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다중 파장을 가지는 발광다이오드 및 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2015200477
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 발광다이오드에 관한 것으로써, 활성층이 포함하는 복수의 장벽층(well)의 두께 또는 조성비를 달리하여 형성함으로써 다중 파장을 가지는 스펙트럼을 방출하거나 반치폭(half amplitude)이 넓은 스펙트럼을 방출하는 발광다이오드 및 그 제조방법에 관한 것이다. 보다 더 구체적으로 본 발명의 일측면에 의하면, 서브스트레이트 기판과, 상기 서브스트레이트 기판상에 순차적으로 형성되는 n형 반도체층, 활성층 및 p형 반도체층과, n형 반도체층상에 형성되는 n형 전극 및 상기 p형 반도체층상에 형성되는 p형 전극을 포함하는 발광다이오드(Light Emitting Diode)에 있어서, 상기 활성층은 복수의 장벽층(well)을 포함하며, 상기 n형 반도체층상으로부터 카운트되는 홀수번째 장벽층과 짝수번째 장벽층은 각각 장벽층을 형성하는 조성물의 조성비가 다른 것을 특징으로 하는 발광다이오드를 제공한다.
Int. CL H01L 33/06 (2010.01.01) H01L 33/26 (2010.01.01) H01L 33/00 (2010.01.01)
CPC H01L 33/06(2013.01) H01L 33/06(2013.01) H01L 33/06(2013.01) H01L 33/06(2013.01) H01L 33/06(2013.01)
출원번호/일자 1020100038340 (2010.04.26)
출원인 한국광기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2011-0118935 (2011.11.02) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.04.26)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국광기술원 대한민국 광주광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 오화섭 대한민국 광주광역시 광산구
2 김상묵 대한민국 광주광역시 서구
3 이현행 대한민국 전라남도 영암군
4 백종협 대한민국 대전광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 황이남 대한민국 서울시 송파구 법원로 ***, ****호 (문정동, 대명벨리온지식산업센터)(아시아나국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.04.26 수리 (Accepted) 1-1-2010-0266321-49
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.04.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.05.17 수리 (Accepted) 9-1-2011-0042747-86
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.08.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0448347-20
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2011.10.07 수리 (Accepted) 1-1-2011-0782748-24
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2011.11.10 수리 (Accepted) 1-1-2011-0888048-35
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2011.12.12 수리 (Accepted) 1-1-2011-0984995-77
8 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2012.01.09 수리 (Accepted) 1-1-2012-0020440-41
9 지정기간연장관련안내서
Notification for Extension of Designated Period
2012.01.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2012-0005990-26
10 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2012.05.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0268905-65
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.03 수리 (Accepted) 4-1-2020-5148105-81
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.09 수리 (Accepted) 4-1-2020-5153634-39
