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주사전자현미경을 이용한 투과전자현미경 홀더구동 측정장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015199218
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 투과전자현미경에서 사용하고 있는 더블틸트(Double-tilt), 로테이션(Rotation), 트랜스레이션(Translation) 홀더의 특성을 측정할 수 있으며, 직접 관찰함으로써 홀더의 구동원리와 시편의 이동 경로를 쉽게 파악할 수 있는 주사전자현미경(SEM)을 이용한 투과전자현미경(TEM) 홀더구동 측정 장치 및 방법에 관한 것이다.보다 상세하게, 본 발명은 주사전자현미경, 상기 주사전자현미경의 진공챔버에 고정되는 커버, 상기 커버에 장착되며 투과전자현미경(TEM) 홀더를 상하좌우로 이동시키는 2축스테이지, 상기 2축스테이지에 장착되며 측정하고자 하는 투과전자현미경 홀더가 삽입되는 홀더카트리지, 상기 홀더카트리지를 사이에 두고 상기 2축스테이지에 장착되며 투과전자현미경(TEM) 홀더를 회전시키는 회전스테이지, 상기 회전스테이지에 장착되며 투과전자현미경(TEM) 홀더를 장착하여 전후방향으로 이동시키는 전후이동부를 적어도 포함하여, 홀더의 경사각 및 회전각의 정밀성을 파악하고, 나아가 홀더의 자체 오차 값을 보정할 수 있는 주사전자현미경(SEM)을 이용한 투과전자현미경(TEM) 홀더구동 측정 장치 및 방법에 관한 것이다.본 발명에 의하면, 홀더의 경사각 및 회전각의 정밀성을 파악하고, 나아가 홀더의 자체 오차 값을 보정할 수 있어, 결과적으로, Holder의 정밀도 분해능을 향상시킬 수 있고 나아가 복합적인 구동이 가능한 새로운 홀더의 개발에 사용될 수 있는 주사전자현미경(SEM)을 이용한 투과전자현미경(TEM) 홀더구동 측정 장치 및 방법을 제공한다.주사전자현미경(SEM), 투과전자현미경(TEM), 홀더, 측정, 경사각, 회전각
Int. CL H01L 21/66 (2006.01) H01J 27/20 (2006.01)
CPC H01J 37/20(2013.01) H01J 37/20(2013.01) H01J 37/20(2013.01) H01J 37/20(2013.01) H01J 37/20(2013.01)
출원번호/일자 1020070055890 (2007.06.08)
출원인 한국기초과학지원연구원
등록번호/일자 10-0809951-0000 (2008.02.27)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20080306) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.06.08)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기초과학지원연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정종만 대한민국 대전 유성구
2 김윤중 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 강성열 대한민국 대전광역시 서구 문예로 **, ****호 강성열특허법률사무소 (둔산동, 변호사회관)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국기초과학지원연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.06.08 수리 (Accepted) 1-1-2007-0416129-15
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.12.21 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.01.15 수리 (Accepted) 9-1-2008-0003847-02
4 등록결정서
Decision to grant
2008.02.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0104230-26
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.10.21 수리 (Accepted) 4-1-2011-5212108-42
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.08.31 수리 (Accepted) 4-1-2012-5184293-13
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.08.31 수리 (Accepted) 4-1-2012-5184331-50
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2013-5058386-17
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2013-5058545-81
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.22 수리 (Accepted) 4-1-2020-5135881-88
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
투과전자현미경(TEM) 홀더구동 측정 장치에 있어서, 시편이 장착되는 부분을 직접 관찰할 수 있는 주사전자현미경(100), 상기 주사전자현미경(100)의 진공챔버에 고정되는 커버(200), 상기 커버(200)에 장착되며 투과전자현미경(TEM) 홀더를 상하좌우로 이동시키는 2축스테이지(300), 상기 2축스테이지(300)에 장착되며 측정하고자 하는 투과전자현미경 홀더가 삽입되는 홀더카트리지(400), 상기 홀더카트리지(400)를 사이에 두고 상기 2축스테이지(300)에 장착되며 투과전자현미경(TEM) 홀더를 회전시키는 회전스테이지(500), 상기 회전스테이지(500)에 장착되며 투과전자현미경(TEM) 홀더를 장착하여 전후방향으로 이동시키는 전후이동부(600)를 적어도 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 주사전자현미경(SEM)을 이용한 투과전자현미경(TEM) 홀더구동 측정 장치
