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열화상을 이용한 결함 검출 장치 및 검출 방법

  • 기술번호 : KST2015205403
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 위상잠금 적외선 열화상(Lock-in Infrared Thermography) 기술을 이용하여 다양한 종류의 결함을 담고 있는 검사대상체의 결함을 검사하기 위한 열화상을 이용한 결함 검출 장치에 관한 것으로, 검사대상체에 주기적으로 복사열을 가하여 대상물의 온도를 변화시키는 열원; 상기 열원에 의해 변화된 온도를 갖는 대상물의 열화상 이미지를 촬영하는 영상 촬영부; 상기 열원을 일정한 주기로 동작하도록 제어하는 디지털신호와 상기 영상 촬영부의 촬영신호를 생성하고, 상기 영상 촬영부에서 촬영한 열화상 이미지를 2D 배열의 수치 데이터로 변환한 후, 2D 배열의 수치 데이터를 영상으로 변환하여 상기 검사대상체의 결함을 검출하는 제어부; 및 상기 제어부가 생성한 디지털신호를 아날로그신호로 변환하여 상기 열원으로 전달하고, 상기 열원이 동작하는 일정한 주기와 영상 촬영부를 동기화하는 인터페이스부; 를 포함하는 열화상을 이용한 결함 검출 장치를 제공한다.
Int. CL G06T 7/00 (2006.01) G01N 21/88 (2006.01) G01N 25/72 (2006.01) G01J 5/48 (2006.01)
CPC G01N 25/72(2013.01) G01N 25/72(2013.01) G01N 25/72(2013.01) G01N 25/72(2013.01)
출원번호/일자 1020110095693 (2011.09.22)
출원인 한국기술교육대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1290137-0000 (2013.07.22)
공개번호/일자 10-2013-0032031 (2013.04.01) 문서열기
공고번호/일자 (20130726) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.09.22)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기술교육대학교 산학협력단 대한민국 충청남도 천안시 동남구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김노유 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 나동규 대한민국 대전광역시 서구 문예로 **, *층 ***호(둔산동, 오성빌딩)(특허법인오암)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국기술교육대학교 산학협력단 충청남도 천안시 동남구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.09.22 수리 (Accepted) 1-1-2011-0738969-31
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.09.21 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.11.02 수리 (Accepted) 9-1-2012-0081834-43
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.12.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0747583-14
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2013.02.07 수리 (Accepted) 1-1-2013-0114894-16
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2013.03.07 수리 (Accepted) 1-1-2013-0198477-37
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.03.12 수리 (Accepted) 1-1-2013-0212124-66
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.03.12 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0212123-10
9 등록결정서
Decision to grant
2013.07.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0498557-97
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.10.02 수리 (Accepted) 4-1-2013-0045975-67
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.03.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5030298-98
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.11.19 수리 (Accepted) 4-1-2018-5234295-28
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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검사대상체에 주기적으로 복사열을 가하여 대상물의 온도를 변화시키는 열원;상기 열원에 의해 변화된 온도를 갖는 대상물의 열화상 이미지를 촬영하는 영상 촬영부;상기 열원을 일정한 주기로 동작하도록 제어하는 디지털신호와 상기 영상 촬영부의 촬영신호를 생성하고, 상기 영상 촬영부에서 촬영한 열화상 이미지를 2D 형태의 아스키(ASCII)코드로 변환한 후, 2D 형태의 아스키(ASCII)코드를 영상으로 변환하여 상기 검사대상체의 결함을 검출하는 제어부;상기 제어부가 생성한 디지털신호를 아날로그신호로 변환하여 상기 열원으로 전달하고, 상기 열원이 동작하는 일정한 주기와 영상 촬영부를 동기화하는 인터페이스부; 및상기 인터페이스부의 출력전압으로 상기 열원의 온도를 제어하기 위해 인터페이스부의 출력전압을 상기 열원의 동작전압까지 증폭시키는 증폭수단; 을 포함하는 열화상을 이용한 결함 검출 장치
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청구항 1에 있어서,상기 영상 촬영부로부터 전달받은 열화상 이미지를 실시간으로 표시하는 표시부를 더 포함하는 열화상을 이용한 결함 검출 장치
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청구항 2에 있어서,상기 표시부에 표시되는 열화상 이미지와 상기 열화상 이미지를 2D 형태의 아스키(ASCII)코드로 변환한 데이터 및 상기 2D 형태의 아스키(ASCII)코드를 영상으로 변환한 데이터를 저장하는 저장부를 더 포함하는 열화상을 이용한 결함 검출 장치
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청구항 1에 있어서,상기 제어부는 상기 열원을 일정한 주기로 동작하도록 제어하는 디지털신호와 상기 영상 촬영부의 촬영신호를 생성하고, 각 신호를 상기 인터페이스부로 전달하는 신호 생성부; 및상기 영상 촬영부에서 촬영한 열화상 이미지를 2D 형태의 아스키(ASCII)코드로 변환하고, 상기 2D 형태의 아스키(ASCII)코드를 영상으로 변환하여 상기 검사대상체의 결함을 검출하는 변환부를 포함하는 열화상을 이용한 결함 검출 장치
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삭제
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청구항 1에 있어서,상기 열화상 이미지를 2D 형태의 아스키(ASCII)코드로 변환하여 위상변화를 [수학식 1]을 통해 이미지화하는 열화상을 이용한 결함 검출 장치
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청구항 1에 있어서,상기 열화상 이미지를 2D 형태의 아스키(ASCII)코드로 변환하여 결함크기를 [수학식 2]를 통해 이미지화하는 열화상을 이용한 결함 검출 장치
8 8
삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.