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영구자석이 구비되어 자기력을 제공하는 영구자석부;상기 영구자석부에 의해 자화되어 자속 경로를 형성하는 코어를 구비한 코어부; 및상기 코어부의 단부에 구비된 홀센서에 의해 측정대상물의 자화에 의해 변화된 자기장을 검출한 후 상기 측정대상물의 코팅막의 두께를 산출해내는 센서부;를 포함하고,상기 영구자석과 상기 코어의 간격이 가변되도록 구성되는 것에 의해 코어의 자기력을 조정할 수 있도록 구성되는 것을 특징으로 하는 코팅막 두께 측정 장치
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청구항 1에 있어서,영구자석과 코어부와 센서부가 수납되는 케이스를 더 포함하고,상기 영구자석부는,상기 코어와 인접 위치되는 상기 영구자석에 단부가 회전 가능하게 결합되고, 상기 케이스에 대해 이동 가능하게 타단부가 노출되어 결합되는 조정로드; 및상기 조정로드 상기 케이스로부터 노출된 타단부에 형성되는 조정노브;를 포함하여,상기 조정노브를 이용하여 상기 케이스에 대해 상기 조정로드의 위치를 가변시키는 것에 의해 상기 영구자석과 상기 코어 사이의 간격을 조절하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 코팅막 두께 측정 장치
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청구항 1에 있어서,상기 코어부는 서로 이격된 두 개 이상으로 구성되고,상기 코어부의 단부에는 각각 홀센서가 구비되며,상기 영구자석부가 상기 두 개 이상의 코어부들 사이에서 이동 가능하게 결합되고,상기 센서부는 두 개 이상의 코어부 중 하나 이상의 코어부에 결합되는 것을 특징으로 하는 코팅막 두께 측정 장치
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청구항 3에 있어서, 상기 센서부는,상기 코어에 권취된 센서코일;상기 센서코일에 기준위상 전원을 공급하는 위상기준전원; 및상기 센서코일에서 검출된 기준위상과 상기 홀센서에서 검출된 자기장을 위상검출법을 적용하여 홀센서의 자기장을 출력하는 위상차적용 출력부;를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 코팅막 두께 측정 장치
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청구항 4에 있어서, 상기 위상차적용 출력부는,상기 자기장의 세기에 대응하는 코팅막 두께를 검출할 수 있도록, 고정 위상 증폭을 이용한 미분을 수행하는 것에 의해 측정된 자기장과 코팅막의 두께가 선형적으로 변화도록 신호처리하는 것을 특징으로 하는 코팅막 두께 측정 장치
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청구항 1에 있어서,비자성체 측정대상물의 와전류를 이용한 코팅막 두께 측정을 위해 상기 코어부에 교류자기장을 형성하는 교류자기장생성부;를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 코팅막 두께 측정 장치
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청구항 6에 있어서,상기 센서부의 인가 위상기준전원과 상기 교류자기장생성부의 교류 전원은 펄스 형태로 공급되도록 구성되는 것을 특징으로 하는 코팅막 두께 측정 장치
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청구항 6에 있어서, 상기 교류자기장생성부는,상기 코어부에 권취되는 교류전원코일; 및상기 교류전원코일에 교류를 제공하는 교류전원;을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 코팅막 두께 측정 장치
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영구자석과 코어부 사이의 간격을 조절하는 것에 의해 코어부의 자기력 세기를 조절하여 직류자기장에 의해 자성체 측정대상물의 코팅막 두께를 측정하는 자기유도측정과정; 및상기 코어부에 교류자기장을 생성시켜, 비자성체 측정대상물에 와전류를 형성한 후 와전류에 의해 변화된 교류자기장을 검출하여 코팅막의 두께를 측정하는 와전류측정과정;을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 코팅막 두께 측정 방법
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청구항 9에 있어서, 상기 자기유도측정과정은,영구자석과 코어부 사이의 간격을 조절하는 것에 의해 코어부의 직류자기력 세기를 조절하는 직류자기력조정과정;상기 코어부의 단부를 측정대상물에 밀착시킨 후 측정대상물의 자화에 의해 변화된 직류자기장의 세기를 홀센서를 통해 측정하는 홀센서자기장검출과정;상기 홀센서에서 측정된 자기장을 기준위상전원의 기준위상과 비교하여 차이 값에 대응하는 측정자기장 세기를 출력하는 위상검출방법적용과정; 및상기 위상검출방법적용과정에 의해 검출된 측정자기장의 세기분포를 이용하여 코팅막의 두께를 연산하여 산출하는 자기유도코팅막두께산출과정;을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 코팅막 두께 측정 방법
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청구항 9에 있어서, 상기 두께산출과정은,상기 위상검출방법적용과정에서 위상고정증폭을 적용하는 것에 의해 자기장의 거리에 따른 세기 변화를 선형화하여 자기장의 세기에 대한 코팅막의 두께를 연산하여 산출하는 것을 특징으로 하는 코팅막 두께 측정 방법
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청구항 9에 있어서, 상기 와전류측정과정은,코어부에 권취된 교류전원코일에 교류를 인가하는 것에 의해 상기 코어부에 교류자기장을 생성하는 교류자기장생성과정;상기 코어부의 단부에 부착된 홀센서부를 통해 측정대상물에서 상기 교류자기장에 의해 생성된 와전류에 의해 변화된 교류자기장을 검출하는 홀센서교류자기장검출과정;상기 코어부에 권취된 교류전원 코일에 기준위상 생성을 위한 교류전원을 인가한 후, 상기 홀센서에서 검출된 자기장과 위상 비교한 후 위상검출방법을 적용하여 변화된 자기장과 코팅막 두께의 관계를 선형화시키는 교류자기장위상검출방법적용과정; 및상기 교류자기장위상검출방법적용과정에 의해 코팅막 두께에 대하여 선형화된 자기장 검출 신호를 증폭한 후 코팅막 두께를 연산하여 산출하는 와전류코팅막두께산출과정;을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 코팅막 두께 측정 방법
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