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CAN(Controller Area Network) 통신 기반의 반도체 테스트 방법에 있어서, 테스트 인터페이스에서, CAN 버스를 통하여 메인 컨트롤러로부터 테스트 대상 반도체(Device-Under-Test; DUT)에 대한 테스트를 수행하기 위한 데이터 프레임을 수신하는 단계; 상기 테스트 인터페이스에 포함되는 테스트 인터페이스 컨트롤러에서, 상기 데이터 프레임에 기초하여 상기 테스트 인터페이스의 작동 모드를 상기 테스트 대상 반도체에 대한 테스트를 수행하는 테스트 모드 또는 상기 테스트 대상 반도체의 미리 설정된 일반적인 동작을 수행하는 일반 모드 중 적어도 어느 하나로 결정하는 단계; 및 상기 테스트 인터페이스의 작동 모드가 상기 테스트 모드로 결정된 경우, 상기 데이터 프레임을 상기 테스트 대상 반도체에 포함되는 복수의 시프트 스캔 체인들로 인가하여, 상기 테스트 대상 반도체에 대한 테스트를 수행하는 단계를 포함하는 반도체 테스트 방법
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제1항에 있어서,상기 테스트 인터페이스의 작동 모드를 상기 테스트 모드 또는 상기 일반 모드 중 적어도 어느 하나로 결정하는 단계는 상기 수신된 데이터 프레임의 예비 비트(Reserved Bit)에 기초하여 상기 테스트 인터페이스의 작동 모드를 상기 테스트 모드 또는 상기 일반 모드 중 적어도 어느 하나로 결정하는 단계를 포함하는 반도체 테스트 방법
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제2항에 있어서,상기 테스트 인터페이스의 작동 모드를 상기 테스트 모드 또는 상기 일반 모드 중 적어도 어느 하나로 결정하는 단계는 상기 예비 비트가 제1 논리값을 갖는 경우, 상기 테스트 인터페이스의 작동 모드를 상기 테스트 모드로 결정하는 단계를 포함하는 반도체 테스트 방법
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제3항에 있어서,상기 테스트 인터페이스의 작동 모드를 상기 테스트 모드 또는 상기 일반 모드 중 적어도 어느 하나로 결정하는 단계는 상기 예비 비트가 상기 제1 논리값과 구별되는 제2 논리값을 갖는 경우, 상기 테스트 인터페이스의 작동 모드를 상기 일반 모드로 결정하는 단계를 포함하는 반도체 테스트 방법
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제1항에 있어서,상기 테스트 인터페이스의 작동 모드를 상기 테스트 모드 또는 상기 일반 모드 중 적어도 어느 하나로 결정하는 단계는 상기 테스트 인터페이스의 작동 모드가 상기 테스트 모드로 결정된 경우, 상기 테스트 인터페이스에 포함되는 모드 변환 회로에서, 상기 테스트 대상 반도체의 미리 설정된 일반적인 동작을 조작하는 CAN 컨트롤러 및 상기 메인 컨트롤러 사이의 통신 경로를 차단하는 단계; 및 상기 테스트 인터페이스 컨트롤러에서, 비트 스터프 에러(Bit Stuff Error)를 이용하여 상기 CAN 컨트롤러를 초기화하는 단계를 포함하는 반도체 테스트 방법
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제5항에 있어서,상기 CAN 컨트롤러 및 상기 메인 컨트롤러 사이의 통신 경로를 차단하는 단계는 상기 모드 변환 회로에서 상기 테스트 인터페이스 컨트롤러로부터 셀렉트 신호를 수신하는 단계; 및 상기 수신된 셀렉트 신호에 기초하여 상기 CAN 컨트롤러 및 상기 메인 컨트롤러 사이의 통신 경로를 차단하는 단계를 포함하는 반도체 테스트 방법
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제6항에 있어서,상기 CAN 컨트롤러 및 상기 메인 컨트롤러 사이의 통신 경로를 차단하는 단계는 상기 수신된 셀렉트 신호가 제1 논리값을 갖는 경우, 상기 CAN 컨트롤러 및 상기 메인 컨트롤러 사이의 통신 경로를 차단하는 단계를 포함하는 반도체 테스트 방법
