| 1 |
1
제 1 채널과 연결된 제 1 서브 포텐시오스타트 회로; 및제 2 채널과 연결된 제 2 서브 포텐시오스타트 회로를 포함하되,상기 제 1 서브 포텐시오스타트 회로는 제 1 OP 앰프 내지 제 5 OP 앰프를 포함하되, 제 1 OP 앰프의 출력단은 상기 제 1 채널의 카운터 전극과 연결되고, 상기 제 4 OP 앰프의 비반전단자는 상기 제 1 채널의 기준 전극과 연결되며, 상기 제 5 OP 앰프의 반전단자는 상기 제 1 채널의 워킹 전극과 연결되고, 상기 제 5 OP 앰프의 출력단은 LabVIEW 프로그램을 이용하여 분석하는 제 1 컴퓨터와 인터페이스된 제 1 아날로그-디지털 변환기(ADC)와 연결되며, 상기 제 1 OP 앰프의 비반전단자는 전원전압에 연결되며 반전단자는 상기 제 2 내지 제 4 OP 앰프들의 반전단자들과 연결되고, 상기 제 2 OP 앰프의 비반전단자는 제 1 디지털-아날로그 변환기(DAC)에 연결되고 반전단자는 상기 제 1 OP 앰프, 상기 제 3 OP 앰프 및 상기 제 4 OP 앰프의 반전단자들과 연결되며, 상기 제 3 OP 앰프의 비반전단자는 상기 제 5 OP 앰프의 비반전단자와 연결되며 반전단자는 상기 제 1 OP 앰프, 상기 제 2 OP 앰프 및 상기 제 4 OP 앰프의 반전단자들에 연결되고, 상기 제 4 OP 앰프의 반전단자는 제 1 내지 제 3 OP 앰프들의 반전단자들에 연결되며, 상기 제 5 OP 앰프의 비반전단자는 상기 제 3 OP 앰프의 비반전단자와 연결되는 것을 특징으로 하는 분석 시스템에 사용되는 포텐시오스타트 회로
|
| 2 |
2
삭제
|
| 3 |
3
제1항에 있어서, 소정 신호가 상기 제 1 OP 앰프로 제공되어 상기 제 1 OP 앰프를 제어함에 의해 상기 제 1 OP 앰프와 연결된 카운터 전극에 소정 포텐셜이 설정되고, 상기 제 5 OP 앰프는 상기 워킹 전극을 통하여 입력된 전류를 전압으로 변환한 후 상기 제 1 ADC 소자로 제공하며, 상기 제 1 OP 앰프로 제공되는 신호의 파형은 상기 컴퓨터의 LabVIEW 프로그램에 의해 결정되는 것을 특징으로 하는 분석 시스템에 사용되는 포텐시오스타트 회로
|
| 4 |
4
제3항에 있어서, 상기 LabVIEW 프로그램은 파일을 저장하기 위한 코드, 데이터 획득을 위한 코드, 파형 생성을 위한 코드, 신호 에버리징을 위한 코드 및 타임스태핑을 위한 코드를 가지되,상기 신호 파형은 순환 전류법(Cyclic voltammetry)을 이용하는 경우에는 삼각파를 가지고, 펄스 전류법(pulsed voltammetry)을 이용하는 경우에는 구형파를 가지며, 크로노암페로메트리(chronoamperometry)를 이용하는 경우에는 고정된 DC 값을 가지는 것을 특징으로 하는 분석 시스템에 사용되는 포텐시오스타트 회로
|
| 5 |
5
제1항에 있어서, 상기 제 2 서브 포텐시오스타트 회로는 제 6 OP 앰프 내지 제 10 OP 앰프를 포함하되, 제 6 OP 앰프의 출력단은 상기 제 2 채널의 카운터 전극과 연결되고, 상기 제 9 OP 앰프의 비반전단자는 상기 제 6 채널의 기준 전극과 연결되며, 상기 제 10 OP 앰프의 반전단자는 상기 제 2 채널의 워킹 전극과 연결되고, 상기 제 10 OP 앰프의 출력단은 LabVIEW 프로그램을 이용하여 분석하는 제 2 컴퓨터와 인터페이스된 제 2 아날로그-디지털 변환기(ADC)와 연결되며, 상기 제 6 OP 앰프의 비반전단자는 전원전압에 연결되며 반전단자는 상기 제 7 내지 제 9 OP 앰프들의 반전단자들과 연결되고, 상기 제 7 OP 앰프의 비반전단자는 제 2 디지털-아날로그 변환기(DAC)에 연결되고 반전단자는 상기 제 6 OP 앰프, 상기 제 8 OP 앰프 및 상기 제 9 OP 앰프의 반전단자들과 연결되며, 상기 제 8 OP 앰프의 비반전단자는 상기 제 10 OP 앰프의 비반전단자와 연결되며 반전단자는 상기 제 6 OP 앰프, 상기 제 7 OP 앰프 및 상기 제 9 OP 앰프의 반전단자들에 연결되고, 상기 제 9 OP 앰프의 반전단자는 제 6 내지 제 8 OP 앰프들의 반전단자들에 연결되며, 상기 제 10 OP 앰프의 비반전단자는 상기 제 8 OP 앰프의 비반전단자와 연결되는 것을 특징으로 하는 분석 시스템에 사용되는 포텐시오스타트 회로
