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에어로졸을 시료로 하여 광흡수계수를 측정하기 위한 시스템으로서,레이저를 조사하는 레이저광원;빔을 반사시키는 리트로리플렉터;상기 리트로리플렉터와의 사이에 시료가 위치하도록 설치되고, 상기 레이저 광원으로부터 입사되는 레이저를 각각 반사 및 투과시킴으로써 레퍼런스빔 및 프로브빔으로 분할되도록 하는 편광빔스플리터코팅층이 형성되며, 상기 레퍼런스빔과 상기 프로브빔이 상기 리트로리플렉터에 의해 반사됨으로써 시료를 통과하도록 반사시키는 반사코팅층이 형성되는 편광빔스플리터;상기 프로브빔에 시료의 굴절률의 변화를 주기 위해 가열레이저를 조사하는 가열레이저조사부;상기 편광빔스플리터를 통과하여 합쳐진 상기 레퍼런스빔과 상기 프로브빔의 편광상태를 변화시키는 베리어블리타더;상기 베리어블리타더를 통과한 상기 레퍼런스빔과 상기 프로브빔을 분할하되, 상기 레퍼런스빔과 상기 프로브빔의 편광면이 경로방향을 중심으로 일정 각도로 회전시키는 편광믹서; 및 상기 편광믹서로부터 조사되는 상기 레퍼런스빔과 상기 프로브빔을 각각 수신받아 전기적 신호로 변환하는 제 1 및 제 2 수광소자를 포함하는, 시료의 광흡수계수 측정시스템
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청구항 1에 있어서,상기 편광빔스플리터는,전면에 부분적으로 형성되는 상기 편광빔스플리터코팅층에 상기 레이저가 경사지게 조사되도록 하고, 상기 편광빔스플리터코팅층에 의해 반사되는 레퍼런스빔이 상기 리트로리플렉터에 반사되어 상기 전면에 입사됨으로써 상기 시료를 통과하도록 하며, 상기 전면에 입사된 상기 레퍼런스빔이 상기 반사코팅층과 상기 편광빔스플리터코팅층의 후측면에 반사되어 외측으로 투과되도록 하고, 상기 편광빔스플리터코팅층을 투과한 상기 프로브빔이 상기 반사코팅층과 상기 리트로리플렉터에 반사되어 상기 편광빔스플리터코팅층에 입사됨으로써 상기 시료를 통과하도록 하며, 상기 편광빔스플리터코팅층에 입사되는 상기 프로브빔이 외측으로 투과하는 상기 레퍼런스빔과 합쳐져서 외측으로 투과되도록 하는, 시료의 광흡수계수 측정시스템
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청구항 1에 있어서,상기 가열레이저조사부는,상기 편광빔스플리터코팅층에서 상기 리트로리플렉터에 반사된 상기 프로브빔이 입사되는 위치에 상기 가열레이저를 조사하는, 시료의 광흡수계수 측정시스템
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청구항 1에 있어서,상기 가열레이저조사부는,상기 가열레이저를 조사하는 가열레이저광원; 및상기 가열레이저광원으로부터 조사되는 가열레이저를 상기 프로브빔에 교차하도록 반사시키는 반사부재를 포함하는, 시료의 광흡수계수 측정시스템
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청구항 1에 있어서,상기 베리어블리타더는,시료가 없는 상태와 상기 가열레이저조사부로부터 가열레이저가 조사되지 아니한 상태에서, 상기 제 1 및 제 2 수광소자로부터 상기 레퍼런스빔과 상기 프로브빔 각각의 조사에 의해 출력되는 전압값이 동일하도록 상기 레퍼런스빔과 상기 프로브빔의 편광상태를 조절하는, 시료의 광흡수계수 측정시스템
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청구항 1에 있어서,상기 편광빔스플리터와 상기 리트로리플렉터와의 사이에 설치되고, 광투과성재질로 이루어지며, 상기 시료로서 에어로졸이 통과하도록 공급구와 배출구가 각각 형성되는 시료수용부를 더 포함하는, 시료의 광흡수계수 측정시스템
