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번인 테스트 장치로서,번인 테스트용 병렬 신호 패턴을 생성하기 위한 신호 패턴 생성부;상기 신호 패턴 생성부로부터 전달된 병렬 신호 패턴의 전압 레벨을 조정하며, 병렬 신호 패턴에 대한 직렬화를 수행하여 직렬 신호 패턴을 출력하기 위한 드라이버; 및상기 드라이버로부터 전달된 상기 직렬 신호 패턴을 병렬처리구간과 직렬처리구간별로 전송속도를 상이하게 전달하기 위해 상기 직렬 신호 패턴에 대한 병렬화 및 직렬화를 통해 출력된 직렬 신호 패턴을 고속으로 번인 테스트용 칩에 전송하기 위한 번인보드;를 포함하는 고속 신호 전송용 번인 테스트 장치
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제 1 항에 있어서,상기 드라이버는,상기 신호 패턴 생성부로부터 전달된 병렬 신호 패턴에 대한 직렬화를 통해 출력된 직렬 신호 패턴을 상기 번인보드로 전달하는 것을 특징으로 하며,상기 번인보드는, 상기 드라이버로부터 전달된 직렬 신호 패턴에 대한 병렬화를 통해 상기 칩의 인접 구간까지 병렬 신호 패턴으로 전송한 후 직렬화를 수행하여, 상기 칩에 이르는 구간에서 직렬 신호 패턴으로 전송하는 것을 특징으로 하는 고속 신호 전송용 번인 테스트 장치
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제 2 항에 있어서,상기 드라이버는,상기 신호 패턴 생성부로부터 전달된 병렬 신호 패턴에 대한 직렬화를 수행하기 위한 제1 직렬처리부를 포함하는 것을 특징으로 하는 고속 신호 전송용 번인 테스트 장치
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제 2 항에 있어서,상기 번인보드는,상기 드라이버로부터 전달된 직렬 신호 패턴에 대한 병렬화를 수행하여 저속으로 병렬 신호 패턴을 출력하기 위한 병렬처리부; 및상기 병렬처리부로부터 전달된 병렬 신호 패턴에 대한 직렬화를 수행하여 상기 칩으로 고속으로 직렬 신호 패턴을 출력하기 위한 제2 직렬처리부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 고속 신호 전송용 번인 테스트 장치
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제 3 항 또는 제 4 항에 있어서,상기 제1 및 제2 직렬처리부는,병렬 신호 패턴에 대해 병렬 채널의 전송속도 및 개수에 따라 결정된 전송속도로 직렬 신호 패턴을 출력하는 것을 특징으로 하는 고속 신호 전송용 번인 테스트 장치
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제 4 항에 있어서,상기 제2 직렬처리부로부터 전달된 직렬 신호 패턴을 다수의 칩에 전달하기 위한 복수의 신호 분배부를 더 포함하는 고속 신호 전송용 번인 테스트 장치
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번인 테스트 장치로서,번인 테스트용 병렬 신호 패턴을 생성하기 위한 신호 패턴 생성부;상기 신호 패턴 생성부로부터 전달된 병렬 신호 패턴에 대한 직렬화를 통해 직렬 신호 패턴을 출력하기 위한 드라이버; 및번인보드;를 포함하며,상기 번인보드는, 상기 드라이버로부터 전달된 직렬 신호 패턴에 대한 병렬화를 수행하여 저속으로 병렬 신호 패턴을 출력하기 위한 병렬처리부; 상기 병렬처리부로부터 전달된 병렬 신호 패턴에 대한 직렬화를 수행하여 칩에 고속으로 직렬 신호 패턴을 출력하기 위한 복수의 직렬처리부; 및각각 상기 직렬처리부와 다수의 칩 사이에 배치되어 직렬 신호 패턴을 상기 다수의 칩에 전달하기 위한 복수의 신호 분배부;를 포함하는 고속 신호 전송용 번인 테스트 장치
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번인보드로서,외부로부터 전달된 직렬 신호 패턴에 대한 병렬화를 수행하여 저속으로 병렬 신호 패턴을 출력하기 위한 병렬처리부; 및상기 병렬처리부로부터 전달된 병렬 신호 패턴에 대한 직렬화를 수행하여 칩에 고속으로 직렬 신호 패턴을 출력하기 위한 직렬처리부;를 포함하는 번인보드
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제 9 항에 있어서,상기 직렬처리부로부터 전달된 직렬 신호 패턴을 다수의 칩에 전달하기 위한 복수의 신호 분배부를 더 포함하는 번인보드
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번인보드의 신호 전송 방법으로서,외부로부터 전달된 직렬 신호 패턴에 대한 병렬화를 수행하여 저속으로 병렬 신호 패턴을 출력하는 병렬화 단계; 및상기 병렬 신호 패턴에 대한 직렬화를 수행하여 칩에 고속으로 직렬 신호 패턴을 출력하는 직렬화 단계;를 포함하는 고속 신호 전송 방법
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