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저항막 방식의 터치스크린 모듈의 비정형 불량을 검출하기 위한 비정형 불량 검사 장치에 있어서,상기 터치스크린 모듈이 안착되는 검사 스테이지와;상기 검사 스테이지에 안착된 상기 터치스크린 모듈에 검사광을 조사하는 적어도 하나의 광원과;상기 검사 스테이지에 안착된 상기 터치스크린 모듈을 촬영하는 카메라 모듈과;상기 터치스크린 모듈이 상기 검사 스테이지의 판면을 정의하는 X축과 Y축, 상기 X축과 상기 Y축에 각각 직교하는 Z축 중 적어도 어느 한 축을 중심으로 회전하도록 상기 검사 스테이지를 회전시키는 스테이지 구동부와;상기 스테이지 구동 모듈이 상기 검사 스테이지를 회전시키도록 제어하고, 상기 검사 스테이지의 회전에 따라 상기 카메라 모듈이 상기 터치스크린 모듈을 복수 회 촬영하도록 제어하며, 상기 카메라 모듈에 의해 복수 회 촬영된 영상을 디지털 영상 처리하여 상기 비정형 불량을 검출하는 검출 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 모듈의 비정형 불량을 검출하기 위한 비정형 불량 검사 장치
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제1항에 있어서,상기 스테이지 구동부는,상기 검사 스테이지를 상기 X축을 중심으로 회전시키는 X축 회전 구동부와;상기 검사 스테이지를 상기 Y축을 중심으로 회전시키는 Y축 회전 구동부와;상기 검사 스테이지를 상기 Z축을 중심으로 회전시키는 Z축 회전 구동부 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 모듈의 비정형 불량 검출을 위한 비정형 불량 검사 장치
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제2항에 있어서,상기 스테이지 구동부는,상기 검사 스테이지를 X축 방향으로 이동시키는 X축 구동부와;상기 검사 스테이지를 Y축 방향으로 이동시키는 Y축 구동부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 모듈의 비정형 불량 검출을 위한 비정형 불량 검사 장치
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제2항에 있어서,상기 검출 제어부는,상기 복수 회 촬영된 영상 각각을 전처리하고,상기 전처리된 영상과 기 등록된 영상 간의 패턴 매칭을 통해 비정형 불량을 검출하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 모듈의 비정형 불량 검출을 위한 비정형 불량 검사 장치
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저항막 방식의 터치스크린 모듈의 비정형 불량을 검출하기 위한 비정형 불량 검사 방법에 있어서,(a) 검사 스테이지에 상기 터치스크린 모듈을 안착시키는 단계와;(b) 상기 검사 스테이지에 안착된 상기 터치스크린 모듈에 광을 조사하는 단계와;(c) 카메라를 통해 상기 검사 스테이지에 안착된 상기 터치스크린 모듈을 촬영하는 단계와;(d) 상기 카메라에 의해 촬영된 영상을 디지털 영상 처리하여 상기 비정형 불량을 검출하는 단계와;(e) 상기 터치스크린 모듈이 상기 검사 스테이지의 판면을 정의하는 X축과 Y축, 상기 X축과 상기 Y축에 각각 직교하는 Z축 중 적어도 어느 한 축을 중심으로 회전하도록 상기 검사 스테이지를 회전시키는 단계와;(f) 상기 (e) 단계를 통해 회전된 상기 검사 스테이지 상의 상기 터치스크린 모듈에 대해 상기 (b) 단계 내지 상기 (d) 단계를 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 모듈의 비정형 불량을 검출하기 위한 비정형 불량 검사 방법
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제5항에 있어서,상기 (e) 단계는,상기 검사 스테이지를 상기 X축을 중심으로 회전시키는 단계와;상기 검사 스테이지를 상기 Y축을 중심으로 회전시키는 단계와;상기 검사 스테이지를 상기 Z축을 중심으로 회전시키는 단계 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 모듈의 비정형 불량 검출을 위한 비정형 불량 검사 방법
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제5항에 있어서,상기 (d) 단계는,상기 촬영된 영상을 전처리하는 단계와;상기 전처리된 영상과 기 등록된 영상 간의 패턴 매칭하는 단계와;상기 패턴 매칭 결과에 기초하여 비정형 불량을 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 모듈의 비정형 불량 검출을 위한 비정형 불량 검사 방법
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