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금속 패턴 형성 방법

  • 기술번호 : KST2015202605
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 금속 패턴 형성 방법에 관한 것으로서, 구체적으로는 반도체의 포토 리소그래피(photo lithography) 공정에 있어 금속 막의 식각을 위한 에칭(etching) 공정을 생략한 간소화된 금속 패턴 형성 방법에 관한 것이다.본 발명의 실시예에 따르면, 반도체의 포토 리소그래피(photo lithography) 공정에 있어 에칭(etching) 공정을 생략함으로써, 에칭 공정에 수반되는 환경 유해 물질의 배출을 억제하여 친환경적 금속 패턴 형성 공정을 구현할 수 있고 나아가 공정 절차의 단순화를 통해 대량 생산에 유리할 수 있다.
Int. CL G03F 7/36 (2006.01) H01B 5/14 (2006.01)
CPC G03F 7/00(2013.01)G03F 7/00(2013.01)G03F 7/00(2013.01)
출원번호/일자 1020140034804 (2014.03.25)
출원인 한국산업기술대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2015-0111531 (2015.10.06) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.03.25)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국산업기술대학교산학협력단 대한민국 경기도 시흥시 산기대학로

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이성의 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 유시홍 대한민국 서울특별시 용산구
3 윤영우 대한민국 충청북도 청주시 흥덕구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인충정 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로***,*층(역삼동,성보역삼빌딩)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.03.25 수리 (Accepted) 1-1-2014-0286693-14
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.05.30 수리 (Accepted) 4-1-2014-0066577-70
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2014.09.04 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.10.14 수리 (Accepted) 9-1-2014-0082991-40
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2015.10.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0720893-90
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2015.12.21 수리 (Accepted) 1-1-2015-1250340-05
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2016.02.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0144559-34
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번호 청구항
1 1
기판 상에 포토 레지스트(photo resist) 패턴을 형성하는 단계;상기 포토 레지스트 패턴이 형성된 기판을 챔버(chamber) 내에 배치한 후 반응성 이온 에칭(Reactive ion etching) 플라즈마 표면처리 공정을 통해 상기 포토 레지스트 패턴이 형성된 기판을 표면처리하는 단계;상기 포토 레이지스트 패턴이 형성된 기판에 스핀코팅 공정을 통해 도전성 잉크를 도포하는 단계;상기 도포된 잉크를 소정의 건조 공정을 통해 금속화하는 단계; 및상기 포토 레지스트 패턴을 기판으로부터 선택적으로 박리 제거하는 단계를 포함하는 금속 패턴 형성 방법
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제 1항에 있어서,상기 반응성 이온 에칭 플라즈마 표면처리 공정은,상기 포토 레지스트 패턴이 형성된 기판을 아르곤(Ar) 가스를 이용하여 제1차 플라즈마 표면처리하는 단계; 및상기 포토 레지스트 패턴이 형성된 기판을 사불화탄소(CF4) 가스를 이용하여 제2차 플라즈마 표면처리하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 금속 패턴 형성 방법
3 3
제 1항에 있어서,상기 표면처리 단계의 수행 결과를 평가하기 위해 상기 기판의 접촉각 또는 표면 형태를 측정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 금속 패턴 형성 방법
4 4
제 3항에 있어서,상기 측정 결과 상기 도전성 잉크를 도포하기에 부적합한 것으로 확인되는 경우 상기 표면처리 단계를 반복하여 수행하는 것을 특징으로 하는 금속 패턴 형성 방법
5 5
제1 항에 있어서,상기 스핀코팅 공정을 통해 도전성 잉크를 도포하는 단계는,제작 대상 금속 패턴의 두께에 기초하여 스핀코팅을 수행하기 위한 블레이드(blade)의 회전 속도를 결정하는 것을 특징으로 금속 패턴 형성 방법
6 6
제 1항에 있어서,상기 스핀코팅 공정을 완료한 후 챔버 벽면 또는 챔버 벽면을 따라 흘러내린 도전성 잉크를 수거하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 금속 패턴 형성 방법
7 7
제 1항에 있어서,상기 도전성 잉크는 구리(Cu), 크롬(Cr), 은(Ag), 카본(C) 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 금속 패턴 형성 방법
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제 1항에 있어서,상기 기판은 세라믹 기판, 플라스틱 기판, 유리 기판 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 금속 패턴 형성 방법
9 9
제 8항에 있어서,상기 유리 기판은 소다라임 유리, 파이렉스 유리, 강화 유리 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 금속 패턴 형성 방법
10 10
제 1항에 있어서,상기 포토 레지스트 패턴을 기판으로부터 선택적으로 박리하여 제거하는 단계는,아세톤, 메탄올, 에탄올 중 적어도 어느 하나를 포함하는 용액을 이용하여 수행되는 것을 특징으로 하는 금속 패턴 형성 방법
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