI 간섭도의 위상과 상기 위성레이더 간섭도의 위상에 대한 방위방향 미분치 간의 선형관계를 이용하여 상기 변환 MAI 간섭도의 위상을 제작하는 것을 특징으로 하는 위성레이더 간섭도의 이온왜곡 보정방법
3 3
제1항에 있어서,상기 MAI 간섭도 제작단계는위성레이더 간섭도의 전방관측 레이더 간섭도와 후방관측 레이더 간섭도의 위상차를 이용하여 제작하는 것을 특징으로 하는 위성레이더 간섭도의 이온왜곡 보정방법
4 4
제3항에 있어서,상기 MAI 간섭도 제작단계는SAR 센서가 한 목표물을 촬영한 횟수 중 빔의 중심의 전방에서 관측된 횟수만을 압축하여 전방관측 SAR 영상을 제작하고, 이러한 전방관측 SAR 영상을 두 번 관측하여 계산된 위상차로부터 제작된 전방관측 레이더 간섭도와 SAR 센서가 한 목표물을 촬영한 횟수 중 빔의 중심의 후방에서 관측된 횟수만을 압축하여 후방관측 SAR 영상을 제작하고, 이러한 후방관측 SAR 영상을 두 번 관측하여 계산된 위상차로부터 제작된 후방관측 레이더 간섭도를 이용하여 제작하는 것을 특징으로 하는 위성레이더 간섭도의 이온왜곡 보정방법
5 5
제1항에 있어서,상기 이온왜곡 간섭도를 제작하는 단계는상기 변환 MAI 간섭도를 방위방향으로 적분하여 제작하는 것을 특징으로 하는 위성레이더 간섭도의 이온왜곡 보정방법
6 6
제5항에 있어서,상기 이온왜곡 간섭도를 제작하는 단계는적분상수를 0으로 가정하고 초기 이온왜곡 간섭도를 제작하는 단계;상기 위성레이더 간섭도와 상기 초기 이온왜곡 간섭도의 차로부터 오차 간섭도를 제작하는 단계;상기 방위방향으로 상기 오차 간섭도의 평균을 구하여 거리방향에 따른 초기 적분상수를 계산하는 단계;상기 초기 적분상수에서 불연속적인 위치를 찾아 보정 적분상수를 계산하는 단계; 및상기 초기 이온왜곡 간섭도에 상기 보정 적분상수를 더하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 위성레이더 간섭도의 이온왜곡 보정방법
7 7
제5항에 있어서,상기 이온왜곡 간섭도를 제작하는 단계는상기 위성레이더 간섭도와 상기 이온왜곡 간섭도 간에 상관성을 지닌다는 가정하에 결정되는 적분상수를 이용하여 적분하는 것을 특징으로 하는 위성레이더 간섭도의 이온왜곡 보정방법
8 8
제1항 내지 제7항 중 어느 한 항의 방법을 실행하는 프로그램을 기록한 기록매체
9 9
SAR(Synthetic Aperture Radar) 위성레이더 간섭도를 이용하여 MAI(multiple aperture SAR interferometry) 간섭도를 제작하는 MAI 간섭도 제작부;상기 MAI 간섭도의 위상을 이용하여 이온층 왜곡위상의 방위방향 미분치를 나타내는 변환 MAI 간섭도를 제작하는 변환 MAI 간섭도 제작부;상기 변환 MAI 간섭도를 이용하여 이온왜곡 간섭도를 제작하는 이온왜곡 간섭도 제작부; 및상기 위성레이더 간섭도에서 상기 제작된 이온왜곡 간섭도를 제거하여 보정된 위성레이더 간섭도를 획득하는 보정 위성레이더 간섭도 획득부;를 포함하는 위성레이더 간섭도의 이온왜곡 보정 장치
10 10
제9항에 있어서,상기 위성레이더 간섭도의 위치와 상기 MAI 간섭도의 위치를 정합하는 MAI 간섭도 정합부;를 더 포함하고,상기 변환 MAI 간섭도 제작부는상기 MAI 간섭도의 위상과 상기 위성레이더 간섭도의 위상에 대한 방위방향 미분치 간의 선형관계를 이용하여 상기 변환 MAI 간섭도의 위상을 제작하는 것을 특징으로 하는 위성레이더 간섭도의 이온왜곡 보정 장치
11 11
제9항에 있어서,전방관측 레이더 간섭도와 후방관측 레이더 간섭도를 제작하는 위성레이더 간섭도 제작부;를 더 포함하고,상기 MAI 간섭도 제작부는상기 위성레이더 간섭도 제작부에서 제작된 전방관측 레이더 간섭도와 후방관측 레이더 간섭도의 위상차를 이용하여 상기 MAI 간섭도를 제작하는 것을 특징으로 하는 위성레이더 간섭도의 이온왜곡 보정 장치
12 12
제11항에 있어서,상기 위성레이더 간섭도 제작부는SAR 센서가 한 목표물을 촬영한 횟수 중 빔의 중심의 전방에서 관측된 횟수만을 압축하여 전방관측 SAR 영상을 제작하고, 이러한 전방관측 SAR 영상을 두 번 관측하여 계산된 위상차로부터 전방관측 레이더 간섭도를 제작하는 전방관측 레이더 간섭도 제작부; 및SAR 센서가 한 목표물을 촬영한 횟수 중 빔의 중심의 후방에서 관측된 횟수만을 압축하여 후방관측 SAR 영상을 제작하고, 이러한 후방관측 SAR 영상을 두 번 관측하여 계산된 위상차로부터 후방관측 레이더 간섭도를 제작하는 후방관측 레이더 간섭도 제작부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 위성레이더 간섭도의 이온왜곡 보정 장치
13 13
제9항에 있어서,상기 이온왜곡 간섭도 제작부는상기 변환 MAI 간섭도를 방위방향으로 적분하여 제작하는 것을 특징으로 하는 위성레이더 간섭도의 이온왜곡 보정 장치
14 14
제13항에 있어서,상기 이온왜곡 간섭도 제작부는적분상수를 0으로 가정하고 초기 이온왜곡 간섭도를 제작하고, 상기 위성레이더 간섭도와 상기 초기 이온왜곡 간섭도의 차로부터 오차 간섭도를 제작하고, 상기 방위방향으로 상기 오차 간섭도의 평균을 구하여 거리방향에 따른 초기 적분상수를 계산하고, 상기 초기 적분상수에서 불연속적인 위치를 찾아 보정 적분상수를 계산하고, 상기 초기 이온왜곡 간섭도에 상기 보정 적분상수를 더하여 상기 이온왜곡 간섭도를 제작하는 것을 특징으로 하는 위성레이더 간섭도의 이온왜곡 보정 장치
15 15
제13항에 있어서,상기 이온왜곡 간섭도 제작부는상기 위성레이더 간섭도와 상기 이온왜곡 간섭도 간에 상관성을 지닌다는 가정하에 결정되는 적분상수를 이용하여 적분하는 것을 특징으로 하는 위성레이더 간섭도의 이온왜곡 보정 장치
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2 JP28507735 JP 일본 FAMILY
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4 US20150369913 US 미국 FAMILY
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1 JP2016507735 JP 일본 DOCDBFAMILY
2 JP6106285 JP 일본 DOCDBFAMILY
3 US2015369913 US 미국 DOCDBFAMILY
4 US9971030 US 미국 DOCDBFAMILY
5 WO2014104550 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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