|
| 6 |
6
제1항에 있어서, 상기 제 1 OP 앰프 및 상기 제 3 OP 앰프는 단위 게인을 가지는 반전 증폭기이며, 상기 제 2 OP 앰프 및 상기 제 4 OP 앰프는 전압 플로어(Voltage Follower)인 것을 특징으로 하는 분석 시스템에 사용되는 포텐시오스타트 회로
|
| 7 |
7
제1항에 있어서, 상기 포텐시오스타트 회로는 각 채널별로 다른 분석법을 사용하여 다른 물질들의 반응 결과를 측정하는 것을 특징으로 하는 분석 시스템에 사용되는 포텐시오스타트 회로
|
| 8 |
8
제 1 채널과 연결된 제 1 서브 포텐시오스타트 회로 및 제 2 채널과 연결된 제 2 서브 포텐시오스타트 회로를 가지는 포텐시오스타트 회로;상기 제 1 서브 포텐시오스타트 회로에 연결된 제 1 ADC 소자;상기 제 2 서브 포텐시오스타트 회로에 연결된 제 2 ADC 소자; 및상기 제 1 ADC 소자 및 상기 제 2 ADC 소자와 연결된 컴퓨터를 포함하되,상기 서브 포텐시오스타트 회로들은 각기 적어도 하나의 OP 앰프를 가지되, 상기 제 1 서브 포텐시오스타트 회로는 제 1 OP 앰프 내지 제 5 OP 앰프를 포함하고, 제 1 OP 앰프의 출력단은 상기 제 1 채널의 카운터 전극과 연결되고, 상기 제 4 OP 앰프의 비반전단자는 상기 제 1 채널의 기준 전극과 연결되며, 상기 제 5 OP 앰프의 반전단자는 상기 제 1 채널의 워킹 전극과 연결되고, 상기 제 5 OP 앰프의 출력단은 LabVIEW 프로그램을 이용하여 분석하는 제 1 컴퓨터와 인터페이스된 제 1 아날로그-디지털 변환기(ADC)와 연결되며, 상기 제 1 OP 앰프의 비반전단자는 전원전압에 연결되며 반전단자는 상기 제 2 내지 제 4 OP 앰프들의 반전단자들과 연결되고, 상기 제 2 OP 앰프의 비반전단자는 제 1 디지털-아날로그 변환기(DAC)에 연결되고 반전단자는 상기 제 1 OP 앰프, 상기 제 3 OP 앰프 및 상기 제 4 OP 앰프의 반전단자들과 연결되며, 상기 제 3 OP 앰프의 비반전단자는 상기 제 5 OP 앰프의 비반전단자와 연결되며 반전단자는 상기 제 1 OP 앰프, 상기 제 2 OP 앰프 및 상기 제 4 OP 앰프의 반전단자들에 연결되고, 상기 제 4 OP 앰프의 반전단자는 제 1 내지 제 3 OP 앰프들의 반전단자들에 연결되며, 상기 제 5 OP 앰프의 비반전단자는 상기 제 3 OP 앰프의 비반전단자와 연결되는 것을 특징으로 하는 분석 시스템
|
| 9 |
9
제8항에 있어서, 상기 컴퓨터는 LabVIEW 프로그램을 이용하여 상기 포텐시오스타트 회로의 OP 앰프들 중 상기 제 1 채널의 카운터 전극과 연결된 OP 앰프 및 상기 제 2 채널의 카운터 전극과 연결된 OP 앰프로 제공되는 신호의 파형을 결정하는 것을 특징으로 하는 분석 시스템
|
| 10 |
10
제9항에 있어서, 상기 LabVIEW 프로그램은 파일을 저장하기 위한 코드, 데이터 획득을 위한 코드, 파형 생성을 위한 코드, 신호 에버리징을 위한 코드 및 타임스태핑을 위한 코드를 가지되,상기 신호 파형은 순환 전류법(Cyclic voltammetry)을 이용하는 경우에는 삼각파를 가지고, 펄스 전류법(pulsed voltammetry)을 이용하는 경우에는 구형파를 가지며, 크로노암페로메트리(chronoamperometry)를 이용하는 경우에는 고정된 DC 값을 가지는 것을 특징으로 하는 분석 시스템
|
| 11 |
11
제8항에 있어서, 상기 제 1 서브 포텐시오스타트 회로의 특정 OP 앰프는 상기 제 1 채널의 워킹 전극과 연결되어 상기 워킹 전극으로부터 제공되는 전류를 전압으로 변환시키고, 상기 제 2 서브 포텐시오스타트 회로의 특정 OP 앰프는 상기 제 2 채널의 워킹 전극과 연결되어 상기 워킹 전극으로부터 제공되는 전류를 전압으로 변환시키며, 상기 변환된 전압들은 상기 제 1 ADC 소자 및 상기 제 2 ADC 소자로 각기 제공되는 것을 특징으로 하는 분석 시스템
|
