맞춤기술찾기

이전대상기술

평판 디스플레이의 조도 측정 장치

  • 기술번호 : KST2015195160
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 박막 트랜지스터 하부에 형성되어 후면 광원으로부터 방출된 빛을 검출하는 광 검출부 및 광 검출부로부터 흐르는 광 전류를 측정하는 광 전류 측정부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL G02F 1/13 (2006.01) H01L 31/10 (2006.01)
CPC G02F 1/1309(2013.01) G02F 1/1309(2013.01) G02F 1/1309(2013.01) G02F 1/1309(2013.01)
출원번호/일자 1020110010332 (2011.02.01)
출원인 서울시립대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1197200-0000 (2012.10.29)
공개번호/일자 10-2012-0089139 (2012.08.09) 문서열기
공고번호/일자 (20121102) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.02.01)
심사청구항수 3

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 서울시립대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 동대문구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 홍완식 대한민국 서울특별시 송파구
2 금기수 대한민국 충청남도 계룡시

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 특허법인아주 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로 ***, **,**층(역삼동, 동희빌딩)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 서울시립대학교 산학협력단 서울특별시 동대문구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.02.01 수리 (Accepted) 1-1-2011-0082730-84
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.03.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0185480-83
3 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.05.23 수리 (Accepted) 1-1-2012-0413558-36
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.05.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0413559-82
5 등록결정서
Decision to grant
2012.10.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0625765-99
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.03 수리 (Accepted) 4-1-2014-0000287-10
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.01.17 수리 (Accepted) 4-1-2017-5009116-18
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.09.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5191631-69
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
박막 트랜지스터의 하부에 형성되어 후면 광원으로부터 방출된 빛을 검출하는 광 검출부; 및상기 광 검출부로부터 흐르는 광 전류를 측정하는 광 전류 측정부를 포함하되, 상기 광 검출부는 상기 박막 트랜지스터의 게이트 전극과 접촉되는 P형 반도체층; 상기 P형 반도체층의 하부에 형성되는 진성 반도체층; 상기 진성 반도체층의 하부에 형성되는 N형 반도체층; 및 상기 N형 반도체층의 하부에 형성되는 투명전극을 포함하고, 상기 광 검출부는 상기 박막 트랜지스터의 하부의 유리기판에 매몰되어 상기 P형 반도체층이 상기 게이트 전극과 접합되며, 상기 광 전류 측정부는 상기 광 전류를 상기 박막 트랜지스터의 턴온시 게이트 전극에 흐르는 게이트 전류에서 상기 게이트 전극에 인가된 전류를 빼서 측정하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이의 조도 측정 장치
2 2
삭제
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 P형 반도체층과, 상기 진성 반도체층, 상기 N형 반도체층 및 상기 투명전극의 너비는 동일한 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이의 조도 측정 장치
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 P형 반도체층과, 상기 진성 반도체층, 상기 N형 반도체층 및 상기 투명전극의 너비는 상기 게이트 전극의 너비 보다 적게 형성되는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이의 조도 측정 장치
5 5
삭제
6 6
삭제
7 7
삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.