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광대역 무선통신 시스템에서 채널의 도플러 주파수를 추정하기 위한 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015201322
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 광대역 무선통신 시스템에서 도플러 주파수 추정에 관한 것으로, 도플러 주파수 추정 방법은, 지연 확산의 영향을 받지 않는 CP 구간 및 상기 CP 구간의 원본에 해당하는 데이터 구간의 자기상관값 및 전력값을 산출하는 과정과, 상기 자기상관값에 대해 전력을 보상하는 과정과, 전력 보상된 자기상관값을 이용하여 최대 도플러 주파수를 결정하는 과정을 포함한다.
Int. CL H04B 17/00 (2006.01) H04L 27/26 (2006.01)
CPC H04L 27/2678(2013.01) H04L 27/2678(2013.01) H04L 27/2678(2013.01)
출원번호/일자 1020100046796 (2010.05.19)
출원인 삼성전자주식회사, 광운대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2011-0127362 (2011.11.25) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 36

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 광운대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 노원구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김인형 대한민국 경기도 용인시 기흥구
2 박민철 대한민국 경기도 수원시 영통구
3 오혁준 대한민국 경기도 성남시 분당구
4 남국현 대한민국 서울특별시 노원구
5 김연준 대한민국 서울특별시 노원구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이정순 대한민국 서울특별시 종로구 경희궁길 **, *층 리앤권법률특허사무소 (신문로*가, 서광빌딩)
2 권혁록 대한민국 서울특별시 종로구 경희궁길 **, *층 리앤권법률특허사무소 (신문로*가, 서광빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.05.19 수리 (Accepted) 1-1-2010-0320644-37
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.01.17 수리 (Accepted) 4-1-2011-5009922-84
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2011-5173743-65
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5132663-40
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.03 수리 (Accepted) 4-1-2014-5067673-62
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2015-5074994-12
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.05.09 수리 (Accepted) 4-1-2016-5056854-41
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.03.27 수리 (Accepted) 4-1-2017-5046666-19
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
광대역 무선통신 시스템에서 도플러 주파수 추정 방법에 있어서,지연 확산의 영향을 받지 않는 CP 구간 및 상기 CP 구간의 원본에 해당하는 데이터 구간의 자기상관값 및 전력값을 산출하는 과정과,상기 자기상관값에 대해 전력을 보상하는 과정과,전력 보상된 자기상관값을 이용하여 최대 도플러 주파수를 결정하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 자기상관값은, 실수 성분 및 허수 성분에 대하여 별도로 산출되며, 상기 CP 구간의 및 상기 원본 데이터 구간에서 서로 대응되는 위치의 샘플들의 수신값들을 서로 곱하고, 평균화함으로써 결정되는 것을 특징으로 하는 방법
