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기판 배선전극 형성방법 및 이에 의해 제조된 기판

  • 기술번호 : KST2015202609
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 기판에 금속 전극 씨드층(seed layer)을 형성하는 방법 및 이에 의해 제조된 기판에 관한 것으로서, 구리와 크롬을 상기 기판상에 증착하여 상기 씨드층을 형성하며, 기판의 표면에 접하는 부분에는 크롬의 혼합비율이 구리의 혼합비율보다 많고, 씨드층의 상부 부분으로 갈수록 구리의 혼합비율이 점차 증가되도록 상기 씨드층의 두께 방향을 따라 구리와 크롬의 조성비율이 점차 변화되도록 증착하고, 씨드층의 두께 방향에 따른 구리와 크롬의 조성비율은 구리타겟과 크롬 타겟에 인가되는 구동전압의 세기 또는 전류량의 제어에 의해 변화되고, 상기 구리타겟에는 RF파워가 인가되고, 상기 크롬 타겟에는 DC파워가 인가되고, 시간의 경과에 따라 구리타겟에 인가되는 RF파워는 일정하게 유지하고 크롬 타겟에 인가되는 DC파워는 점차 감소하도록 제어하여, 기판상에 금속 씨드층을 형성하는데 있어서 여러 층의 멀티레이어 증착 공정을 이용하지 않음으로써, 증착된 전극의 두께가 감소하고, 타겟의 교체를 하지 않음으로써 제조 시간 및 제조 비용을 감소시킬 수 있어 공정을 단순화 시킬 수 있으며, 접착력이 우수한 금속 씨드층을 형성할 수 있ㄱ고, 증착된 기판의 상부 표면을 열처리하여 금속 박막층과 기판 간의 접착력 향상을 위한 별도의 접착층을 제거할 수 있게 된다.
Int. CL H01L 21/28 (2006.01)
CPC H01L 21/76871(2013.01) H01L 21/76871(2013.01)
출원번호/일자 1020120028032 (2012.03.20)
출원인 한국산업기술대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1348010-0000 (2013.12.27)
공개번호/일자 10-2013-0106481 (2013.09.30) 문서열기
공고번호/일자 (20140108) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.03.20)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국산업기술대학교산학협력단 대한민국 경기도 시흥시 산기대학로

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이성의 대한민국 경기 성남시 분당구
2 김완규 대한민국 인천 남동구
3 윤영우 대한민국 인천 남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인남촌 대한민국 서울특별시 종로구 새문안로*길 **, 도렴빌딩 ***호 (도렴동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 티에스젠 대구광역시 북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.03.20 수리 (Accepted) 1-1-2012-0222736-32
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.02.05 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.03.11 수리 (Accepted) 9-1-2013-0016303-43
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.03.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0179260-94
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.05.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0440254-29
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.05.20 수리 (Accepted) 1-1-2013-0440257-66
7 등록결정서
Decision to grant
2013.09.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0667306-64
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.05.30 수리 (Accepted) 4-1-2014-0066577-70
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번호 청구항
1 1
씨드층의 증착에 의하여 기판의 배선전극을 형성하는 방법에 있어서,구리와 크롬을 상기 기판상에 증착하여 상기 씨드층을 형성하며, 기판의 표면에 접하는 부분에는 크롬의 혼합비율이 구리의 혼합비율보다 많고, 상기 씨드층은 기판의 표면에 접하는 부분에서는 크롬의 혼합비율이 구리의 혼합비율보다 많고 기판의 표면에 접하는 부분으로부터 씨드층의 상부 부분을 향하여 상기 씨드층의 두께 방향을 따라 구리의 혼합비율이 점차 증가하며,상기 씨드층의 두께 방향에 따른 구리와 크롬의 조성비율은 구리타겟과 크롬타겟에 인가되는 구동전압의 세기 또는 전류량의 제어에 의해 변화되며,상기 구리타겟에는 RF파워가 인가되고, 상기 크롬타겟에는 DC파워가 인가되는 것을 특징으로 하는 기판 배선전극의 형성방법
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삭제
3 3
삭제
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삭제
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제 1 항에 있어서, 상기 씨드층의 증착이 완료된 기판에 RTA(rapid thermal process)에서 열처리하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 기판 배선전극의 형성방법
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제 1 항 및 제 5 항에 의한 기판 배선전극의 형성방법에 의해 제조된 씨드층을 포함하는 기판
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 한국기계연구원 부설 재료연구소 산업원천기술개발사업 정밀도금 기반 전자부품용 그린복합 성형기술 개발