맞춤기술찾기

이전대상기술

플라즈몬층을 가지는 반도체소자 제조방법

  • 기술번호 : KST2015200586
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 플라즈몬층을 가지는 반도체소자 제조방법이 개시된다. 이러한 제조방법은 (a) 기판 상에 하나 이상의 층을 포함하는 적층물을 형성하는 단계와, (b) 적층물 상에 제1플라즈몬층을 형성하는 단계를 포함하고, 제1플라즈몬층은 적층물의 최상층을 형성한 후 MOCVD 장치에서 인시츄(in-situ)로 증착 형성한다. 또한, 제1플라즈몬층 상에 활성층을 MOCVD 장치에서 인시츄로 증착 형성하고, 계속하여 활성층 상에 MOCVD 장치에서 인시츄로 제2플라즈몬층을 형성한다. 이는 은을 포함하는 MO소스를 이용하여 제1 및 제2플라즈몬층을 형성함으로써 다른 반도체층과 인시츄로 증착이 가능하며, 효율적으로 다층의 플라즈몬층을 형성할 수 있게 된다.
Int. CL H01L 33/14 (2014.01)
CPC H01L 33/02(2013.01) H01L 33/02(2013.01)
출원번호/일자 1020120126848 (2012.11.09)
출원인 한국광기술원
등록번호/일자 10-1373101-0000 (2014.03.05)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20140313) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.11.09)
심사청구항수 8

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국광기술원 대한민국 광주광역시 북구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 주진우 대한민국 광주 광산구
2 백종협 대한민국 대전 서구
3 정태훈 대한민국 서울특별시 금천구
4 이상헌 대한민국 광주 광산구
5 정탁 대한민국 광주 광산구
6 김자연 대한민국 광주 광산구
7 오화섭 대한민국 광주 광산구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이은철 대한민국 서울특별시 송파구 법원로**길 **, A동 *층 ***호 (문정동, H비지니스파크)(*T국제특허법률사무소)
2 이우영 대한민국 서울특별시 송파구 법원로**길 **, A동 *층 ***호 (문정동, H비지니스파크)(*T국제특허법률사무소)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국광기술원 광주광역시 북구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.11.09 수리 (Accepted) 1-1-2012-0923521-21
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.06.04 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.07.10 수리 (Accepted) 9-1-2013-0057855-28
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.11.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0798890-34
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.01.20 수리 (Accepted) 1-1-2014-0054455-35
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.01.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0054456-81
7 등록결정서
Decision to grant
2014.02.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0141935-15
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.03 수리 (Accepted) 4-1-2020-5148105-81
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.09 수리 (Accepted) 4-1-2020-5153634-39
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
플라즈몬층을 가지는 반도체소자 제조방법으로서:(a) 기판 상에 하나 이상의 층을 포함하는 적층물을 형성하는 단계; 및(b) 상기 적층물 상에 제1플라즈몬층을 형성하는 단계;를 포함하고,상기 제1플라즈몬층은 상기 적층물의 최상층을 형성한 후 MOCVD 장치에서 인시츄(in-situ)로 증착 형성하는 것인,플라즈몬층을 가지는 반도체소자 제조방법
2 2
청구항 1에 있어서,상기 제1플라즈몬층 상에 활성층을 MOCVD 장치에서 인시츄(in-situ)로 증착 형성하는 단계를 더 포함하는 것인,플라즈몬층을 가지는 반도체소자 제조방법
3 3
청구항 2에 있어서,상기 활성층을 형성한 후 상기 활성층 상에 상기 MOCVD 장치에서 인시츄로 제2플라즈몬층을 형성하는 것을 더 포함하는 것인,플라즈몬층을 가지는 반도체소자 제조방법
4 4
청구항 1에 있어서,상기 적층물의 최상층은 활성층인 것인,플라즈몬층을 가지는 반도체소자 제조방법
5 5
청구항 1에 있어서,상기 제1플라즈몬층의 증착 형성은, 플라즈몬 효과를 위한 금속 성분을 포함하는 MO소스를 이용하여 수행하는 것인,플라즈몬층을 가지는 반도체소자 제조방법
6 6
청구항 5에 있어서,상기 플라즈몬 효과를 위한 금속 성분을 포함하는 MO소스는 Ag를 포함하는 MO소스인 것인,플라즈몬층을 가지는 반도체소자 제조방법
7 7
청구항 5에 있어서, 상기 플라즈몬을 위한 금속 성분을 포함하는 MO소스는:트리에톡시포스핀실버(tri-ethoxy-phosphine-silver), 트리에틸포스핀실버(tri-ethyl-phosphine-silver), 트리메틸포스핀실버(tri-methyl-phosphine-silver), 헵테인디오나토실버(heptane-dionato-silver), 및 비닐트리에틸실레인실버(vinyl-tri-ethyl-silane-silver) 중 어느 하나를 포함하는 것인,플라즈몬층을 가지는 반도체소자 제조방법
8 8
청구항 3에 있어서, 상기 기판 상에 형성되어 상기 적층물에 포함된 제1반도체층과,상기 제2플라즈몬층 상에 형성된 제2반도체층을 포함하고,상기 제1반도체층과 상기 제2반도체층은 MOCVD로 형성된 n형과 p형의 AlxGayInzN(0≤x,y,z≤1)인 것인,플라즈몬층을 가지는 반도체소자 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.