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a) 기지(旣知) 농도를 갖는 Y, Zr, Hf 및 Ce으로 구성된 군으로부터 선택된 1종 이상의 원소를 포함하는 표준 시료; 및b) 상기 표준 시료에 포함된 각 원소의 기준 농도가 명기된 설명서를 포함하는 나노 지르코니아 분말 소재 원소의 정량 분석 키트
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제 1항에 있어서, 상기 표준 시료는 Er, Si, Ti, Cr, Ni, Fe, Mg, Ca, Al, Na 및 K으로 구성된 군으로부터 선택된 1종 이상의 원소를 추가적으로 포함하는 정량 분석 키트
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제 1항에 있어서, 상기 표준 시료는 펠렛(pellet)형의 고체 또는 액체 형태인 정량 분석 키트
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제 1항에 있어서, 상기 표준 시료는 2개 이상인 정량 분석 키트
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제 1항에 있어서, 상기 원소의 농도는 0
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제 1항에 있어서, 상기 분석용 키트는 유도결합 플라즈마 방출분광 분석기(ICP-AES)를 이용한 파괴분석용; 또는 X선 형광 분석(XRF)을 이용한 비파괴 분석용인 정량 분석 키트
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제 6항에 있어서, 상기 분석용 키트는 ICP-AES 및 XRF를 모두 사용하여 파괴 및 비파괴 분석하는 것을 특징으로 하는 정량 분석 키트
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a) Y, Zr, Hf, Ce, Er, Si, Ti, Cr, Ni, Fe, Mg, Ca, Al, Na 및 K으로 구성된 군으로부터 선택된 1종 이상의 원소를 포함하는 미지 시료를 마이크로웨이브 전처리 장치(Microwave Sample Digestion System)를 이용하여 분해하는 단계; 및b) 상기 분해된 미지 시료 용액을 희석한 후 부피를 조절하여 측정 용액을 제조하는 단계; 를 포함하는 나노 지르코니아 분말 소재의 비파괴 분석용 측정 용액의 제조방법
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a) 제 1항에 기재된 표준 시료를 2개 이상 제공하는 단계;b) 상기 단계 a)의 표준 시료에 포함된 Y, Zr, Hf, Ce, Er, Si, Ti, Cr, Ni, Fe, Mg, Ca, Al, Na 및 K으로 구성된 군으로부터 선택된 1종 이상의 원소 농도를 유도결합 플라즈마 방출분광 분석(ICP-AES) 및/또는 X-선 형광 분석(XRF)으로 측정한 후 이의 검정곡선(calibration)을 작성하는 단계; 및c) 측정하고자 하는 미지 시료에 포함된 원소 농도를 ICP-AES 및/또는 XRF로 측정한 후, 이를 상기 단계 b)에서 작성된 검정곡선에 대입하여 정량 분석하는 단계를 포함하는 파괴 및 비파괴 분석법에 의한 나노 지르코니아 분말 소재의 미량 원소 분석 방법
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제 9항에 있어서, 상기 단계 c)의 미지 시료는 제 8항의 방법에 의해 제조된 측정 용액인 분석 방법
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