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전기저항이 갑자기 소멸하여 전류가 아무런 장애 없이 흐르는 초전도 시험환경이 조성되는 제1시험유닛; 및접합(Joint) 부분에서 발생되는 접합 저항 특성을 측정하고자 하는 시험체를 지지한 채, 상기 제1시험유닛의 상기 초전도 시험환경으로 선택적으로 삽입되어, 자기장 인가에 따른 상기 시험체의 접합 저항 특성을 측정하는 제2시험유닛; 을 포함하며, 상기 제2시험유닛이 상기 초전도 시험환경 내로 삽입되는 깊이를 조절하여 상기 시험체에 대한 자기장 인가를 위한 온도를 조절하되, 상기 제2시험유닛은, 전원이 선택적으로 인가되는 제1자석부; 상기 제1자석부로부터 이격된 위치에 위치하며, 상기 시험체로 상기 제1자석부로부터 유도된 자기장을 인가시키는 제2자석부; 상기 제1자석부로부터 유도된 자기장을 상기 제2자석부 측으로 안내하여 상기 시험체에 자기장을 인가시키는 안내부; 및상기 시험체로 인가되는 자기장의 변화를 감지하는 센서부; 를 포함하여, 상기 제1자석부부터 상기 초전도 시험환경으로 삽입되는 접합 저항 특성 측정을 위한 시험장치
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제1항에 있어서, 상기 제1시험유닛은 헬륨을 포함한 냉각제가 주입되어 상기 초전도 시험환경을 위한 온도로 냉각되는 접합 저항 특성 측정을 위한 시험장치
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제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2자석부는 단면이 환형이며 코일이 권선되는 전자석을 포함하며, 상기 센서부 및 시험체는 각각 상기 제1 및 제2자석부 내부에 위치하는 접합 저항 특성 측정을 위한 시험장치
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제1항에 있어서, 상기 안내부의 일단은 상기 제1자석부에 권선되는 초전도 루프로 마련되며, 타단은 상기 제2자석부 내부에 삽입된 상기 시험체와 연결되는 접합 저항 특성 측정을 위한 시험장치
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전기저항이 갑자기 소멸하여 전류가 아무런 장애 없이 흐르는 초전도 시험환경이 조성되는 제1시험유닛;접합(Joint) 부분에서 발생되는 접합 저항 특성을 측정하고자 하는 시험체를 지지한 채, 상기 제1시험유닛의 상기 초전도 시험환경으로 선택적으로 삽입되어, 자기장 인가에 따른 상기 시험체의 접합 저항 특성을 측정하는 제2시험유닛; 및상기 제1 및 제2시험유닛 중 적어도 어느 하나를 이동시켜, 상기 제1시험유닛의 상기 초전도 시험환경에 대한 상기 제2시험유닛의 삽입 깊이를 조절하는 이동유닛; 을 포함하며, 상기 제2시험유닛은, 단면이 환형이며 코일이 권선되는 전자석을 포함하여, 전원 인가시 자기장을 유도하는 제1자석부; 단면이 환형이며 코일이 권선되는 전자석을 포함하되, 상기 제1자석부로부터 이격된 위치에 위치하며, 상기 시험체로 상기 제1자석부로부터 유도된 자기장을 인가시키는 제2자석부; 상기 제1자석부로부터 유도된 자기장을 상기 제2자석부 측으로 안내하여 상기 시험체에 자기장을 인가시키는 안내부; 및상기 시험체로 인가되는 자기장의 변화를 감지하는 센서부; 를 포함하여, 상기 제1자석부부터 상기 초전도 시험환경으로 삽입되는 접합 저항 특성 측정을 위한 시험장치
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제6항에 있어서, 상기 제1시험유닛은 헬륨을 포함한 냉각제가 주입되어 상기 초전도 시험환경을 위한 온도로 냉각되는 접합 저항 특성 측정을 위한 시험장치
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제6항에 있어서, 상기 안내부의 일단은 상기 제1자석부에 권선되는 초전도 루프로 마련되며, 타단은 상기 제2자석부를 통해 상기 시험체와 연결되는 접합 저항 특성 측정을 위한 시험장치
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제6항에 있어서, 상기 이동유닛은 상기 제2시험유닛을 상기 제1시험유닛의 상기 초전도 시험환경 측으로 선택적으로 이동시켜, 상기 초전도 시험환경에 대한 상기 제2시험유닛의 삽입 깊이를 조절하는 접합 저항 특성 측정을 위한 시험장치
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