3 3
제2항에 있어서,상기 자기상관값은, 하기 수식과 같이 결정되는 것을 특징으로 하는 방법,여기서, 상기 는 i번째 수신한 OFDM 심벌 실수 성분의 자기상관값, 상기 는 i번째 수신한 OFDM 심벌 허수 성분의 자기상관값, 상기 는 수신 OFDM 심벌의 실수 성분, 상기 는 수신 OFDM 심벌의 허수 성분, 상기 는 샘플 시간, 상기 은 OFDM 심벌 내에서 데이터 구간의 길이, 상기 은 OFDM 심벌 내에서 CP 구간의 길이, 상기 는 채널에 의한 지연 확산 길이를 의미함
4 4
제1항에 있어서,상기 전력값은, 실수 성분 및 허수 성분에 대하여 별도로 산출되며, 상기 CP 구간의 및 상기 원본 데이터 구간 각각에서 샘플들의 수신값들의 제곱의 평균을 산출한 후, CP 구간의 및 원본 데이터 구간에서 서로 대응되는 샘플들로부터 산출된 제곱의 평균들을 곱하고 제곱근을 산출함으로써 결정되는 것을 특징으로 하는 방법
5 5
제4항에 있어서,상기 전력값은, 하기 수식과 같이 결정되는 것을 특징으로 하는 방법,여기서, 상기 는 i번째 수신한 OFDM 심벌 실수 성분의 전력, 상기 는 i번째 수신한 OFDM 심벌 허수 성분의 전력, 상기 는 수신 OFDM 심벌의 실수 성분, 상기 는 수신 OFDM 심벌의 허수 성분, 상기 는 샘플 시간, 상기 은 OFDM 심벌 내에서 데이터 구간의 길이, 상기 은 OFDM 심벌 내에서 CP 구간의 길이, 상기 는 채널에 의한 지연 확산 길이를 의미함
6 6
제1항에 있어서,상기 자기상관값에 대해 전력을 보상하는 과정은,실수 성분 및 허수 성분 각각의 자기상관값을 전력값으로 나누는 과정과,나눗셈의 결과를 평균함으로써 전력 보상된 자기상관값을 결정하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
7 7
제6항에 있어서,상기 전력 보상된 자기상관값은, 다수의 OFDM 심벌들에 대한 평균 자기상관값인 것을 특징으로 하는 방법
8 8
제1항에 있어서,상기 최대 도플러 주파수를 결정하는 과정은,상기 전력 보상된 자기상관값에 대해 역베셀 함수를 취하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
9 9
제8항에 있어서,상기 역베셀 함수의 연산은, 상기 역베셀 함수를 직접 구현한 연산 알고리즘 또는 역베셀 룩업 테이블을 통해 수행되는 것을 특징으로 하는 방법
10 10
제9항에 있어서,상기 최대 도플러 주파수는, 하기 수식과 같이 결정되는 것을 특징으로 하는 방법,여기서, 상기 는 최대 도플러 주파수, 상기 는 역베셀 함수, 상기 는 다수의 OFDM 심벌들에 대한 자기상관값들의 평균값, 상기 는 샘플 시간, 상기 은 OFDM 심벌 내에서 데이터 구간의 길이를 의미함
11 11
제1항에 있어서,상기 CP 구간 및 상기 CP 구간의 원본 데이터 간의 샘플별 평균 상관값을 산출하는 과정과,상기 샘플별 평균 상관값들에 대한 차이값들을 산출하는 과정과,상기 차이값들을 이용하여 채널 탭들의 이득값들을 산출하는 과정과,상기 이득값들 중 적어도 하나의 유효한 이득값을 추출하는 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
12 12
광대역 무선통신 시스템에서 확산 지연 추정 방법에 있어서,CP 구간 및 상기 CP 구간의 원본 데이터 간의 샘플별 평균 상관값을 산출하는 과정과,상기 샘플별 평균 상관값들에 대한 차이값들을 산출하는 과정과,상기 차이값들을 이용하여 채널 탭들의 이득값들을 산출하는 과정과,상기 이득값들 중 적어도 하나의 유효한 이득값을 추출하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
13 13
