| 요약 |
본 발명은 기술 가치 예측 배치 처리 시스템 및 그 시스템의 정보 처리 방법에 관한 것이다.본 발명의 기술 가치 예측 배치 처리 시스템은 (A) 제1 단위 기술에 대응되는 특허로 구성되는 제1 단위 기술별 제1 입수 특허 집합을 입수하는 단계; (B) 입수한 특허 집합에 포함된 특허를 대상으로, 적어도 하나 이상의 단위 기술 요소 지수의 단위 기술 요소 지수별 단위 기술 요소 지수값를 산출하는 단계; (C) 단위 기술 요소 지수값을 사용하여 단위 기술 요소 지수별 예측 모델을 생성하는 단계; (D) 상기 단위 기술 요소 지수별 예측 모델을 사용하여 단위 기술 요소 지수별 단위 기술 요소 지수 예측값을 생성하는 단계; 및 (E) 제2 단위 기술에 대응되는 특허로 구성되는 제2 단위 기술별 제2 입수 특허 집합을 입수하고, 상기 제2 입수 특허 집합에 대하여, 상기 (B) 내지 (D) 단계를 수행하는 단계;를 포함하여 정보 처리하는 것이 특징이다.본 발명을 활용하면 다양한 관점에서 다양한 규모의 기술 각각에 대하여 기술 분야별로 유망성 지수, 융합성 지수 및 파급성 지수를 주기적으로 대량 산출할 수 있고, 각각의 기술 분야별로 각 연도별로 유망성 지수, 융합성 지수 및 파급성 지수를 산출할 수 있으며, 현재까지의 요소 지수값을 사용하며, 미래의 요소 지수별 예측값을 산출할 수 있으며, 나아가 특허 분류를 기술 분야로 활용할 수 있어, IPC 7만여개, USPC 16만 여개 중에서 선택되는 깊이별로 사전에 대량 생산하여, 필요한 때에 조회하여 활용할 수 있게 된다.
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