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테라헤르츠 전자기파를 이용한 이미징 장치 및 이미징 방법

  • 기술번호 : KST2015195151
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 FOCUSS 알고리듬을 이용하여 이미지를 재구성하는 테라헤르츠 전자기파를 이용한 이미징 장치 및 이미징 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 압축 센싱을 하여 샘플 영상 정보를 얻으므로 대상체의 스캐닝에 소요되는 시간을 단축시킬 수 있으며, FOCUSS 알고리듬을 이용하여 샘플 영상 정보로부터 이미지를 재구성하므로 정확한 이미지를 재구성할 수 있다.
Int. CL G01N 21/3581 (2014.01.01) G01N 21/17 (2006.01.01)
CPC G01N 21/3581(2013.01) G01N 21/3581(2013.01)
출원번호/일자 1020100100211 (2010.10.14)
출원인 광운대학교 산학협력단, 서울시립대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1149353-0000 (2012.05.17)
공개번호/일자 10-2012-0038651 (2012.04.24) 문서열기
공고번호/일자 (20120530) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.10.14)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 광운대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 노원구
2 서울시립대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 동대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 안창범 대한민국 서울특별시 송파구
2 박호종 대한민국 서울특별시 강남구
3 손주혁 대한민국 서울특별시 강남구
4 조상흠 대한민국 경기도 양주시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인지명 대한민국 서울특별시 강남구 남부순환로**** 차우빌딩*층

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 광운대학교 산학협력단 서울특별시 노원구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2010.10.14 수리 (Accepted) 1-1-2010-0663589-13
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.01.05 수리 (Accepted) 4-1-2011-5002044-04
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.01.17 수리 (Accepted) 4-1-2011-5009922-84
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2011-5173743-65
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2011.10.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2011.11.18 수리 (Accepted) 9-1-2011-0091027-69
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2011.12.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0724305-10
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2012.01.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0041609-07
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2012.01.17 수리 (Accepted) 1-1-2012-0041608-51
10 등록결정서
Decision to grant		 2012.05.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0278241-36
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.01.03 수리 (Accepted) 4-1-2014-0000287-10
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.06.03 수리 (Accepted) 4-1-2014-5067673-62
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2015-5074994-12
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2016.05.09 수리 (Accepted) 4-1-2016-5056854-41
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2017.01.17 수리 (Accepted) 4-1-2017-5009116-18
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2017.03.27 수리 (Accepted) 4-1-2017-5046666-19
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.09.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5191631-69
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
테라헤르츠 전자기파를 대상체에 조사하는 조사부; 상기 대상체에서 반사되는 테라헤르츠 전자기파를 검출하여 전기적 신호를 생성하는 검출부; 및 상기 검출부가 생성한 전기적 신호로부터 이미지를 생성하는 제어부를 포함하되, 상기 제어부는 이미지 생성 프로그램; 상기 이미지 생성 프로그램을 저장하는 메모리; 및 상기 이미지 생성 프로그램을 실행하는 프로세서를 포함하며,상기 이미지 생성 프로그램은 상기 이미지를 생성하고자 하는 이미징 영역에 대한 압축 센싱을 수행하여 샘플 영상 정보를 획득하는 제1 인스트럭션; 상기 이미징 영역을 제1 내지 제N 블록 영역으로 분할하는 제2 인스트럭션; 상기 샘플 영상 정보를 제1 내지 제N 블록 영역에 대응하는 제1 내지 제N 샘플 영상 정보로 구분하는 제3 인스트럭션; FOCUSS 알고리듬을 이용하여 상기 제1 내지 제N 샘플 영상 정보로부터 상기 제1 내지 제N 블록 영역에 대한 제1 내지 제N 재구성 영상 정보를 각각 생성하는 제4 인스트럭션; 및상기 제1 내지 제N 재구성 영상 정보로부터 상기 이미지를 생성하는 제5 인스트럭션을 포함하는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 이미징 장치(단, N은 2 이상의 자연수)
