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프레스 가공품 유막오염 감지장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015197724
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 프레스 가공품의 유막오염 감지에 관한 것으로 소형의 발광장치와 촬영장치를 프레스기 내부에 장착하여 공정과 동시에 유막이 기준치 이상으로 형성된 가공품을 불량으로 판단하고, 불량인 가공품을 다음 공정으로 넘어가지 않게 처리함으로써, 공정효율과 생산성을 높일 수 있는 프레스 가공품 유막오염 감지장치 및 방법에 관한 것이다.본 발명의 프레스 가공품 유막오염 감지장치 및 방법은 상기 프레스기의 내부에 장착되어 상기 가공품 표면에 광원을 조사하기 위한 하나 이상의 발광부, 상기 프레스기의 내부에 장착되어 상기 발광부가 상기 가공품 표면에 조사한 광원의 반사점을 촬영하기 위한 하나 이상의 촬영부, 상기 촬영부에서 촬영한 영상을 디지털 신호로 변환하기 위한 신호처리부, 상기 디지털 신호로 변환된 상기 영상에서 상기 반사점의 외각선 분석을 통해 가공품의 오염여부를 판단하는 판단부, 오염된 가공품을 걸러내는 분류부 및 상기 발광부의 조사시간을 조절하고, 상기 판단부에서 상기 가공품을 오염으로 판단하면 상기 분류부에 상기 가공품을 제거하기 위한 동작신호를 발생시키는 제어부를 포함함에 기술적 특징이 있다.
Int. CL G06T 7/00 (2006.01) G01N 21/88 (2006.01)
CPC G01N 21/8806(2013.01) G01N 21/8806(2013.01) G01N 21/8806(2013.01)
출원번호/일자 1020140000079 (2014.01.02)
출원인 주식회사 한텍테크놀로지, 동아대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2015-0080686 (2015.07.10) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.01.02)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 한텍테크놀로지 대한민국 울산광역시 울주군
2 동아대학교 산학협력단 대한민국 부산광역시 사하구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최성일 대한민국 부산 금정구
2 최선영 대한민국 부산 수영구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박정학 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, ****호(역삼동, 아남타워)(넥스트원국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.01.02 수리 (Accepted) 1-1-2014-0000733-24
2 보정요구서
Request for Amendment
2014.01.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2014-0009102-83
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2014.02.12 불수리 (Non-acceptance) 1-1-2014-0135828-95
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2014.02.14 수리 (Accepted) 1-1-2014-0148060-31
5 서류반려이유통지서
Notice of Reason for Return of Document
2014.02.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2014-0026137-13
6 서류반려통지서
Notice for Return of Document
2014.02.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2014-0029528-87
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2014-5046693-38
8 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2015.01.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.03 수리 (Accepted) 4-1-2015-5015182-38
10 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2015.03.13 수리 (Accepted) 9-1-2015-0017131-34
11 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2015.04.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0258848-85
12 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2015.06.22 수리 (Accepted) 1-1-2015-0598751-94
13 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2015.06.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-0598765-22
14 보정요구서
Request for Amendment
2015.06.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2015-0105809-18
15 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2015.06.30 수리 (Accepted) 1-1-2015-0633423-90
16 보정요구서
Request for Amendment
2015.07.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2015-0112658-74
17 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2015.07.13 수리 (Accepted) 1-1-2015-0672402-90
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.10.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5140465-53
19 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2015.11.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0785847-56
20 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2015.12.14 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2015-1222474-13
