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특허 정보를 사용하여 기술 가치 예측 정보를 생성하는 기술 가치 예측 시스템의 정보 처리 방법에 있어서, 상기 기술 가치 예측 시스템이(A) 적어도 2 이상의 특허를 포함하는 특허로 구성되는 입수 특허 집합을 가공하고, 상기 특허 집합에 포함된 특허를 대상으로, 적어도 하나 이상의 요소 지수의 요소 지수별 요소 지수값를 산출하는 단계;(B) 요소 지수값을 사용하여 요소 지수별 예측 모델을 생성하는 단계;및(C) 상기 요소 지수별 예측 모델을 사용하여 요소 지수별 요소 지수 예측값을 생성하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 기술 가치 예측 시스템의 정보 처리 방법
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제 1항에 있어서,상기 요소 지수는 유망성 지수, 융합성 지수, 파급성 지수 중 어느 하나 이상인 것이며,상기 요소 지수는 기술 분야별로 생성되는 것인 것이며,상기 기술 분야는 기 설정된 깊이의 특허 기술 분류 정보를 사용하여 특정되는 것인 것을 특징으로 하는 기술 가치 예측 시스템의 정보 처리 방법
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제 2항에 있어서,상기 유망성 지수를 산출하는 것은(A11) 상기 특허 집합에 포함된 특허를 가공하는 단계;(A12) 가중치를 선정하는 단계;를 포함하며,상기 특허를 가공하는 것은 특허수의 조정 및 특허 증가율의 아웃 라이어 제거 및 정규화 중 어느 하나 이상을 수행하는 것인 것이며,상기 가중치의 선정은{(기술 분야의 특허 수 정규화 값*가중치) + (기술 분야의 특허 증가율 정규화 값 * (1 -가중치))}의 값으로 유망성 지수의 유망성 지수값으로 할 때, 기술 분야별로 기 설정된 가중치 변경 단위로 가중치를 변경하면서, 각 유망성 지수값의 최소값을 탐색하고, 탐색한 유망성 지수 중 최대값이 산출되는 시점의 가중치를 선택하는 것인 것이며,상기 가중치는 연도별로 독립적으로 계산하는 것인 것을 특징으로 하는 기술 가치 예측 시스템의 정보 처리 방법
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제 2항에 있어서,상기 융합성 지수를 산출하는 것은(A21) 상기 기술 분야에 대응되는 특허 집합의 특허들에 할당되어 있는 특허 분류의 개수를 입수하는 단계;및(A22) 상기 특허 분류가 해당되는 고유한 산업 분류의 개수를 입수하는 단계;를 포함하며,상기 융합성 지수는 고유한 산업 분류의 개수와 특허수를 사용하여 산출되는 것인 것을 특징으로 하는 기술 가치 예측 시스템의 정보 처리 방법
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제 2항에 있어서,상기 파급성 지수를 산출하는 것은(A31) 상기 기술 분야에 대응되는 특허 집합의 특허들의 피인용수를 산출하는 단계;및(A32) 상기 특허 집합의 특허수를 산출하는 단계;를 더 포함하며,상기 파급성 지수는 상기 피인용수와 상기 특허수를 사용하여 산출되는 것인 것을 특징으로 하는 기술 가치 예측 시스템의 정보 처리 방법
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제 2항에 있어서,상기 유망성 지수, 상기 융합성 지수, 상기 파급성 지수 및 요소 지수 예측값은 기술 분야별로 연도별로 산출되는 것인 것을
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제 1항에 있어서,상기 요소 지수별 예측 모델을 생성하는 것은(B11) 학습용 데이터 집합으로 예측 연도의 과거 2개 년도의 요소 지수값을 독립 변수로 입수하는 단계;(B12) 기 설정된 기계 학습 알고리즘으로 예측 연도의 요소 지수값을 생성하는 단계;(B13) 생성된 예측 연도의 요소 지수값과 테스트용 데이터 집합으로 테스팅을 수행하는 단계;및(B14) 예측 연도 직전 2개 연도의 요소 지수값으로 예측 연도의 지수값을 생성하는 예측 모델을 결정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 기술 가치 예측 시스템의 정보 처리 방법
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제 7항에 있어서,상기 기계 학습 알고리즘은 인공 신경망 알고리즘 계열의 역전파 알고리즘인 것을 특징으로 하는 기술 가치 예측 시스템의 정보 처리 방법
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제 8항에 있어서,상기 알고리즘은 은닉층이 1개인 3계층 퍼셉트론을 사용한 것인 것을 특징으로 하는 기술 가치 예측 시스템의 정보 처리 방법
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제 1항 내지 제 9항 중 어느 한 항의 방법을 사용하며,적어도 하나 이상의 요소 지수별 요소 지수값을 산출하는 요소 지수 산출 모듈;상기 요소 지수별 예측 모델을 생성하는 예측 모델 구성부;및상기 요소 지수별 예측 모델을 사용하여 요소 지수별 요소 지수 예측값을 생성하는 기술 가치 예측 모듈;을 포함하는 것을 특징으로 하는 기술 가치 예측 시스템
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