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비정현파 신호를 이용한 적층형 전지의 상태 진단 장치 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2015205420
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 비정현파 신호를 이용한 적층형 전지의 상태 진단 장치 및 그 방법에 관한 것으로, 본 발명의 일 실시예에 따른 비정현파 신호를 이용한 적층형 전지의 상태 진단 장치는, 적층형 전지에 진단용 비정현파 신호를 인가하는 신호 발생부와, 상기 적층형 전지로부터 상기 진단용 비정현파 신호에 대응한 응답신호를 측정하는 신호 처리부와, 상기 응답신호의 기울기를 이용하여 상기 적층형 전지의 이상 유무를 판단하는 판단부를 포함한다.이에 따라, 적층형 전지의 상태를 진단하기 위해 적층형 전지에 진단용 비정현파 신호를 인가한 후, 그 응답신호의 기울기를 분석하여 선형성 여부에 따라 적층형 전지의 성능 열화를 판단함으로써 적층형 전지의 상태를 간단하게 진단할 수 있다.
Int. CL G01R 31/36 (2006.01)
CPC G01R 31/3679(2013.01) G01R 31/3679(2013.01) G01R 31/3679(2013.01) G01R 31/3679(2013.01) G01R 31/3679(2013.01)
출원번호/일자 1020120045665 (2012.04.30)
출원인 한국기술교육대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2013-0122382 (2013.11.07) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.04.30)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기술교육대학교 산학협력단 대한민국 충청남도 천안시 동남구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유승열 대한민국 충남 천안시 동남구
2 성상만 대한민국 충남 천안시 서북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인태백 대한민국 서울 금천구 가산디지털*로 *** 이노플렉스 *차 ***호

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.04.30 수리 (Accepted) 1-1-2012-0346206-20
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.06.04 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.07.10 수리 (Accepted) 9-1-2013-0056970-03
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.07.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0500852-55
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.09.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0858178-94
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.09.23 수리 (Accepted) 1-1-2013-0858180-86
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.10.02 수리 (Accepted) 4-1-2013-0045975-67
8 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2013.10.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0743680-86
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.03.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5030298-98
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.11.19 수리 (Accepted) 4-1-2018-5234295-28
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
적층형 전지에 진단용 비정현파 신호를 인가하는 신호 발생부;상기 적층형 전지로부터 상기 진단용 비정현파 신호에 대응한 응답신호를 측정하는 신호 처리부; 및상기 응답신호의 기울기를 이용하여 상기 적층형 전지의 이상 유무를 판단하는 판단부를 포함하는 비정현파 신호를 이용한 적층형 전지의 상태 진단 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 진단용 비정현파 신호는 삼각파 또는 구형파 형태이며, 한 주기당 복수의 측정 기준점이 설정되는 비정현파 신호를 이용한 적층형 전지의 상태 진단 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 판단부는,상기 응답신호 중 기 설정된 복수의 측정 기준점에서의 기울기를 비교하여 선형성이 유지되는 경우에는 상기 적층형 전지의 상태를 정상으로 판단하는 비정현파 신호를 이용한 적층형 전지의 상태 진단 장치
4 4
적층형 전지의 상태 진단 장치의 비정현파 신호를 이용한 적층형 전지의 상태 진단 방법에 있어서,상기 적층형 전지에 진단용 비정현파 신호를 인가하는 단계;상기 적층형 전지로부터 상기 진단용 비정현파 신호에 대응한 응답신호를 측정하는 단계; 및상기 응답신호의 기울기를 이용하여 상기 적층형 전지의 이상 유무를 판단하는 단계를 포함하는 비정현파 신호를 이용한 적층형 전지의 상태 진단 방법
5 5
제4항에 있어서,상기 진단용 비정현파 신호는 삼각파 또는 구형파 형태이며, 한 주기당 복수의 측정 기준점이 설정되는 비정현파 신호를 이용한 적층형 전지의 상태 진단 방법
6 6
제4항에 있어서,상기 적층형 전지의 이상 유무를 판단하는 단계는,상기 응답신호 중 기 설정된 복수의 측정 기준점에서의 기울기를 비교하여 선형성이 유지되는 경우에는 상기 적층형 전지의 상태를 정상으로 판단하는 비정현파 신호를 이용한 적층형 전지의 상태 진단 방법
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