21 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2015.12.14 수리 (Accepted) 1-1-2015-1222456-91
22 보정요구서
Request for Amendment
2015.12.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2015-0190669-83
23 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2015.12.21 수리 (Accepted) 1-1-2015-1247724-52
24 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2015.12.21 수리 (Accepted) 1-1-2015-1247732-17
25 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2016.01.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0063292-16
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
프레스 가공품에 형성되는 유막의 오염도를 감지하는 장치에 있어서,상기 프레스기의 내부에 장착되어 상기 가공품 표면에 광원을 조사하기 위한 하나 이상의 발광부;상기 프레스기의 내부에 장착되어 상기 발광부가 상기 가공품 표면에 조사한 광원의 반사점을 촬영하기 위한 하나 이상의 촬영부;상기 촬영부에서 촬영한 영상을 디지털 신호로 변환하기 위한 신호처리부;상기 디지털 신호로 변환된 상기 영상에서 상기 반사점의 외각선 분석을 통해 가공품의 오염여부를 판단하는 판단부;오염된 가공품을 걸러내는 분류부; 및상기 발광부의 조사시간을 조절하고, 상기 판단부에서 상기 가공품을 오염으로 판단하면 상기 분류부에 상기 가공품을 제거하기 위한 동작신호를 발생시키는 제어부를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 프레스 가공품에 형성되는 유막의 오염도를 감지하는 장치
1 1
프레스 가공품에 형성되는 유막의 오염도를 감지하는 장치에 있어서,상기 프레스기의 내부에 장착되어 상기 가공품 표면에 광원을 조사하기 위한 하나 이상의 발광부;상기 프레스기의 내부에 장착되어 상기 발광부가 상기 가공품 표면에 조사한 광원의 반사점을 촬영하기 위한 하나 이상의 촬영부;상기 촬영부에서 촬영한 영상을 디지털 신호로 변환하기 위한 신호처리부;상기 디지털 신호로 변환된 상기 영상에서 상기 반사점의 외각선 분석을 통해 가공품의 오염여부를 판단하는 판단부;오염된 가공품을 걸러내는 분류부; 및상기 발광부의 조사시간을 조절하고, 상기 판단부에서 상기 가공품을 오염으로 판단하면 상기 분류부에 상기 가공품을 제거하기 위한 동작신호를 발생시키는 제어부를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 프레스 가공품에 형성되는 유막의 오염도를 감지하는 장치
2 2
제 1항에 있어서,상기 발광부의 광원은 엘이디(LED) 또는 레이져 중 어느 하나 이상인 것을 특징으로 하는 프레스 가공품에 형성되는 유막의 오염도를 감지하는 장치
2 2
제 1항에 있어서,상기 발광부의 광원은 엘이디(LED) 또는 레이져 중 어느 하나 이상인 것을 특징으로 하는 프레스 가공품에 형성되는 유막의 오염도를 감지하는 장치
3 3
제 1항에 있어서,상기 제어부는 상기 가공품의 종류 및 오일 종류에 따라서 상기 발광부의 조사 시간을 다르게 설정하는 것을 특징으로 하는 프레스 가공품에 형성되는 유막의 오염도를 감지하는 장치
3 3
제 1항에 있어서,상기 제어부는 상기 가공품의 종류 및 오일 종류에 따라서 상기 발광부의 조사 시간을 다르게 설정하는 것을 특징으로 하는 프레스 가공품에 형성되는 유막의 오염도를 감지하는 장치
4 4
제 1항에 있어서,상기 판단부는 상기 발광부가 조사한 빛의 반사점 밝기, 반경, 외곽선의 선명도 중 어느 하나 이상을 분석하여 오염여부를 판단하는 것을 특징으로 하는 프레스 가공품에 형성되는 유막의 오염도를 감지하는 장치
4 4
제 1항에 있어서,상기 판단부는 상기 발광부가 조사한 빛의 반사점 밝기, 반경, 외곽선의 선명도 중 어느 하나 이상을 분석하여 오염여부를 판단하는 것을 특징으로 하는 프레스 가공품에 형성되는 유막의 오염도를 감지하는 장치
5 5
프레스 가공품에 형성되는 유막의 오염도 여부를 판단하는 방법은,프레스기의 내부에 장착된 발광부를 이용하여 상기 가공품에 광원을 조사하는 제 1단계;상기 프레스기의 내부에 장착된 촬영부를 이용하여 상기 가공품에 조사된 상기 광원의 반사되는 반사점을 촬영하는 제 2단계;상기 촬영된 영상을 디지털 신호로 변환하는 제 3단계;상기 디지털 신호로 변환된 상기 영상에서 상기 반사점의 밝기, 반경 또는 외곽선 차이 중 어느 하나 이상을 분석하여 기준이상의 유막이 형성된 오염된 가공품을 판별하는 제 4단계; 및분류부에서 오염된 가공품을 걸러내는 제 5단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 프레스 가공품에 형성되는 유막의 오염도 여부를 판단하는 방법
5 5
프레스 가공품에 형성되는 유막의 오염도 여부를 판단하는 방법은,프레스기의 내부에 장착된 발광부를 이용하여 상기 가공품에 광원을 조사하는 제 1단계;상기 프레스기의 내부에 장착된 촬영부를 이용하여 상기 가공품에 조사된 상기 광원의 반사되는 반사점을 촬영하는 제 2단계;상기 촬영된 영상을 디지털 신호로 변환하는 제 3단계;상기 디지털 신호로 변환된 상기 영상에서 상기 반사점의 밝기, 반경 또는 외곽선 차이 중 어느 하나 이상을 분석하여 기준이상의 유막이 형성된 오염된 가공품을 판별하는 제 4단계; 및분류부에서 오염된 가공품을 걸러내는 제 5단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 프레스 가공품에 형성되는 유막의 오염도 여부를 판단하는 방법
6 6
제 5항에 있어서,상기 발광부에서 조사되는 상기 광원은 엘이디(LED) 또는 레이져 중 어느 하나 이상인 것을 특징으로 하는 프레스 가공품에 형성되는 유막의 오염도 여부를 판단하는 방법
6 6
제 5항에 있어서,상기 발광부에서 조사되는 상기 광원은 엘이디(LED) 또는 레이져 중 어느 하나 이상인 것을 특징으로 하는 프레스 가공품에 형성되는 유막의 오염도 여부를 판단하는 방법
7 7
제 5항에 있어서,상기 발광부에서 조사되는 상기 광원의 조사시간은 상기 가공품의 종류 및 오일 종류에 따라서 다르게 설정되는 것을 특징으로 하는 프레스 가공품에 형성되는 유막의 오염도 여부를 판단하는 방법
7 7
제 5항에 있어서,상기 발광부에서 조사되는 상기 광원의 조사시간은 상기 가공품의 종류 및 오일 종류에 따라서 다르게 설정되는 것을 특징으로 하는 프레스 가공품에 형성되는 유막의 오염도 여부를 판단하는 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.