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백색 발광 다이오드 제조방법

  • 기술번호 : KST2015200581
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 백색 발광 다이오드 제조방법에 관한 것으로서, (a) [110] 결정방향을 가지는 실리콘 기판에 발광 다이오드 구조층을 성장시키는 단계; (b) 상기 발광 다이오드 구조층 상에 서브 마운트를 이용하여 칩 구조의 발광 다이오드 소자를 형성하는 단계; (c) 하측에 위치한 실리콘 기판이 상측에 위치하도록 상기 (b) 단계의 구조를 뒤집는 단계; (d) 상기 실리콘 기판에 마스크를 증착하는 단계; (e) 포토레지스트 패터닝 및 건식 또는 습식 식각을 수행하여 실리콘 기판에 마스크 패턴을 형성하는 단계; (f) 상기 실리콘 기판을 이방성 습식 식각하는 단계; (g) 상기 마스크 패턴을 제거하는 단계; (h) 상기 발광 다이오드 소자의 칩 발광 표면에 요철구조를 형성시키는 단계; (i) 상기 요철구조가 형성된 발광 다이오드 소자의 칩 발광 표면에 형광체를 코팅하는 단계; (j) 잔존하던 실리콘 기판을 제거하는 단계; 및 (k) 제거된 중앙의 실리콘 기판 위치를 기준으로, 상기 (j) 단계의 구조를 분할하는 단계; 를 포함한다.
Int. CL H01L 33/20 (2014.01) H01L 33/22 (2014.01) H01L 33/16 (2014.01)
CPC H01L 33/0079(2013.01) H01L 33/0079(2013.01) H01L 33/0079(2013.01) H01L 33/0079(2013.01)
출원번호/일자 1020120096383 (2012.08.31)
출원인 한국광기술원
등록번호/일자 10-1350159-0000 (2013.12.30)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20140213) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.08.31)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국광기술원 대한민국 광주광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박형조 대한민국 광주 광산구
2 백종협 대한민국 대전 서구
3 이상헌 대한민국 광주 광산구
4 정탁 대한민국 광주 광산구
5 김승환 대한민국 전북 전주시 덕진구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이은철 대한민국 서울특별시 송파구 법원로**길 **, A동 *층 ***호 (문정동, H비지니스파크)(*T국제특허법률사무소)
2 이우영 대한민국 서울특별시 송파구 법원로**길 **, A동 *층 ***호 (문정동, H비지니스파크)(*T국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국광기술원 광주광역시 북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.08.31 수리 (Accepted) 1-1-2012-0704933-03
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.04.02 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.05.09 수리 (Accepted) 9-1-2013-0036633-63
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.10.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0706136-58
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.12.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-1142359-36
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.12.13 수리 (Accepted) 1-1-2013-1142358-91
7 등록결정서
Decision to grant
2013.12.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0897864-02
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.03 수리 (Accepted) 4-1-2020-5148105-81
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.09 수리 (Accepted) 4-1-2020-5153634-39
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
