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발광다이오드의 수명 및 신뢰성 평가시스템

  • 기술번호 : KST2015200535
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 발광다이오드의 수명 및 신뢰성 평가 시스템은, 발광다이오드 어레이에 전원을 공급하는 전원공급부, 상기 발광다이오드 어레이에서 방출되는 광의 광도를 검출하는 광 검출부, 상기 발광다이오드 어레이의 온도를 측정하는 온도 검출부, 상기 발광다이오드 어레이로의 전원공급을 제어하는 제어부 및 상기 발광다이오드 양단의 전기적 요소를 실시간 측정하는 계측부를 포함함으로써, 다수의 발광다이오드 소자의 전기적 특성과 광학특성을 실시간으로 측정할 수 있는 시스템을 제공한다.
Int. CL H01L 21/66 (2014.01) G01R 31/26 (2014.01) G01J 1/00 (2014.01)
CPC G01R 31/2635(2013.01) G01R 31/2635(2013.01) G01R 31/2635(2013.01) G01R 31/2635(2013.01)
출원번호/일자 1020110087786 (2011.08.31)
출원인 한국광기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2013-0024372 (2013.03.08) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.08.31)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국광기술원 대한민국 광주광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이계선 대한민국 광주광역시 북구
2 박승현 대한민국 광주광역시 북구
3 조용익 대한민국 광주광역시 북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 조성광 대한민국 서울특별시 금천구 가산디지털*로 ***(가산동, 가산더블유센터) ****호(지본특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.08.31 수리 (Accepted) 1-1-2011-0679714-99
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.07.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.08.22 수리 (Accepted) 9-1-2012-0066857-96
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.10.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0640794-10
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2012.12.26 수리 (Accepted) 1-1-2012-1075492-16
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2013.01.28 수리 (Accepted) 1-1-2013-0077370-02
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2013.02.26 수리 (Accepted) 1-1-2013-0169585-91
8 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2013.03.26 무효 (Invalidation) 1-1-2013-0259122-10
9 보정요구서
Request for Amendment
2013.04.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2013-0036629-19
10 무효처분통지서
Notice for Disposition of Invalidation
2013.05.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2013-0051005-47
11 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2013.08.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0601417-09
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.03 수리 (Accepted) 4-1-2020-5148105-81
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.09 수리 (Accepted) 4-1-2020-5153634-39
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
발광다이오드 어레이에 전원을 공급하는 전원공급부;상기 발광다이오드 어레이에서 방출되는 광의 광도를 검출하는 광 검출부;상기 발광다이오드 어레이의 온도를 측정하는 온도 검출부;상기 발광다이오드 어레이로의 전원공급을 제어하는 제어부; 및상기 발광다이오드 양단의 전기적 요소를 실시간 측정하는 계측부; 를 포함하는 발광다이오드의 수명 및 신뢰성 평가 시스템
2 2
제1항에 있어서,상기 계측부에서 측정하는 전기적 요소는 순방향 전압 및 전류, 역방향 전압 및 전류, 능동저항 및 누설전류값인 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 수명 및 신뢰성 평가 시스템
3 3
제2항에 있어서,상기 전원공급부로부터 상기 발광다이오드 어레이로의 전원을 차단시키기 위한 전원차단수단; 을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 수명 및 신뢰성 평가 시스템
4 4
제3항에 있어서,상기 전원차단수단에 의해 바이패스(Bypass) 회로가 연결된 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 수명 및 신뢰성 평가 시스템
5 5
제4항에 있어서,상기 계측부에서 계측된 전기적 요소를 실시간으로 저장하는 메모리부; 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 수명 및 신뢰성 평가 시스템
6 6
제3항에 있어서,상기 광 측정부는 상기 발광다이오드 어레이에서 방출되는 광을 수광하는 수광수단; 및상기 수광수단에 수광된 광을 파장 별로 분광하여 광도를 검출하는 분광수단; 을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 수명 및 신뢰성 평가 시스템
7 7
제3항에 있어서,상기 발광다이오드 어레이가 부착되어 상기 발광다이오드 어레이의 위치를 조절하는 구동수단; 을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 수명 및 신뢰성 평가 시스템
8 8
제3항에 있어서,상기 발광다이오드 어레이의 온도를 제어하고 상기 제어부에 의해 제어되는 온도 제어수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 수명 및 신뢰성 평가 시스템
9 9
제3항에 있어서,상기 제어부는 상기 광 측정부에서 측정된 광도 및 상기 온도 측정부에서 측정된 온도를 전송받는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 수명 및 신뢰성 평가 시스템
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 한양대학교 산학협력단 전략산업기술개발사업 웨이퍼레벨 고장진단 및 분석 기술