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시료의 자기화 측정 회로 및 방법

  • 기술번호 : KST2015199513
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 시료의 자기화(Magnetization) 측정 회로 및 방법에 관한 것으로, 두 개의 홀 소자와 하나의 전류원이 직렬 연결되어 있는 시료의 자기화 측정 회로 및 이를 이용하여 두 개의 홀 소자 각각의 전위차 측정용 회로에서 각각 전위차를 측정한 뒤 그 전위차들의 차이로부터 시료의 자기화를 산출하는 시료의 자기화 측정 방법에 관한 것이다.본 발명에 따르면 단번에 전위차 측정 및 자기화 산출이 이루어지므로 자기화 측정 과정이 간편해지며, 고자기장에서의 측정오차의 발생을 줄이고 정확한 자기화를 산출할 수 있다. 또한 회로 구성이 보다 용이하며, 데이터 처리부가 구비된 회로는 전위차 측정 및 자기화 산출을 전자적, 자동적으로 수행하므로 자기화 측정과정이 보다 신속, 정확해진다.홀 효과, 홀 소자, 홀 센서, 홀 소자열, 자기화
Int. CL G01R 33/07 (2006.01.01) G01R 33/12 (2006.01.01)
CPC G01R 33/072(2013.01) G01R 33/072(2013.01)
출원번호/일자 1020030033924 (2003.05.28)
출원인 한국기초과학지원연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2004-0102467 (2004.12.08) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2003.05.28)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기초과학지원연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 장현식 대한민국 대전광역시유성구
2 박수현 대한민국 대전광역시유성구
3 이형철 대한민국 대구광역시수성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 문기상 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로 *** (삼성동, 우창빌딩)(문앤문국제특허법률사무소)
2 문두현 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로 *** (삼성동, 우창빌딩)(문앤문국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2003.05.28 수리 (Accepted) 1-1-2003-0189821-95
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2004.11.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2004.12.16 수리 (Accepted) 9-1-2004-0076890-06
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2004.12.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2004-0548491-78
5 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2005.02.17 수리 (Accepted) 1-1-2005-0083298-21
6 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2005.04.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0185432-60
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.10.21 수리 (Accepted) 4-1-2011-5212108-42
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.08.31 수리 (Accepted) 4-1-2012-5184293-13
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.08.31 수리 (Accepted) 4-1-2012-5184331-50
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2013-5058545-81
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2013-5058386-17
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.22 수리 (Accepted) 4-1-2020-5135881-88
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번호 청구항
1 1

시료의 자기화를 측정하기 위한 회로에 있어서

서로 대향하는 한 쌍의 제1 전류 인가 전극과 서로 대향하는 한 쌍의 제1 전위차 측정용 전극이 십자형으로 배치된 제1 홀 소자;

서로 대향하는 한 쌍의 제2 전류 인가 전극과 서로 대향하는 한 쌍의 제2 전위차 측정용 전극이 십자형으로 배치되어 있으며, 상기 제2 전류 인가 전극 중 어느 하나가 상기 제1 홀 소자의 상기 제1 전류 인가 전극 중 어느 하나에 연결되어 있는 제2 홀 소자; 및

상기 제1 전류 인가 전극의 다른 하나와 상기 제2 전류 인가 전극의 다른 하나 사이에 연결된 전류원을 구비한 것을 특징으로 하는 시료의 자기화 측정 회로

2 2

제 1항에 있어서,

상기 제1 홀 소자의 제1 전위차 측정용 전극과, 상기 제2 홀 소자의 제2 전위차 측정용 전극이 연결된 데이터 처리부를 구비한 것을 특징으로 하는 시료의 자기화 측정 회로

3 3

시료의 자기화를 측정하는 방법에 있어서,

서로 대향하는 한 쌍의 제1 전류 인가 전극과 서로 대향하는 한 쌍의 제1 전위차 측정용 전극이 십자형으로 배치된 제1 홀 소자, 서로 대향하는 한 쌍의 제2 전류 인가 전극과 서로 대향하는 한 쌍의 제2 전위차 측정용 전극이 십자형으로 배치되어 있으며, 상기 제2 전류 인가 전극 중 어느 하나가 상기 제1 홀 소자의 상기 제1 전류 인가 전극 중 어느 하나에 연결되어 있는 제2 홀 소자, 상기 제1 전류 인가 전극의 다른 하나와 상기 제2 전류 인가 전극의 다른 하나 사이에 연결된 전류원을 구비한 시료의 자기화 측정 회로를 구성하는 회로 구성 단계;

상기 제1 홀 소자 및 상기 제2 홀 소자가 놓여진 평면에 대해 자기장을 인가하고, 상기 제1 홀 소자와 상기 제2 홀 소자 중 어느 하나의 교차점에 자기화를 측정하고자 하는 시료를 밀착시키는 측정 준비 단계; 및

상기 제1 홀 소자의 상기 제1 전위차 측정용 전극에서 발생하는 전위차와, 상기 제2 홀 소자의 상기 제2 전위차 측정용 전극에서 발생하는 전위차를 각각 측정하고, 상기 측정된 두 전위차의 차이가 시료의 자기화에 비례한다는 사실 및 상기 인가된 자기장의 세기와 상기 시료를 밀착시키지 않은 홀 소자의 전위차 측정용 전극에서 측정되는 전위차 사이의 관계로부터 산출한 비례상수를 이용하여 시료의 자기화를 산출하는 측정 및 산출 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 시료의 자기화 측정 방법

4 4

제 3항에 있어서, 상기 회로 구성 단계는,

상기 제1 홀 소자의 상기 제1 전위차 측정용 전극과, 상기 제2 홀 소자의 상기 제2 전위차 측정용 전극을 데이터 처리부에 연결하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 시료의 자기화 측정 방법

5 5

제 3항에 있어서, 상기 측정 준비 단계는,

상기 제1 홀 소자와 상기 제2 홀 소자 중 어느 하나의 교차점에 시료를 밀착시키기 전에 상기 전류원과 상기 자기장을 인가한 채 상기 제1 전위차 측정용 전극 및 상기 제2 전위차 측정용 전극에서 발생하는 전위차를 각각 측정한 뒤, 그 전위차의 차이값을 미리 구해두는 기준값 측정 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 시료의 자기화 측정 방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.