2 2
제 1항에 있어서,상기 커버(200)는, cover를 SEM에 부착하기 위한 볼트홀(a1); SEM 내부 진공도를 위한 O-ring 장착용 홈이 구비되며 Two-axis stage를 커버에 고정하기 위한 Two-axis stage고정부(a2); Two-axis stage 상하좌우 구동시 cover옆면 접촉하지 않도록 holder cartridge의 외형 지름보다 큰 관통부(a3); SEM 내부 진공도를 위한 O-ring 장착홈이 구비되며 커버를 SEM에 고정하기 위한 커버고정부(a4)를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 주사전자현미경(SEM)을 이용한 투과전자현미경(TEM) 홀더구동 측정 장치
3 3
제 1항에 있어서,상기 2축스테이지(300)는, TEM홀더의 상하좌우 이동을 조정하며 측정하기 위한 마이크로미터(b1); stage 구동 시 이동 경로이며 직선방향으로 정확하게 구동하는 Two-axis stage 이동bar(b2); 투과전자현미경 holder를 장착할 때 사용하는 cartridge를 장착하는 부분인 Holder cartridge장착부(b3); two-axis stage를 수직상태에서 사용하고, stage의 움직임이 상하좌우 자유롭도록 하기 위한 원통형ball-bearing(b4); cartridge와 two-axis stage사이의 SEM 내부 진공도를 위한 O-ring장착홈을 구비하며 Holder cartridge를 SEM에 고정하기 위한 Holder cartridge고정부(b5); SEM외벽에 부착한 cover에 stage를 부착하기 위한 volt홀(b6)를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 주사전자현미경(SEM)을 이용한 투과전자현미경(TEM) 홀더구동 측정 장치
4 4
제 1항에 있어서,상기 홀더카트리지(400)는, 내부에 홀더를 장착하는 홀더장착부(c1); volt로 고정되고, Holder cartridge와 two-axis stage를 결합하기 위하여 안쪽으로 two-axis stage 표면에 있는 o-ring이 위치하게 되는 volt홀(c2); holder를 회전하면서 관찰하기 위해 holder 자체에 설치된 pin이 삽입되는 pin삽입부(c3);를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 주사전자현미경(SEM)을 이용한 투과전자현미경(TEM) 홀더구동 측정 장치
5 5
제 1항에 있어서,상기 회전스테이지(500)는, TEM홀더의 회전을 조정하며 측정하기 위한 마이크로미터(d1); 투과전자현미경 holder를 전, 후로 이동하는 전후이동부를 장착하는 전후이동부고정홈(d2); 전후이동부를 삽입하기 위한 관통구인 전후이동부삽입홀(d3); 로테이션스테이지(Rotation stage)를 two-axis stage에 고정하기 위한 스테이지고정부(d4);를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 주사전자현미경(SEM)을 이용한 투과전자현미경(TEM) 홀더구동 측정 장치
6 6
제 1항에 있어서,상기 전후이동부(600)는, 정밀한 조정을 위하여 conchoid 처리된 전후구동부(e1); 로테이션스테이지(Rotation stage)에 고정하기 위한 고정홈(e2); Rotation 구동 시 holder에 있는 pin을 잡기 위한 핀고정bar(e3); TEM holder를 삽입하기 위한 TEM holder삽입홀(e4);를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 주사전자현미경(SEM)을 이용한 투과전자현미경(TEM) 홀더구동 측정 장치
7 7
시편이 장착되는 부분을 직접 관찰할 수 있는 주사전자현미경, 상기 주사전자현미경의 진공챔버에 고정되는 커버, 상기 커버에 장착되며 투과전자현미경(TEM) 홀더를 상하좌우로 이동시키는 2축스테이지, 상기 2축스테이지에 장착되며 측정하고자 하는 투과전자현미경 홀더가 삽입되는 홀더카트리지, 상기 홀더카트리지를 사이에 두고 상기 2축스테이지에 장착되며 투과전자현미경(TEM) 홀더를 회전시키는 회전스테이지, 상기 회전스테이지에 장착되며 투과전자현미경(TEM) 홀더를 장착하여 전후방향으로 이동시키는 전후이동부를 적어도 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 주사전자현미경(SEM)을 이용한 투과전자현미경(TEM) 홀더구동 측정 방법에 있어서,SEM에서 관찰하기 위해 vacuum 작업한 후 전자 빔을 인가하는 단계(S100);상기 전자빔을 인가한 상태에서 two-axis stage와 전후이동부를 이용하여 관찰하고자 하는 부분을 화면 정중앙으로 이동하는 단계(S200); 측정 holder에서 specimen cradle을 경사, 회전, 이동을 구동하면서 SEM으로 적합한 배율로 관찰하는 단계(S300); holder의 정확한 구동을 관찰하기 위해 장착한 two-axis stage, Rotation stage, 전후이동부를 이용하여 specimen cradle과 주변 부품의 움직임을 관찰하는 단계(S400);holder의 오차와 정밀도를 판단하는 단계(S500);를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 주사전자현미경(SEM)을 이용한 투과전자현미경(TEM) 홀더구동 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.