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이상치 탐지 기법을 이용한 가상 계측 결과의 신뢰도 추정 방법

  • 기술번호 : KST2015202854
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 통계적 공정 관리 시스템에서의 가상 계측 결과의 신뢰도 추정 방법에 있어서, 공정 설비의 공정 설비 데이터와 계측 설비의 계측 데이터를 이용하여 가상 계측 모델을 구축하는 단계, 상기 가상 계측 모델 구축에 사용된 공정 설비 데이터를 정상적인 데이터로 가정하여 이상치 탐지(novelty detection) 모델을 구축하는 단계, 새로운 웨이퍼가 상기 가상 계측 모델에 투입되면, 상기 웨이퍼의 공정 설비 데이터를 상기 이상치 탐지 모델에 투입하여 상기 가상 계측 모델 구축 시의 공정 설비 데이터들과의 유사도를 측정하는 단계, 상기 웨이퍼의 공정 설비 데이터가 상기 가상 계측 모델 구축 시의 공정 설비 데이터들과 유사하면, 상기 웨이퍼에 대한 가상 계측 결과에 대한 신뢰도가 높은 것으로 추정하는 단계 및 상기 웨이퍼의 공정 설비 데이터가 상기 가상 계측 모델 구축 시의 공정 설비 데이터들과 유사하지 않으면, 상기 웨이퍼에 대한 가상 계측 결과에 대한 신뢰도가 낮은 것으로 추정하는 단계를 포함한다. 본 발명에 의하면, 가상 계측 결과를 추정된 신뢰도에 따라 취사선택하여 공정 제어에 활용함으로써 반도체 공정의 생산성 향상을 기대할 수 있는 효과가 있다.
Int. CL G06F 17/10 (2006.01) G06Q 10/04 (2012.01) G06F 19/00 (2011.01)
CPC H01L 21/02002(2013.01) H01L 21/02002(2013.01) H01L 21/02002(2013.01) H01L 21/02002(2013.01)
출원번호/일자 1020120077636 (2012.07.17)
출원인 서울과학기술대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2014-0011064 (2014.01.28) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.07.17)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울과학기술대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 노원구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강필성 대한민국 서울 용산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김정현 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, *층 (역삼동, 신명빌딩)(한맥국제특허법률사무소)

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.07.17 수리 (Accepted) 1-1-2012-0569409-11
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.10.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0696454-82
3 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.12.06 수리 (Accepted) 1-1-2013-1118196-83
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.12.06 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-1118195-37
5 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2014.04.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0260142-28
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.06.23 수리 (Accepted) 4-1-2015-5084292-58
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.08.20 수리 (Accepted) 4-1-2015-5111449-53
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
통계적 공정 관리 시스템에서의 가상 계측 결과의 신뢰도 추정 방법에 있어서,공정 설비의 공정 설비 데이터와 계측 설비의 계측 데이터를 이용하여 가상 계측 모델을 구축하는 단계;상기 가상 계측 모델 구축에 사용된 공정 설비 데이터를 정상적인 데이터로 가정하여 이상치 탐지(novelty detection) 모델을 구축하는 단계;새로운 웨이퍼가 상기 가상 계측 모델에 투입되면, 상기 웨이퍼의 공정 설비 데이터를 상기 이상치 탐지 모델에 투입하여 상기 가상 계측 모델 구축 시의 공정 설비 데이터들과의 유사도를 측정하는 단계;상기 웨이퍼의 공정 설비 데이터가 상기 가상 계측 모델 구축 시의 공정 설비 데이터들과 유사하면, 상기 웨이퍼에 대한 가상 계측 결과에 대한 신뢰도가 높은 것으로 추정하는 단계; 및상기 웨이퍼의 공정 설비 데이터가 상기 가상 계측 모델 구축 시의 공정 설비 데이터들과 유사하지 않으면, 상기 웨이퍼에 대한 가상 계측 결과에 대한 신뢰도가 낮은 것으로 추정하는 단계를 포함하는 가상 계측 결과의 신뢰도 추정 방법
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제1항에 있어서,상기 웨이퍼에 대한 가상 계측 결과에 대한 신뢰도가 낮은 것으로 추정하는 경우, 상기 유사도가 낮게 추정된 원인이 되는 설비 변수를 탐지하는 단계; 및탐지된 설비 변수의 영향력을 추정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 가상 계측 결과의 신뢰도 추정 방법
3 3
제2항에 있어서,상기 영향력 추정 결과를 공정 제어에 활용하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 가상 계측 결과의 신뢰도 추정 방법
4 4
제2항에 있어서,상기 설비 변수를 탐지하는 단계에서, 상기 이상치 탐지 모델의 이상치 탐지 알고리즘을 이용하여 상기 유사도가 낮게 추정된 원인이 되는 설비 변수를 탐지하는 것을 특징으로 하는 가상 계측 결과의 신뢰도 추정 방법
5 5
제1항에 있어서,상기 가상 계측 모델을 구축하는 단계에서,다중 선형 회귀 분석(Multiple linear regression)을 예측 알고리즘으로 사용하여 가상 계측 모델을 구축하는 것을 특징으로 하는 가상 계측 결과의 신뢰도 추정 방법
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제1항에 있어서,상기 가상 계측 모델을 구축하는 단계에서,k-인접 이웃 회귀 분석(k-Nearest Neighbor Regression) 기법을 예측 알고리즘으로 사용하여 가상 계측 모델을 구축하는 것을 특징으로 하는 가상 계측 결과의 신뢰도 추정 방법
7 7
제1항에 있어서,상기 가상 계측 모델을 구축하는 단계에서,인공신경망(Artificial Neural Networks) 기법을 예측 알고리즘으로 사용하여 가상 계측 모델을 구축하는 것을 특징으로 하는 가상 계측 결과의 신뢰도 추정 방법
8 8
제1항에 있어서,상기 가상 계측 모델을 구축하는 단계에서,지지벡터회귀(Support Vector Regression) 기법을 예측 알고리즘으로 사용하여 가상 계측 모델을 구축하는 것을 특징으로 하는 가상 계측 결과의 신뢰도 추정 방법
9 9
제1항에 있어서,가우시안 분포 추정(Gaussian density estimator)을 이용하여 가상 계측 결과에 대한 신뢰도를 추정하는 것을 특징으로 하는 가상 계측 결과의 신뢰도 추정 방법
10 10
제1항에 있어서,K-평균 군집화(K-means clustering)를 이용하여 가상 계측 결과에 대한 신뢰도를 추정하는 것을 특징으로 하는 가상 계측 결과의 신뢰도 추정 방법
11 11
제1항에 있어서,MoG(Mixture of Gaussian) 기법을 이용하여 가상 계측 결과에 대한 신뢰도를 추정하는 것을 특징으로 하는 가상 계측 결과의 신뢰도 추정 방법
12 12
제1항에 있어서,k-NN(k-Nearest Neighbor) 기법을 이용하여 가상 계측 결과에 대한 신뢰도를 추정하는 것을 특징으로 하는 가상 계측 결과의 신뢰도 추정 방법
13 13
제1항에 있어서,SVDD(Support Vector Data Description)를 이용하여 가상 계측 결과에 대한 신뢰도를 추정하는 것을 특징으로 하는 가상 계측 결과의 신뢰도 추정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.