2 2
제1항에 있어서,상기 제1 인스트럭션은압축률을 설정하는 제1-1 서브인스트럭션;상기 압축률에 따라 샘플 좌표를 설정하는 제1-2 서브인스트럭션;상기 샘플 좌표에 상기 테라헤르츠 전자기파를 조사하는 제1-3 서브인스트럭션;상기 샘플 좌표로부터 반사된 테라헤르츠 전자기파로부터 전기적 신호를 생성하는 제1-4 서브인스트럭션; 및상기 전기적 신호로부터 상기 샘플 영상 정보를 생성하는 제1-5 서브인스트럭션을 포함하는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 이미징 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 제2 인스트럭션은블록 크기를 설정하는 제2-1 서브인스트럭션; 및상기 블록 크기에 따라 상기 이미징 영역을 제1 내지 제N 블록 영역으로 분할하는 제2-2 서브인스트럭션을 포함하는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 이미징 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 제2 인스트럭션은 상기 이미징 영역을 부분적으로 오버래핑되는 상기 제1 내지 제N 블록 영역으로 분할하는 인스트럭션을 포함하는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 이미징 장치
5 5
제4항에 있어서,상기 제5 인스트럭션은상기 제1 내지 제N 재구성 영상 정보 중, 부분적으로 오버래핑되는 제M 및 제(M+1) 블록 영역의 제M 및 제(M+1) 재구성 영상 정보의 픽셀값을 각각 추출하는 제5-1 서브인스트럭션;상기 제M 및 제(M+1) 재구성 영상 정보의 픽셀값 중 상기 제M 및 제(M+1) 블록 영역의 교차 영역에 대응하는 픽셀값의 산술 평균을 구하는 제5-2 서브인스트럭션; 및상기 산술 평균과 상기 제1 내지 제N 재구성 영상 정보를 기초로 상기 이미지를 생성하는 제5-3 서브인스트럭션을 포함하는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 이미징 장치(단, M은 자연수이며, 1≤M003c#N을 만족함)
6 6
제4항에 있어서,상기 제5 인스트럭션은상기 제1 내지 제N 재구성 영상 정보 중, 부분적으로 오버래핑되는 제L, 제(L+1), 제M 및 제(M+1) 블록 영역의 제L, 제(L+1), 제M 및 제(M+1) 재구성 영상 정보의 픽셀값을 각각 추출하는 제5-1 서브인스트럭션;상기 제L, 제(L+1), 제M 및 제(M+1) 재구성 영상 정보의 픽셀값 중 상기 제L, 제(L+1), 제M 및 제(M+1) 블록 영역의 교차 영역에 대응하는 픽셀값의 산술 평균을 구하는 제5-2 서브인스트럭션; 및상기 산술 평균과 상기 제1 내지 제N 재구성 영상 정보를 기초로 상기 이미지를 생성하는 제5-3 서브인스트럭션을 포함하는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 이미징 장치(단, M 및 L은 자연수이며, 1≤M003c#N, 1≤L003c#N을 만족함)
7 7
테라헤르츠 전자기파를 대상체에 조사하는 조사부; 상기 대상체에서 반사되는 테라헤르츠 전자기파를 검출하여 전기적 신호를 생성하는 검출부; 및 상기 검출부가 생성한 전기적 신호로부터 이미지를 생성하는 제어부를 포함하는 테라헤르츠 이미징 장치를 이용한 이미징 방법에 있어서,(a) 상기 이미지를 생성하고자 하는 이미징 영역에 대한 압축 센싱을 수행하여 샘플 영상 정보를 획득하는 단계;(b) 상기 이미징 영역을 제1 내지 제N 블록 영역으로 분할하는 단계;(c) 상기 샘플 영상 정보를 제1 내지 제N 블록 영역에 대응하는 제1 내지 제N 샘플 영상 정보로 구분하는 단계;(d) FOCUSS 알고리듬을 이용하여 상기 제1 내지 제N 샘플 영상 정보로부터 상기 제1 내지 제N 블록 영역에 대한 제1 내지 제N 재구성 영상 정보를 각각 생성하는 단계; 및(e) 상기 제1 내지 제N 재구성 영상 정보로부터 상기 이미지를 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 이미징 방법(단, N은 2 이상의 자연수)
8 8
제7항에 있어서,상기 (a) 단계는(a-1) 압축률을 설정하는 단계;(a-2) 상기 압축률에 따라 샘플 좌표를 설정하는 단계;(a-3) 상기 샘플 좌표에 상기 테라헤르츠 전자기파를 조사하는 단계;(a-4) 상기 샘플 좌표로부터 반사된 테라헤르츠 전자기파로부터 전기적 신호를 생성하는 단계; 및(a-5) 상기 전기적 신호로부터 상기 샘플 영상 정보를 각각 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 이미징 방법
9 9
제7항에 있어서,상기 (b) 단계는(b-1) 블록 크기를 설정하는 단계; 및(b-2) 상기 블록 크기에 따라 상기 이미징 영역을 제1 내지 제N 블록 영역으로 분할하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 이미징 방법
10 10
제7항에 있어서,상기 (b) 단계는 상기 이미징 영역을 부분적으로 오버래핑되는 상기 제1 내지 제N 블록 영역으로 분할하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 이미징 방법
11 11
제10항에 있어서,상기 (e) 단계는(e-1) 상기 제1 내지 제N 재구성 영상 정보 중, 부분적으로 오버래핑되는 제M 및 제(M+1) 블록 영역의 제M 및 제(M+1) 재구성 영상 정보의 픽셀값을 각각 추출하는 단계;(e-2) 상기 제M 및 제(M+1) 재구성 영상 정보의 픽셀값 중 상기 제M 및 제(M+1) 블록 영역의 교차 영역에 대응하는 픽셀값의 산술 평균을 구하는 단계; 및(e-3) 상기 산술 평균과 상기 제1 내지 제N 재구성 영상 정보를 기초로 상기 이미지를 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 이미징 방법(단, M은 자연수이며, 1≤M003c#N을 만족함)
12 12
제10항에 있어서, 상기 (e) 단계는(e-1) 상기 제1 내지 제N 재구성 영상 정보 중, 부분적으로 오버래핑되는 제L, 제(L+1), 제M 및 제(M+1) 블록 영역의 제L, 제(L+1), 제M 및 제(M+1) 재구성 영상 정보의 픽셀값을 각각 추출하는 단계;(e-2) 상기 제L, 제(L+1), 제M 및 제(M+1) 재구성 영상 정보의 픽셀값 중 상기 제L, 제(L+1), 제M 및 제(M+1) 블록 영역의 교차 영역에 대응하는 픽셀값의 산술 평균을 구하는 단계; 및(e-3) 상기 산술 평균과 상기 제1 내지 제N 재구성 영상 정보를 기초로 상기 이미지를 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 이미징 방법(단, M 및 L은 자연수이며, 1≤M003c#N, 1≤L003c#N을 만족함)
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1 교육과학기술부 서울대학교 선도연구센터육성사업 (ERC) T-ray 단층촬영