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
서브스트레이트 기판과, 상기 서브스트레이트 기판상에 순차적으로 형성되는 n형 반도체층, 활성층 및 p형 반도체층과, n형 반도체층상에 형성되는 n형 전극 및 상기 p형 반도체층상에 형성되는 p형 전극을 포함하는 발광다이오드(Light Emitting Diode)에 있어서, 상기 활성층은 복수의 장벽층(well)을 포함하며, 상기 n형 반도체층상으로부터 카운트되는 홀수번째 장벽층과 짝수번째 장벽층은 각각 장벽층을 형성하는 조성물의 조성비가 다른 것을 특징으로 하는 발광다이오드
2 2
제 1항에 있어서, 상기 활성층의 홀수번째 장벽층(well)은 Ga(x)In(1)-(x)P, InGa(x)N, AlGa(x)N 또는 AlInGa(x)N 중에서 선택되는 어느 하나 이상의 물질로 형성하고,상기 활성층의 짝수번째 장벽층(well)은 Ga(x1)In(1)-(x1)P, InGa(x1)N, AlGa(x1)N 또는 AlInGa(x1)N 중에서 선택되는 어느 하나 이상의 물질로 형성하되, 상기 x와 x1은 서로 다른 것을 특징으로 하는 발광다이오드
3 3
제 2항에 있어서, 상기 장벽층(well)을 형성하는 조성물의 분자수인 x와 x1은,x +0
4 4
서브스트레이트 기판과, 상기 서브스트레이트 기판상에 순차적으로 형성되는 n형 반도체층, 활성층 및 p형 반도체층과, n형 반도체층상에 형성되는 n형 전극 및 상기 p형 반도체층상에 형성되는 p형 전극을 포함하는 발광다이오드(Light Emitting Diode)에 있어서, 상기 활성층은 복수의 장벽층(well)을 포함하며, 상기 n형 반도체층상으로부터 카운트되는 홀수번째 장벽층과 짝수번째 장벽층은 각각 두께가 다른 것을 특징으로 하는 발광다이오드
5 5
제 4항에 있어서, 상기 장벽층(well)의 두께는 3nm 내지 10nm 인 것을 특징으로 하는 발광다이오드
6 6
제 4항에 있어서, 상기 홀수번째 장벽층(well) 두께를 t 라 하고, 짝수번째 장벽층(well)의 두께를 t1이라 할 때, t1 003e# t+0
7 7
서브스트레이트 기판상에 n형 반도체층, 활성층, p형 반도체층을 순차적으로 형성하는 단계;상기 n형 반도체층의 상면이 노출되도록 상기 활성층 및 p형 반도체층의 소정영역을 식각하는 단계;상기 노출된 n형 반도체층의 상면에 n형 전극을 형성하고, 상기 p형 반도체층 상에 p형 전극을 형성하는 단계;를 포함하되,상기 활성층은 복수의 장벽층(well)을 포함하며, 상기 n형 반도체층상으로부터 카운트되는 홀수번째 장벽층과 짝수번째 장벽층은 각각 그 조성물의 조성비가 다르게 형성하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 제조방법
8 8
제 7항에 있어서, 상기 활성층 형성단계는,Ga(x)In(1)-(x)P, InGa(x)N, AlGa(x)N 또는 AlInGa(x)N 중에서 선택되는 어느 하나의 물질로 이루어지는 소스의 양을 조절하여 각각의 장벽층을 성장시키는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 제조방법
9 9
제 7항에 있어서, 상기 활성층 형성단계는, Ga(x)In(1)-(x)P, InGa(x)N, AlGa(x)N 또는 AlInGa(x)N 중에서 선택되는 어느 하나의 물질로 이루어지는 소스를 주입하고, 성장온도를 조절하여 각각의 장벽층을 성장시키는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 제조방법
10 10
서브스트레이트 기판상에 n형 반도체층, 활성층, p형 반도체층을 순차적으로 형성하는 단계;상기 n형 반도체층의 상면이 노출되도록 상기 활성층 및 p형 반도체층의 소정영역을 식각하는 단계;상기 노출된 n형 반도체층의 상면에 n형 전극을 형성하고, 상기 p형 반도체층 상에 p형 전극을 형성하는 단계;를 포함하되,상기 활성층은 복수의 장벽층(well)을 포함하며, 상기 n형 반도체층상으로부터 카운트되는 홀수번째 장벽층과 짝수번째 장벽층은 각각 두께가 다른 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 제조방법
11 11
제 10항에 있어서, 상기 활성층 형성단계는,Ga(x)In(1)-(x)P, InGa(x)N, AlGa(x)N 또는 AlInGa(x)N 중에서 선택되는 어느 하나의 물질로 이루어지는 소스의 양을 조절하여 각각의 장벽층을 성장시키는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 제조방법
12 12
제 10항에 있어서, 상기 활성층 형성단계는, Ga(x)In(1)-(x)P, InGa(x)N, AlGa(x)N 또는 AlInGa(x)N 중에서 선택되는 어느 하나의 물질로 이루어지는 소스를 주입하고, 성장시간을 조절하여 각각의 장벽층을 성장시키는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.