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고체 시료 분석 장치

  • 기술번호 : KST2015197411
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 개시된 고체 시료 분석 장치는 고체 시료로 레이저를 조사함에 의해 상기 고체 시료로부터 입자를 방출시키는 레이저 조사부와, 상기 고체 시료로부터 방출되는 입자를 플라즈마로 생성하기 위한 플라즈마 생성부 및 상기 플라즈마 생성부와 연결되고, 상기 플라즈마로 생성된 상기 고체 시료의 입자 상태를 분석하는 분석부를 포함한다. 특히, 상기 플라즈마 생성부를 매우 작게 형성할 수 있기 때문에 상기 분석 장치 또한 매우 작게 만들 수 있다.
Int. CL G01N 21/88 (2006.01) G01N 21/00 (2006.01)
CPC G01N 21/00(2013.01) G01N 21/00(2013.01) G01N 21/00(2013.01) G01N 21/00(2013.01) G01N 21/00(2013.01)
출원번호/일자 1020080044327 (2008.05.14)
출원인 단국대학교 산학협력단, 램테크놀러지 주식회사
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2009-0118501 (2009.11.18) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.05.14)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 단국대학교 산학협력단 대한민국 경기도 용인시 수지구
2 램테크놀러지 주식회사 대한민국 경기도 용인시 처인구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 임흥빈 대한민국 경기 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박영우 대한민국 서울특별시 강남구 논현로 ***, *층 **세기특허법률사무소 (역삼동, 세일빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.05.14 수리 (Accepted) 1-1-2008-0340095-81
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.07.09 수리 (Accepted) 4-1-2008-5111212-19
3 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2008.09.22 수리 (Accepted) 1-1-2008-0662286-68
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2008-5187354-97
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.04.17 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.05.14 수리 (Accepted) 9-1-2009-0029090-89
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.02.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0055985-98
8 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2010.04.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0157397-10
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.07 수리 (Accepted) 4-1-2012-5047629-25
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.06 수리 (Accepted) 4-1-2014-0000870-18
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.03.27 수리 (Accepted) 4-1-2014-0043830-44
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.10.26 수리 (Accepted) 4-1-2020-5239146-54
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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고체 시료로 레이저를 조사함에 의해 상기 고체 시료로부터 입자를 방출시키는 레이저 조사부; 상기 고체 시료로부터 방출되는 입자를 플라즈마로 생성하기 위하여, 상기 레이저 조사부와 연결되어 상기 고체 시료로부터 방출되는 시료를 제공받는 제1 유로를 갖는 내부관과 상기 내부관을 수납함에 의해 그 사이에 형성됨으로써 상기 내부관의 길이 방향에 대하여 수직 흐름(tangential flow)으로 냉각 가스를 제공받는 외부관을 구비하는 도입부와, 상기 도입부 내부관의 제1 유로와 연결되고, 상기 제1 유로를 통하여 제공되는 상기 고체 시료로부터 방출되는 시료를 플라즈마로 생성하는 반응부와, 상기 반응부로부터 상기 플라즈마로 생성된 고체 시료를 제공받는 챔버와, 상기 챔버 내에 위치하고, 상기 챔버로 상기 플라즈마로 생성된 고체 시료의 입자가 제공되는 방향과 반대 방향으로 커팅 가스를 분출하는 분출부를 포함하는 플라즈마 생성부; 및 상기 플라즈마 생성부와 연결되고, 상기 플라즈마로 생성된 상기 고체 시료의 입자로부터 발광되는 광을 X축 방향에서 검출 분석하는 제1 분석부와, 상기 플라즈마로 생성된 상기 고체 시료의 입자로부터 발광되는 광을 Y축 방향에서 검출 분석하는 제2 분석부를 구비하는 분석부를 포함하는 고체 시료 분석 장치
2 2
제1 항에 있어서, 상기 제1 분석부는 특정 파장의 신호를 추출하는 모노크로미터(monochromator)와, 상기 모노크로미터와 연결되고, 상기 모노크로미터로부터 제공되는 신호를 증폭하는 광증폭튜브(photo multi tube : PMT) 및 상기 광증폭튜브와 연결되고, 상기 모노크로미터로부터 제공되는 신호를 디스플레이하는 디스플레이부를 포함하고, 상기 제2 분석부는 전하결합 검출기(charge coupled detector : CCD) 및 상기 전하결합 검출기와 연결되고, 상기 전하결합 검출부로부터 제공되는 신호를 디스플레이하는 디스플레이부를 포함하는 것을 특징으로 하는 고체 시료 분석 장치
3 3
제1 항에 있어서, 상기 분석부는 수 일 내지 수 만ppm 이내를 측정 범위로 하는 것을 특징으로 하는 고체 시료 분석 장치
4 4
고체 시료로 레이저를 조사함에 의해 상기 고체 시료로부터 입자를 방출시키는 레이저 조사부; 상기 고체 시료로부터 방출되는 입자를 플라즈마로 생성하기 위하여, 폴리디메틸실록산(poly(dimethylsiloxane) : PDMS)으로 이루어진 플레이트와, 상기 플레이트를 관통하는 유로를 포함하고, 상기 유로를 통하여 상기 플레이트로 상기 고체 시료로부터 방출되는 시료를 제공받는 채널과, 상기 플레이트에 삽입되면서 상기 유로를 중심으로 서로 마주하게 설치되고, 고주파 전력(RF power)이 인가되는 전극들을 포함하는 플라즈마 생성부; 및 상기 플라즈마 생성부와 연결되고, 상기 플라즈마로 생성된 상기 고체 시료의 입자 상태를 분석하는 분석부를 포함하는 고체 시료 분석 장치
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제4 항에 있어서, 상기 플라즈마 생성부에서 상기 플레이트는 가로 ㅧ 세로가 20 내지 50mm ㅧ 40 내지 70mm이고, 상기 유로는 0
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제4 항에 있어서, 상기 분석부는 상기 플라즈마 생성부 채널의 유로 일측에 삽입되는 프로버 및 상기 프로버와 연결되는 디스플레이부를 포함하는 것을 특징으로 하는 고체 시료 분석 장치
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제4 항에 있어서, 상기 분석부는 수 일 내지 수 만ppm 이내를 측정 범위로 하는 것을 특징으로 하는 고체 시료 분석 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.