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광섬유 기반의 센서 시스템에 있어서,한 끝단의 단면에 금속 나노 입자가 배치되는 광섬유를 적어도 하나 이상 구비하는 센서부;상기 센서부에 대하여 단색 파장(λ0)의 입사광을 제공하는 광원; 상기 센서부와 상기 광원 사이에서 빛을 전달시키는 광도파관; 상기 입사광이 상기 금속 나노 입자에 조사되어 상기 센서부에서 방출되는 출력광으로, 상기 출력광은 상기 단색 파장(λ0)에 대응하는 중심 파장(λ1)과, 상기 금속 나노 입자에 의하여 흡수 또는 산란된 파장 성분을 포함하는 출력광을 제공받아 상기 출력광의 중심 파장(λ1) 부분은 반사시키고, 상기 출력광의 나머지 부분은 통과시킴으로써 상기 출력광을 분리시키는 광필터(optical filter); 및 상기 분리된 출력광의 상기 중심 파장(λ1) 부분 및 상기 나머지 부분을 각각 수렴하는 측정부를 포함하되, 상기 반사된 출력광의 중심 파장(λ1) 부분은 국부화 표면 플라즈몬 공명(Localized Surface Plasmon Resonance, LSPR) 분석에 적용하고, 상기 출력광의 나머지 부분을 표면 증강 라만 산란(Surface Enhanced Raman Scattering, SERS) 분석에 적용하는 광섬유 기반의 센서 시스템
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제1 항에 있어서,상기 광필터는 노치 필터 또는 에지 필터인 광섬유 기반의 센서 시스템
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제1 항에 있어서,상기 측정부는 상기 광필터에서 반사되는 상기 출력광의 상기 중심 파장(λ1)부분을 수렴하는 광 검출기 및 상기 광필터를 통과하는 상기 출력광의 상기 나머지 부분을 수렴하는 분광계를 포함하는 광섬유 기반의 센서 시스템
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제4 항에 있어서,상기 광 검출기는 상기 출력광의 상기 중심 파장(λ1) 부분을 국부화 표면 플라즈몬 공명 정량 분석에 적용하고, 상기 분광계는 상기 출력광의 상기 나머지 성분을 표면 증강 라만 산란 정성 분석에 적용하는 광섬유 기반의 센서 시스템
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제5항 있어서,상기 국부화 표면 플라즈몬 공명 정량 분석 및 상기 표면 증강 라만 산란 정성 분석은 상기 단색의 입사광으로부터 동시에 수행되는 광섬유 기반의 센서 시스템
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제1 항에 있어서,상기 금속 나노 입자는 약 50 nm 의 금 나노 입자이며, 상기 금 나노 입자 상에는 표지 물질이 형성되는 광섬유 기반의 센서 시스템
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제1 항에 있어서,상기 센서부는 복수의 광섬유를 포함하며, 상기 복수의 광섬유는 서로 다른 표지 물질이 형성된 복수의 상기 금속 나노 입자를 구비하는 광섬유 기반의 센서 시스템
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광섬유 기반의 센서 시스템을 이용한 광신호 측정 방법에 있어서,(a) 한 끝단의 단면에 금속 나노 입자가 배치되는 광섬유를 적어도 하나 이상 구비하는 센서부를 준비하는 단계;(b) 상기 센서부에 대하여 단색의 입사광을 제공하는 단계;(c) 상기 입사광을 제공받아 상기 금속 나노 입자에 조사하여 상기 센서부에서 방출되는 출력광으로, 상기 출력광은 상기 단색 파장(λ0)에 대응하는 중심파장(λ1)과, 상기 금속 나노 입자에 의하여 흡수 또는 산란된 파장 성분을 포함하는 출력광을 수렴하고, 광필터에 의하여 상기 입사광의 중심 파장에 대응하는 상기 출력광의 중심 파장(λ1) 부분을 반사시키고, 상기 입사광의 상기 중심 파장을 제외하는 나머지 부분을 통과시키는 단계; 및(d) 상기 중심 파장에 대응하는 상기 출력광의 상기 중심 파장(λ1) 부분을 광 검출기를 통하여 수렴하고, 상기 중심 파장을 제외하는 상기 나머지 부분을 분광계를 통하여 수렴하는 단계를 포함하되, 상기 출력광의 상기 중심 파장(λ1) 부분에 대하여 국부화 표면 플라즈몬 공명 신호 측정을 수행하는 과정과 상기 출력광의 상기 나머지 부분에 대하여 표면 증강 라만 산란 신호 측정을 수행하는 과정을 포함하는 광섬유 기반의 센서 시스템을 이용하는 광신호 측정 방법
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제9 항에 있어서,상기 (d)단계에 있어서, 상기 출력광의 상기 중심 파장(λ1) 부분에 대하여 국부화 표면 플라즈몬 공명 신호 측정을 수행하는 과정과, 상기 출력광의 상기 나머지 성분에 대하여 표면 증강 라만 산란 신호 측정을 수행하는 과정은 동시에 수행되는 광신호 측정 방법
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