칩의 발광영역과 형광체의 코팅영역이 동일한 백색 발광 다이오드 제조방법에 있어서, (a) [110] 결정방향을 가지는 실리콘 기판(10)에 발광 다이오드 구조층(20)을 성장시키는 단계;(b) 상기 발광 다이오드 구조층(20) 상에 서브 마운트(30)를 이용하여 칩 구조의 발광 다이오드 소자(40)를 형성하는 단계; (c) 하측에 위치한 실리콘 기판(10)이 상측에 위치하도록 상기 (b) 단계의 구조를 뒤집는 단계;(d) 상기 실리콘 기판(10)에 마스크를 증착하는 단계; (e) 포토레지스트 패터닝 및 건식 또는 습식 식각을 수행하여 실리콘 기판(10)에 마스크 패턴(50)을 형성하는 단계; (f) 상기 실리콘 기판(10)을 이방성 습식 식각하는 단계;(g) 상기 마스크 패턴(50)을 제거하는 단계; (h) 상기 발광 다이오드 소자(40)의 칩 발광 표면에 요철구조(60)를 형성시키는 단계;(i) 상기 요철구조(60)가 형성된 발광 다이오드 소자(30)의 칩 발광 표면에 형광체(phosphor)(70)를 코팅하는 단계; (j) 잔존하던 실리콘 기판(10)을 제거하는 단계; 및 (k) 제거된 중앙의 실리콘 기판(10) 위치를 기준으로, 상기 (j) 단계의 구조를 분할하는 단계; 를 포함하는 백색 발광 다이오드 제조방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 (a) 단계에서,상기 발광 다이오드 구조층(20)은, 버퍼층, u-GaN층, n-GaN층, MQWs층, p-GaN층을 포함하는 것을 특징으로 하는 백색 발광 다이오드 제조방법
3 3
제 1 항에 있어서,상기 (b) 단계에서,상기 칩 구조의 발광 다이오드 소자(40)는, 플립칩 구조인 것을 특징으로 하는 백색 발광 다이오드 제조방법
4 4
제 1 항에 있어서,상기 (i) 단계에서,색 온도 조절을 위하여, 상기 형광체(70)의 함량 및 코팅 두께를 조절하는 것을 특징으로 하는 백색 발광 다이오드 제조방법
5 5
제 1 항에 있어서,상기 (i) 단계에서,상기 형광체(70)의 코팅 두께는, 1um 내지 500um 인 것을 특징으로 하는 백색 발광 다이오드 제조방법
6 6
제 1 항에 있어서,상기 (j) 단계에서,상기 잔존하던 실리콘 기판(10)은,기둥(post) 형태인 것을 특징으로 하는 백색 발광 다이오드 제조방법
7 7
칩의 발광영역과 형광체의 코팅영역이 동일하지 않은 백색 발광 다이오드 제조방법에 있어서, (a) [110] 결정방향을 가지는 실리콘 기판(10)에 발광 다이오드 구조층(20)을 성장시키는 단계;(b) 상기 발광 다이오드 구조층(20) 상에 서브 마운트(30)를 이용하여 칩 구조의 발광 다이오드 소자(40)를 형성하는 단계; (c) 하측에 위치한 실리콘 기판(10)이 상측에 위치하도록 상기 (b) 단계의 구조를 뒤집는 단계;(d) 상기 실리콘 기판(10)에 마스크를 증착하는 단계; (e) 포토레지스트 패터닝 및 건식 또는 습식 식각을 수행하여 실리콘 기판(10)에 마스크 패턴(50)을 형성하는 단계; (f) 상기 실리콘 기판(10)을 이방성 습식 식각하는 단계;(g) 상기 마스크 패턴(50)을 제거하는 단계; (h) 상기 발광 다이오드 소자(40)의 칩 발광 표면에 요철구조(60)를 형성시키는 단계;(i) 상기 요철구조(60)가 형성된 발광 다이오드 소자(40)의 특정 패턴을 가지는 칩 발광 표면의 일부 영역에 형광체(phosphor)(70)를 코팅하는 단계; (j) 잔존하던 실리콘 기판(10)을 제거하는 단계; 및 (k) 제거된 중앙의 실리콘 기판(10) 위치를 기준으로, 상기 (j) 단계의 구조를 분할하는 단계; 를 포함하는 백색 발광 다이오드 제조방법
8 8
제 7 항에 있어서,상기 (a) 단계에서,상기 발광 다이오드 구조층(20)은, 버퍼층, u-GaN층, n-GaN층, MQWs층, p-GaN층을 포함하는 것을 특징으로 하는 백색 발광 다이오드 제조방법
9 9
제 7 항에 있어서,상기 (b) 단계에서,상기 칩 구조의 발광 다이오드 소자(40)는, 플립칩 구조인 것을 특징으로 하는 백색 발광 다이오드 제조방법
10 10
제 7 항에 있어서,상기 (i) 단계에서, 색 온도 조절을 위하여, 상기 형광체(70)의 코팅 영역의 넓이를 조절하는 것을 특징으로 하는 백색 발광 다이오드 제조방법
11 11
제 7 항에 있어서,상기 (i) 단계에서, 상기 형광체(70)의 코팅 두께는, 1um 내지 500um 인 것을 특징으로 하는 백색 발광 다이오드 제조방법
12 12
제 7 항에 있어서,상기 (j) 단계에서,상기 잔존하던 실리콘 기판(10)은,기둥(post) 형태인 것을 특징으로 하는 백색 발광 다이오드 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
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