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광원 분석 시스템과 그 방법
- 기술번호 : KST2015200444
- 담당센터 : 광주기술혁신센터
- 전화번호 : 062-360-4654
| 요약 | 본 발명은 다파장 광신호로부터 원하는 파장을 가지는 광신호만 선택하여 모니터링하며, 광원의 광학적 특성값을 파장 특성과 동시에 측정하는 광원 분석 시스템과 그 방법을 개시한다. 본 발명은 광을 모니터링하는 장치로서, 광으로부터 서로 다른 파장 기준에 해당하는 광만 선택하여 광전류를 획득하는 단위셀들끼리 미리 정해진 배열 기준에 따라 정렬된 단위셀 어레이를 포함하는 광원 모니터링 장치; 및 광원 모니터링 장치로부터 광의 파장과 광전류를 수신하며, 수신된 광의 파장과 광전류를 기반으로 광의 광학적 특성값을 산출하는 광원 특성 분석 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 광원 분석 시스템을 제공한다. 본 발명에 따르면, 광신호 모니터링 장치를 소형화할 수 있고, 보다 저렴한 비용으로 제조할 수 있다. 또한, 광원의 광학적 특성값을 파장 특성과 함께 동시에 측정할 수 있으며, 여러 파장이 입력되더라도 각 파장에 대한 광학적 특성값과 파장 특성을 동시에 분석할 수 있다. 광원 모니터링, 광학적 특성값, 단위셀, 단위셀 어레이, 박막 필터, 포토 다이오드, 광파워, 색온도, 광통신망, 백색 LED |
|---|---|
| Int. CL | G01J 1/36 (2006.01.01) G01J 1/44 (2006.01.01) G01J 1/32 (2006.01.01) |
| CPC | G01J 1/36(2013.01) G01J 1/36(2013.01) G01J 1/36(2013.01) G01J 1/36(2013.01) |
| 출원번호/일자 | 1020090035954 (2009.04.24) |
| 출원인 | 한국광기술원 |
| 등록번호/일자 | 10-1068217-0000 (2011.09.21) |
| 공개번호/일자 | 10-2009-0113216 (2009.10.29) 문서열기 |
| 공고번호/일자 | (20110928) 문서열기 |
| 국제출원번호/일자 | |
| 국제공개번호/일자 | |
| 우선권정보 |
대한민국 | 1020080038793 | 2008.04.25
|
| 법적상태 | 등록 |
| 심사진행상태 | 수리 |
| 심판사항 | |
| 구분 | 신규 |
| 원출원번호/일자 | |
| 관련 출원번호 | 1020090036112; |
| 심사청구여부/일자 | Y (2009.04.24) |
| 심사청구항수 | 6 |