제12항에 있어서,상기 평균 상관값은, CP 구간 및 데이터 구간에서 서로 대응되는 샘플들의 수신값들의 상관값을 다수의 OFDM 심벌들에 걸쳐 누적한 제1값, CP 구간의 샘플의 수신값의 제곱을 다수의 OFDM 심벌들에 걸져 누적한 제2값 및 데이터 구간의 샘플의 수신값의 제곱을 다수의 OFDM 심벌들에 걸져 누적한 제3값을 산출한 후, 상기 제1값을 상기 제2값의 제곱근 및 상기 제3값의 제곱의 곱으로 나눔으로써 결정되는 것을 특징으로 하는 방법
14 14
제12항에 있어서,상기 평균 상관값은, 이전 평균 상관값에 최근 산출된 순시 상관값 및 가중치의 곱을 합산함으로써 결정되는 것을 특징으로 하는 방법
15 15
제12항에 있어서,상기 이득값들을 산출하는 과정은,모든 채널 탭들의 전력의 합을 측정하는 과정과,상기 모든 채널 탭들의 전력의 합을 특정 샘플 쌍(pair)의 차이값에 곱하는 과정과, 상기 모든 채널 탭들의 전력의 합 및 상기 차이값의 곱의 제곱근을 산출함으로써 상기 샘플 쌍 중 하나의 샘플의 위치에 대응되는 탭의 이득값을 산출하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
16 16
제12항에 있어서,상기 적어도 하나의 유효한 이득값을 추출하는 과정은, 문턱값을 설정하는 과정과,상기 문턱값보다 작은 적어도 하나의 이득값을 배제하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
17 17
제16항에 있어서,상기 문턱값은, 최대 이득값, 채널 품질을 나타내는 값 및 평균 상관값에 이용된 OFDM 심벌의 개수을 이용하여 결정되는 것을 특징으로 하는 방법
18 18
제17항에 있어서,상기 문턱값은, 하기 수식과 같이 결정되는 것을 특징으로 하는 방법,여기서, 상기 는 문턱값, 상기 는 스케일링 상수, 상기 는 채널 탭들의 이득값들 중 최대값, 상기 은 신호대 잡음비, 상기 는 상관값 평균화를 위한 반복 연산의 횟수, 즉, 평균 상관값에 이용된 OFDM 심벌의 개수를 의미함
19 19
광대역 무선통신 시스템에서 도플러 주파수를 추정하는 무선 노드 장치에 있어서,지연 확산의 영향을 받지 않는 CP 구간 및 상기 CP 구간의 원본에 해당하는 데이터 구간의 자기상관값을 산출하는 상관기와상기 지연 확산의 영향을 받지 않는 CP 구간 및 상기 CP 구간의 원본에 해당하는 데이터 구간의 전력값을 산출하는 측정기와,상기 자기상관값에 대해 전력을 보상하는 보상기와,전력 보상된 자기상관값을 이용하여 최대 도플러 주파수를 결정하는 연산기를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치
20 20
제19항에 있어서,상기 자기상관값은, 실수 성분 및 허수 성분에 대하여 별도로 산출되며, 상기 CP 구간의 및 상기 원본 데이터 구간에서 서로 대응되는 위치의 샘플들의 수신값들을 서로 곱하고, 평균화함으로써 결정되는 것을 특징으로 하는 장치
21 21
제20항에 있어서,상기 자기상관값은, 하기 수식과 같이 결정되는 것을 특징으로 하는 장치,여기서, 상기 는 i번째 수신한 OFDM 심벌 실수 성분의 자기상관값, 상기 는 i번째 수신한 OFDM 심벌 허수 성분의 자기상관값, 상기 는 수신 OFDM 심벌의 실수 성분, 상기 는 수신 OFDM 심벌의 허수 성분, 상기 는 샘플 시간, 상기 은 OFDM 심벌 내에서 데이터 구간의 길이, 상기 은 OFDM 심벌 내에서 CP 구간의 길이, 상기 는 채널에 의한 지연 확산 길이를 의미함
22 22
제19항에 있어서,상기 전력값은, 실수 성분 및 허수 성분에 대하여 별도로 산출되며, 상기 CP 구간의 및 상기 원본 데이터 구간 각각에서 샘플들의 수신값들의 제곱의 평균을 산출한 후, CP 구간의 및 원본 데이터 구간에서 서로 대응되는 샘플들로부터 산출된 제곱의 평균들을 곱하고 제곱근을 산출함으로써 결정되는 것을 특징으로 하는 장치
23 23
제22항에 있어서,상기 전력값은, 하기 수식과 같이 결정되는 것을 특징으로 하는 장치,여기서, 상기 는 i번째 수신한 OFDM 심벌 실수 성분의 전력, 상기 는 i번째 수신한 OFDM 심벌 허수 성분의 전력, 상기 는 수신 OFDM 심벌의 실수 성분, 상기 는 수신 OFDM 심벌의 허수 성분, 상기 는 샘플 시간, 상기 은 OFDM 심벌 내에서 데이터 구간의 길이, 상기 은 OFDM 심벌 내에서 CP 구간의 길이, 상기 는 채널에 의한 지연 확산 길이를 의미함