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제5항에 있어서,상기 CAN 컨트롤러를 초기화하는 단계는 상기 CAN 컨트롤러에서 상기 비트 스터프 에러가 발생하도록, 상기 CAN 컨트롤러로 미리 설정된 횟수만큼 제1 논리값을 인가하는 단계를 포함하는 반도체 테스트 방법
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제1항에 있어서,상기 테스트 인터페이스의 작동 모드가 상기 테스트 모드로 결정된 경우, 상기 테스트 인터페이스 컨트롤러에서, 상기 데이터 프레임이 수신 완료됨을 알리는 ACK 비트(Acknowledge Bit)를 상기 메인 컨트롤러로 전송하는 단계를 더 포함하는 반도체 테스트 방법
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제9항에 있어서,상기 수신된 데이터 프레임에 오류가 검출되는 경우, 상기 테스트 인터페이스 컨트롤러에서, 에러 프레임을 상기 메인 컨트롤러로 전송하는 단계를 더 포함하는 반도체 테스트 방법
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CAN(Controller Area Network) 통신 기반의 반도체 테스트 시스템에 있어서, 테스트 대상 반도체(Device-Under-Test; DUT)에 대한 테스트를 수행하기 위한 데이터 프레임을 전송하는 메인 컨트롤러; 상기 테스트 대상 반도체의 미리 설정된 일반적인 동작을 조작하는 CAN 컨트롤러; 상기 메인 컨트롤러 및 상기 CAN 컨트롤러 각각과 CAN 버스를 통하여 연결되어 상기 메인 컨트롤러로부터 상기 데이터 프레임을 수신하고, 상기 데이터 프레임에 기초하여 상기 테스트 대상 반도체에 대한 테스트를 수행하는 테스트 모드 또는 상기 테스트 대상 반도체의 미리 설정된 일반적인 동작을 수행하는 일반 모드 중 적어도 어느 하나로 결정되는 작동 모드를 갖는 테스트 인터페이스; 및 상기 테스트 인터페이스의 작동 모드가 상기 테스트 모드로 결정된 경우, 상기 테스트 인터페이스에 의해 상기 데이터 프레임이 복수의 시프트 스캔 체인들로 인가되어 테스트가 수행되는 테스트 대상 반도체를 포함하는 반도체 테스트 시스템
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제11항에 있어서,상기 테스트 인터페이스는 상기 수신된 데이터 프레임의 예비 비트(Reserved Bit)에 기초하여 상기 테스트 인터페이스의 작동 모드를 상기 테스트 모드 또는 상기 일반 모드 중 적어도 어느 하나로 결정하는 테스트 인터페이스 컨트롤러를 포함하는 반도체 테스트 시스템
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제12항에 있어서,상기 테스트 인터페이스는 상기 테스트 인터페이스의 작동 모드가 상기 테스트 모드로 결정된 경우, 상기 CAN 컨트롤러 및 상기 메인 컨트롤러 사이의 통신 경로를 차단하는 모드 변환 회로를 포함하고, 상기 테스트 인터페이스 컨트롤러는 비트 스터프 에러(Bit Stuff Error)를 이용하여 상기 CAN 컨트롤러를 초기화하는 반도체 테스트 시스템
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제13항에 있어서,상기 모드 변환 회로는 상기 테스트 인터페이스 컨트롤러로부터 셀렉트 신호를 수신하고, 상기 수신된 셀렉트 신호에 기초하여 상기 CAN 컨트롤러 및 상기 메인 컨트롤러 사이의 통신 경로를 차단하는 반도체 테스트 시스템
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제13항에 있어서,상기 테스트 인터페이스 컨트롤러는 상기 CAN 컨트롤러에서 상기 비트 스터프 에러가 발생하도록, 상기 CAN 컨트롤러로 미리 설정된 횟수만큼 제1 논리값을 인가하는 반도체 테스트 시스템
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