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KSTARA 장치의 플라즈마 진단에 이용되는 스펙트로미터

  • 기술번호 : KST2015199346
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 KSTAR 장치의 플라즈마 진단에 이용되는 스펙트로미터가 개시된다. 본 발명의 실시예에 따른 스펙트로미터는 KSTAR 장치 내부의 플라즈마로부터 방출되는 전자기파가 입사되는 슬릿, 슬릿을 통해 입사된 전자기파를 반사시켜 평행광으로 변화시키는 제1 미러, 제1 미러에 의해 반사된 평행광을 파장별로 분산시키는 회절부, 회절부에 의해 파장별로 분산된 평행광을 반사시키는 제2 미러, 2차원 포토 다이오드 어레이를 포함하고, 2차원 포토 다이오드 어레이에 제2 미러에 의해 반사된 평행광이 수신된 경우, 수신된 평행광에 대응하는 검출 신호를 생성하는 검출부 및 검출 신호를 이용하여 플라즈마의 상태를 분석 및 진단하는 신호 처리 장치를 포함한다.
Int. CL G21B 1/23 (2006.01)
CPC G21B 1/23(2013.01) G21B 1/23(2013.01) G21B 1/23(2013.01) G21B 1/23(2013.01)
출원번호/일자 1020110077715 (2011.08.04)
출원인 한국기초과학지원연구원
등록번호/일자 10-1249240-0000 (2013.03.26)
공개번호/일자 10-2013-0015624 (2013.02.14) 문서열기
공고번호/일자 (20130401) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.08.04)
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기초과학지원연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 오승태 대한민국 서울특별시 종로구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 남건필 대한민국 서울특별시 영등포구 경인로 ***, *동 ***호(엔씨 국제특허법률사무소)
2 차상윤 대한민국 서울특별시 영등포구 경인로 ***, *동 ***호(엔씨 국제특허법률사무소)
3 한상민 대한민국 광주 북구 첨단과기로***번길**-**, A동***-***호(특허법인지원(광주분사무소))

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국기초과학지원연구원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.08.04 수리 (Accepted) 1-1-2011-0603403-91
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.10.21 수리 (Accepted) 4-1-2011-5212108-42
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.07.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.08.22 수리 (Accepted) 9-1-2012-0066781-14
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.08.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0502196-13
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.08.31 수리 (Accepted) 4-1-2012-5184293-13
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.08.31 수리 (Accepted) 4-1-2012-5184331-50
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.09.11 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0733274-92
9 등록결정서
Decision to grant
2012.12.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0796915-17
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2013-5058386-17
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2013-5058545-81
12 [대리인해임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Dismissal of Sub-agent] Report on Agent (Representative)
2014.03.07 수리 (Accepted) 1-1-2014-0225515-43
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.22 수리 (Accepted) 4-1-2020-5135881-88
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
삭제
2 2
KSTAR 장치의 플라즈마 진단에 이용되는 스펙트로미터에 있어서, 상기 KSTAR 장치 내부의 플라즈마로부터 방출되는 전자기파가 입사되는 슬릿;상기 슬릿을 통해 입사된 전자기파를 반사시켜 평행광으로 변화시키는 제1 미러;상기 제1 미러에 의해 반사된 평행광을 파장별로 분산시키는 회절부;상기 회절부에 의해 파장별로 분산된 평행광을 반사시키는 제2 미러; 2차원 포토 다이오드 어레이를 포함하고, 상기 2차원 포토 다이오드 어레이에 상기 제2 미러에 의해 반사된 평행광이 수신된 경우, 상기 수신된 평행광에 대응하는 검출 신호를 생성하는 검출부; 및상기 검출 신호를 이용하여 상기 플라즈마의 상태를 분석 및 진단하는 신호 처리 장치를 포함하는 스펙트로미터로서,상기 2차원 포토 다이오드 어레이는,서로 전기적으로 분리된 복수의 제1 전극 및 복수의 제2 전극을 포함하는 회로 기판;상기 회로 기판 상에서, m개(행)×n개(열)(m, n은 2 이상의 정수임)의 매트릭스 형태로 배열된 복수 개의 포토 다이오드 소자를 포함하고, 상기 매트릭스 형태로 배열된 상기 복수 개의 포토 다이오드 소자는 포토 다이오드 소자(152)로부터 생성된 검출 신호를 동시 생성하여 병렬적인 신호로 신호 처리 장치(160)에 전달하도록, 상기 복수의 제1 전극 및 상기 복수의 제2 전극에 개별적으로 연결된 것을 특징으로 하는 스펙트로미터
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.