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에어로졸을 시료로 하여 광흡수계수를 측정하기 위한 방법으로서,레이저를 편광빔스플리터의 전면에 형성되는 편광빔스플리터코팅층에 경사지게 조사하여 각각 반사 및 투과되는 레퍼런스빔과 프로브빔으로 분할되도록 하고, 상기 레퍼런스빔과 상기 프로브빔이 리트로리플렉터와 상기 편광빔스플리터의 후면에 형성되는 반사코팅층에 의해 반사되도록 함으로써 상기 시료가 위치하는 영역을 통과하도록 하는 단계;상기 편광빔스플리터를 통과하여 합쳐진 상기 레퍼런스빔과 상기 프로브빔이 편광믹서를 통과하도록 하여, 각각의 편광면이 경로방향을 중심으로 일정 각도로 회전되도록 한 상기 레퍼런스빔과 상기 프로브빔으로 분할하여 제 1 및 제 2 수광소자에 각각 조사되도록 하는 단계;상기 영역에 시료를 위치시키지 않은 상태에서 상기 편광믹서의 전단에 설치된 베리어블리타더에 의해 상기 레퍼런스빔과 상기 프로브빔의 편광상태를 조절함으로써 상기 제 1 및 제 2 수광소자로부터 각각 출력되는 전압값이 동일하도록 셋팅하는 단계;상기 영역에 시료를 위치시킨 상태에서 상기 프로브빔에 가열레이저를 조사하여 상기 프로브빔의 굴절률을 변화시키는 단계; 및상기 제 1 및 제 2 수광소자로부터 상기 레퍼런스빔과 상기 프로브빔의 조사에 의해 각각 출력되는 전압값의 차이를 리딩하는 단계를 포함하는, 시료의 광흡수계수 측정방법
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청구항 7에 있어서,상기 레이저를 편광빔스플리터에 의해 레퍼런스빔과 프로브빔으로 분할하여 반사시키는 단계는,상기 편광빔스플리터의 전면에 부분적으로 형성되는 상기 편광빔스플리터코팅층에 상기 레이저가 경사지게 조사되도록 하고, 상기 편광빔스플리터코팅층에 의해 반사되는 상기 레퍼런스빔이 상기 리트로리플렉터에 반사되어 상기 전면에 입사됨으로써 상기 시료를 통과하도록 하며, 상기 전면에 입사된 상기 레퍼런스빔이 후면에 부분적으로 형성되는 상기 반사코팅층과 상기 편광빔스플리터코팅층의 후측면에 반사되어 외측으로 투과되도록 하고, 상기 편광빔스플리터코팅층을 투과한 상기 프로브빔이 상기 반사코팅층과 상기 리트로리플렉터에 반사되어 상기 편광빔스플리터코팅층에 입사됨으로써 상기 시료를 통과하도록 하며, 상기 편광빔스플리터코팅층에 입사되는 상기 프로브빔이 외측으로 투과하는 상기 레퍼런스빔과 합쳐져서 외측으로 투과되도록 하는, 시료의 광흡수계수 측정방법
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청구항 7에 있어서,상기 프로브빔의 굴절률을 변화시키는 단계는,상기 가열레이저를 상기 편광빔스플리터코팅층에서 상기 리트로리플렉터에 반사된 상기 프로브빔이 입사되는 위치에 조사하는, 시료의 광흡수계수 측정방법
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청구항 7에 있어서,상기 프로브빔의 굴절률을 변화시키는 단계는,상기 가열레이저를 상기 프로브빔에 교차하도록 조사하는, 시료의 광흡수계수 측정방법
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청구항 7에 있어서,상기 제 1 및 제 2 수광소자에 의해 각각 출력되는 전압값의 차이를 리딩하여 광흡수계수를 산출하는 단계를 더 포함하고,상기 광흡수계수를 산출하는 단계는,광흡수계수를 알고 있는 특정 농도의 특정 물질에 대해 얻어지는 상기 제 1 및 제 2 수광소자의 전압값 차이를 기준값으로서 리딩하고, 시료에 대한 얻어지는 상기 제 1 및 제 2 수광소자의 전압값 차이를 상기 기준값에 캘리브레이션하여 상기 시료의 광흡수계수를 산출하는, 시료의 광흡수계수 측정방법
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