24 24
제19항에 있어서,상기 보상기는, 실수 성분 및 허수 성분 각각의 자기상관값을 전력값으로 나누고, 나눗셈의 결과를 평균함으로써 전력 보상된 자기상관값을 결정하는 것을 특징으로 하는 장치
25 25
제24항에 있어서,상기 전력 보상된 자기상관값은, 다수의 OFDM 심벌들에 대한 평균 자기상관값인 것을 특징으로 하는 장치
26 26
제19항에 있어서,상기 연산기는, 상기 전력 보상된 자기상관값에 대해 역베셀 함수를 취하는 것을 특징으로 하는 장치
27 27
제26항에 있어서,상기 역베셀 함수의 연산은, 상기 역베셀 함수를 직접 구현한 연산 알고리즘 또는 역베셀 룩업 테이블을 통해 수행되는 것을 특징으로 하는 장치
28 28
제27항에 있어서,상기 최대 도플러 주파수는, 하기 수식과 같이 결정되는 것을 특징으로 하는 장치,여기서, 상기 는 최대 도플러 주파수, 상기 는 역베셀 함수, 상기 는 다수의 OFDM 심벌들에 대한 자기상관값들의 평균값, 상기 는 샘플 시간, 상기 은 OFDM 심벌 내에서 데이터 구간의 길이를 의미함
29 29
제19항에 있어서,상기 CP 구간 및 상기 CP 구간의 원본 데이터 간의 샘플별 평균 상관값을 산출하는 제1산출기와,상기 샘플별 평균 상관값들에 대한 차이값들을 산출하는 차분기와,상기 차이값들을 이용하여 채널 탭들의 이득값들을 산출하는 제2산출기와,상기 이득값들 중 적어도 하나의 유효한 이득값을 추출하는 비교기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 장치
30 30
광대역 무선통신 시스템에서 확산 지연을 추정하는 무선 노드 장치에 있어서,CP 구간 및 상기 CP 구간의 원본 데이터 간의 샘플별 평균 상관값을 산출하는 제1산출기와,상기 샘플별 평균 상관값들에 대한 차이값들을 산출하는 차분기와,상기 차이값들을 이용하여 채널 탭들의 이득값들을 산출하는 제2산출기와,상기 이득값들 중 적어도 하나의 유효한 이득값을 추출하는 비교기를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치
31 31
제30항에 있어서,상기 평균 상관값은, CP 구간 및 데이터 구간에서 서로 대응되는 샘플들의 수신값들의 상관값을 다수의 OFDM 심벌들에 걸쳐 누적한 제1값, CP 구간의 샘플의 수신값의 제곱을 다수의 OFDM 심벌들에 걸져 누적한 제2값 및 데이터 구간의 샘플의 수신값의 제곱을 다수의 OFDM 심벌들에 걸져 누적한 제3값을 산출한 후, 상기 제1값을 상기 제2값의 제곱근 및 상기 제3값의 제곱의 곱으로 나눔으로써 결정되는 것을 특징으로 하는 장치
32 32
제30항에 있어서,상기 평균 상관값은, 이전 평균 상관값에 최근 산출된 순시 상관값 및 가중치의 곱을 합산함으로써 결정되는 것을 특징으로 하는 장치
33 33
제30항에 있어서,상기 제2산출기는, 모든 채널 탭들의 전력의 합을 측정하고, 상기 모든 채널 탭들의 전력의 합을 특정 샘플 쌍(pair)의 차이값에 곱한 후, 상기 모든 채널 탭들의 전력의 합 및 상기 차이값의 곱의 제곱근을 산출함으로써 상기 샘플 쌍 중 하나의 샘플의 위치에 대응되는 탭의 이득값을 산출하는 것을 특징으로 하는 장치
34 34
제30항에 있어서,상기 비교기는, 문턱값을 설정하고, 상기 문턱값보다 작은 적어도 하나의 이득값을 배제하는 것을 특징으로 하는 장치
35 35
제34항에 있어서,상기 문턱값은, 최대 이득값, 채널 품질을 나타내는 값 및 평균 상관값에 이용된 OFDM 심벌의 개수을 이용하여 결정되는 것을 특징으로 하는 장치
36 36
제35항에 있어서,상기 문턱값은, 하기 수식과 같이 결정되는 것을 특징으로 하는 장치,여기서, 상기 는 문턱값, 상기 는 스케일링 상수, 상기 는 채널 탭들의 이득값들 중 최대값, 상기 은 신호대 잡음비, 상기 는 상관값 평균화를 위한 반복 연산의 횟수, 즉, 평균 상관값에 이용된 OFDM 심벌의 개수를 의미함
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.