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입자의 정량적 측정방법 및 그 장치

  • 기술번호 : KST2015205028
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 입자에 대한 분석 이미지를 수집 및 접촉점 수 계측 단계를 이용하여, 입자에 대한 분석 이미지를 수집하는 분석 이미지 수집단계; 및 상기 분석 이미지의 서로 이웃하지 않는 꼭짓점을 연결하는 대각선과 상기 분석 이미지상의 입자가 접촉하는 접촉점의 수를 계측하는 접촉점 계측단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 입자를 정량적으로 측정하는 방법을 제공한다.
Int. CL G01N 15/02 (2006.01) G06T 7/00 (2006.01)
CPC G01N 15/0227(2013.01) G01N 15/0227(2013.01) G01N 15/0227(2013.01) G01N 15/0227(2013.01)
출원번호/일자 1020120097398 (2012.09.03)
출원인 창원대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1371663-0000 (2014.03.03)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20140312) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.09.03)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 창원대학교 산학협력단 대한민국 경상남도 창원시 의창구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최희규 대한민국 부산광역시 동래구
2 이재현 대한민국 서울특별시 강동구
3 김성수 대한민국 경상남도 창원시 성산구
4 강문찬 대한민국 경상남도 창원시 성산구
5 배상현 대한민국 경상남도 창원시 마산합포구
6 최준우 대한민국 대구광역시 북구
7 김혜경 대한민국 경상남도 창원시 마산회원구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김종선 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로*길 **, 광성빌딩 **층 (역삼동)(케이엘피특허법률사무소)
2 이형석 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로*길 **, 광성빌딩 **층 (역삼동)(케이엘피특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 창원대학교 산학협력단 경상남도 창원시 의창구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.09.03 수리 (Accepted) 1-1-2012-0710999-91
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2012.09.05 수리 (Accepted) 1-1-2012-0716667-88
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2012.09.11 수리 (Accepted) 1-1-2012-0731831-77
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.08.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.10.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5131005-95
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.10.10 수리 (Accepted) 9-1-2013-0085693-29
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.10.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0737907-69
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.12.11 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-1135965-20
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.12.11 수리 (Accepted) 1-1-2013-1135956-19
10 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2014.01.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0046260-43
11 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2014.02.11 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2014-0134822-43
12 등록결정서
Decision to Grant Registration
2014.02.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0135277-84
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.10 수리 (Accepted) 4-1-2014-5044733-20
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.07.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5082716-34
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.01.30 수리 (Accepted) 4-1-2015-5013675-99
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.01.30 수리 (Accepted) 4-1-2015-5013674-43
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.07.20 수리 (Accepted) 4-1-2015-5096974-14
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.11.11 수리 (Accepted) 4-1-2016-5164273-80
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.04 수리 (Accepted) 4-1-2019-5229792-25
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.03.30 수리 (Accepted) 4-1-2020-5073723-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
입자에 대한 분쇄 전과 분쇄 후의 분석 이미지를 각각 수집하는 분석 이미지 수집단계; 및상기 분쇄 전과 분쇄 후에 수집된 분석 이미지의 서로 이웃하지 않는 꼭짓점을 연결하는 대각선과, 상기 대각선과 접촉하는 입자 각각에 대한 윤곽선을 도출하여, 상기 윤곽선과 상기 대각선의 접촉점 수를 계측하는 접촉점 계측단계; 및,상기 분쇄 전과 분쇄 후에 계측된 점촉점의 수를 비교하여, 분쇄 전과 분쇄 후의 이미지를 비교하는 분석 이미지 비교 단계;를 포함하고,상기 접촉점 계측단계에서,상기 입자의 윤곽선이 대각선과 접하여 교차점이 1개인 경우, 또는 상기 입자의 윤곽선이 대각선을 관통해서 교차점이 2개인 경우는 접촉점 1개인 것을 특징으로 하는 입자를 정량적으로 측정하는 방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 분석 이미지 수집 단계에서 분석이미지는 주사전자현미경(SEM)을 이용하여 촬영된 이미지, 또는 투사전자현미경(TEM)을 이용하여 촬영된 이미지로부터 얻는 것을 특징으로 하는 입자를 정량적으로 측정하는 방법
3 3
제 1 항에 있어서,상기 분석 이미지 수집 단계는 분쇄 전 입자의 이미지를 촬영한 제 1 이미지 촬영 단계 및 분쇄 후 입자의 이미지를 촬영한 제 2 이미지 촬영 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 입자를 정량적으로 측정하는 방법
4 4
제 1 항에 있어서,상기 분석 이미지 수집 단계 이후에, 촬영된 이미지가 3 차원 입자형상인 경우, 2 차원 입자형상 이미지로 변환시키는 단계를 추가적으로 포함하는 것을 특징으로 하는 입자를 정량적으로 측정하는 방법
5 5
삭제
6 6
삭제
7 7
삭제
8 8
분쇄 전과 분쇄 후의 입자를 각각 촬영하는 이미지 촬영부;상기 촬영된 분쇄 전과 분쇄 후의 입자가 각각 입력되는 이미지 입력부;상기 분쇄 전과 분쇄 후에 입력된 이미지의 서로 이웃하지 않는 꼭짓점을 연결하는 대각선과, 상기 대각선과 접촉하는 입자 각각에 대한 윤곽선을 도출하여, 상기 윤곽선과 상기 대각선의 접촉점 수를 계측하는 접촉점 계측부;상기 분쇄 전과 분쇄 후에 계측된 입자의 결과를 나타내는 표시부; 및,상기 분쇄 전과 분쇄 후에 계측된 접촉점의 수를 비교하여, 분쇄 전과 분쇄 후의 분석 이미지를 비교하는 분석 이미지 비교부;를 포함하고,상기 접촉점 계측부는,상기 입자의 윤곽선이 대각선과 접하여 교차점이 1개인 경우, 또는 상기 입자의 윤곽선이 대각선을 관통해서 교차점이 2개인 경우는 접촉점 1개인 것을 특징으로 하는 입자의 정량 분석 장치
9 9
제 8 항에 있어서,상기 이미지 촬영부는 주사전자현미경(SEM) 또는, 투사전자현미경(TEM)을 이용한 것을 특징으로 하는 입자의 정량 분석 장치
10 10
제 8 항에 있어서,상기 표시부는 CRT 디스플레이, 플라스마 디스플레이, EL 디스플레이, 액정 디스플레이 등으로 이루어진 디스플레이; 및 임팩트프린터, 시리얼 프린터, 라인 프린터, X-Y 플로터 등으로 이루어진 프린팅;으로 이루어진 군에서 선택되는 하나 이상으로 표시되는 것을 특징으로 하는 입자의 정량 분석 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 창원대학교 산학협력단 선도연구센터지원 초고온˙고성능 구조재료의 조직 제어기술