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유기 감광 장치용 금속 기판의 표면의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015197342
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 금속 기판의 표면을 제조하는 방법이 개시된다. 또한 본 발명은 이러한 방법에 의해 제조된 금속 기판을 포함하는 유기 광기전 장치에 관한 것이다. 또한 본원에 개시된 것은 스테인리스강 포일을 포함하는 반사 전극(110), 이 반사 전극 위의 유기 도너-억셉터 이종접합(115, 120), 및 이 도너-억셉터 이종접합 위의 투명 전극(130)을 포함하는 인버트형(inverted) 감광 장치이다.
Int. CL H01L 51/48 (2006.01) H01L 51/42 (2006.01) H01L 51/00 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020147013869 (2014.05.23)
출원인 더 리젠츠 오브 더 유니버시티 오브 미시간, 단국대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2014-0131906 (2014.11.14) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자 PCT/US2012/063063 (2012.11.01)
국제공개번호/일자 WO2013067181 (2013.05.10)
우선권정보 미국  |   61/554,324   |   2011.11.01
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국제출원
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 20

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 더 리젠츠 오브 더 유니버시티 오브 미시간 미국 미국 ***** 미시간주 앤 아버 세컨드 플로어 휴론 파크웨이 **** 오피스 오브 테크놀로지 트
2 단국대학교 산학협력단 대한민국 경기도 용인시 수지구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 포레스트 스티븐 알 미국 미국 ***** 미시간
2 통 시아오란 중국 미국 ***** 미시
3 이준엽 대한민국 미국 린지
4 조용주 대한민국 미국 린지

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김진회 대한민국 서울특별시 서대문구 충정로 ** (충정로*가, 풍산빌딩) **층(리인터내셔널 특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허법 제203조에 따른 서면
[Patent Application] Document according to the Article 203 of Patent Act
2014.05.23 수리 (Accepted) 1-1-2014-0486248-56
2 보정요구서
Request for Amendment
2014.06.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2014-0091055-81
3 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2014.07.02 수리 (Accepted) 1-1-2014-0622577-19
4 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2014.07.03 수리 (Accepted) 1-1-2014-0627056-16
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2014.08.21 수리 (Accepted) 1-1-2014-0792701-83
6 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2014.10.08 수리 (Accepted) 1-1-2014-0958906-84
7 [대리인사임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Resignation of Agent] Report on Agent (Representative)
2015.01.14 수리 (Accepted) 1-1-2015-0040204-55
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.10.26 수리 (Accepted) 4-1-2020-5239146-54
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번호 청구항
1 1
금속 기판의 표면을 제조하는 방법으로서,(a) 금속 기판을 상부 표면이 노출되도록 강성 지지 구조체에 부착시키는 단계;(b) 상기 금속 기판의 노출된 상부 표면을, 상기 상부 표면의 표면 조도(roughness)를 감소시키기에 충분한 시간 동안 무기 연마 슬러리로 기계적 연마하는 단계; 및(c) 상기 상부 표면 상에 유기 평활화 층을 도포하여 상부 표면이 평탄화된 금속 기판을 형성하는 단계를 포함하는 것인 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 강성 지지 구조체는 벨트, 디스크 또는 플레이트를 포함하는 것인 방법
3 3
제2항에 있어서, 상기 벨트, 디스크 또는 플레이트는 유리, 플라스틱 또는 금속을 포함하는 것인 방법
4 4
제2항에 있어서, 단계 (b)는 연속 공정이며, 상기 강성 지지 구조체는 벨트를 포함하는 것인 방법
5 5
제1항에 있어서, 상기 금속 기판을 상기 유기 층의 도포 이전에 상기 강성 지지 구조체로부터 제거하는 것인 방법
6 6
제1항에 있어서, 상기 금속 기판을 석영 왁스(quartz wax)를 이용하여 상기 강성 지지 구조체에 접합시키는 방법
7 7
제6항에 있어서, 상기 금속 기판을 하나 이상의 용매 중에서 초음파 처리하여 임의의 잔류 석영 왁스를 제거하는 단계를 추가로 포함하는 것인 방법
8 8
제7항에 있어서, 상기 하나 이상의 용매는 크실렌을 포함하는 것인 방법
9 9
제1항에 있어서, 상기 유기 평활화 층은 용액 처리를 통하여 도포하는 것인 방법
10 10
제1항에 있어서, 상기 유기 평활화 층은 폴리(3,4-에틸렌 디옥시티오펜):폴리(스티렌 술포네이트)(PEDOT:PSS)를 포함하는 것인 방법
11 11
제1항에 있어서, 표면 조도를 20 nm 미만으로 감소시키기에 충분한 시간 동안 상기 기계적 연마를 수행하는 것인 방법
12 12
제11항에 있어서, 표면 조도를 감소시키기에 충분한 상기 시간은 15분 ∼ 60분의 범위인 방법
13 13
제1항에 있어서, 상기 금속 기판은 스테인리스강을 포함하는 것인 방법
14 14
스테인리스강 포일을 포함하는 표면 처리된 반사 전극; 상기 반사 전극 위의 유기 도너(donor)-억셉터(acceptor) 이종접합; 및 상기 도너-억셉터 이종접합 위의 투명 전극을 포함하는 인버트형(inverted) 감광 장치
15 15
제14항에 있어서, 유기 도너-억셉터 이종접합의 도너는 프탈로시아닌, 포르피린, 서브프탈로시아닌, 및 이들의 유도체 또는 전이 금속 착체로부터 선택되는 물질을 포함하는 것인 인버트형 감광 장치
16 16
제14항에 있어서, 도너-억셉터 이종접합의 도너는 붕소 서브프탈로시아노닌 클로라이드 또는 구리 프탈로시아닌을 포함하는 것인 인버트형 감광 장치
17 17
제14항에 있어서, 유기 도너-억셉터 이종접합의 억셉터는 중합성 및 비중합성 페릴렌, 중합성 및 비중합성 나프탈렌, 및 중합성 및 비중합성 풀러렌으로부터 선택되는 물질을 포함하는 것인 인버트형 감광 장치
18 18
제14항에 있어서, 유기 도너-억셉터 이종접합의 억셉터는 C60 또는 3,4,9,10-페릴렌테트라카르복실산 비스-벤즈이미다졸을 포함하는 것인 인버트형 감광 장치
19 19
제14항에 있어서, 투명 전극은 주위 전자기 방사선의 약 50% 이상이 상기 전극을 통하여 투과되는 것을 허용하는 것인 인버트형 감광 장치
20 20
제14항에 있어서, 여기자(exciton) 차단층을 추가로 포함하는 것인 인버트형 감광 장치
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN104247069 CN 중국 FAMILY
2 EP02777084 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
3 JP27501226 JP 일본 FAMILY
4 US09130170 US 미국 FAMILY
5 US20130105779 US 미국 FAMILY
6 WO2013067181 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 AU2012332439 AU 오스트레일리아 DOCDBFAMILY
2 AU2016201795 AU 오스트레일리아 DOCDBFAMILY
3 CA2854161 CA 캐나다 DOCDBFAMILY
4 CN104247069 CN 중국 DOCDBFAMILY
5 EP2777084 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
6 HK1201636 HK 홍콩 DOCDBFAMILY
7 IL232417 IL 이스라엘 DOCDBFAMILY
8 JP2015501226 JP 일본 DOCDBFAMILY
9 TW201342678 TW 대만 DOCDBFAMILY
10 US2013105779 US 미국 DOCDBFAMILY
11 US9130170 US 미국 DOCDBFAMILY
12 WO2013067181 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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