맞춤기술찾기

이전대상기술

불균일한 텍스쳐 표면의 불량 검출방법

  • 기술번호 : KST2015205421
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 다른 측면에 따른 불균일한 텍스처 표면의 불량 검출방법은,불량이 없는 기준 영상을 복수의 기준 패치영상들로 분할하는 단계와, 상기 복수의 기준 패치영상들을 이진화시키고, 이진화된 기준 패치영상들로부터 기준 특징벡터를 계산하는 단계와, 상기 기준 특징 벡터들의 집합을 이용하여, 가우시안 혼합모델의 모델 파라미터를 생성하는 단계와, 검사 대상물에 대한 검사 영상을 복수의 검사 패치영상으로 분할하는 단계와, 상기 복수의 검사 패치영상들을 이진화시키고, 이진화된 검사 패치영상들로부터 검사 특징 벡터를 계산하는 단계와, 상기 모델 파라미터에 상기 검사 특징 벡터를 적용하여, 각 검사 패치영상에 대한 로그-우도값을 계산하는 단계와, 상기 계산된 로그-우도값을 로그-우도 임계값과 비교하고, 상기 로그-우도 임계값보다 낮은 값을 갖는 패치영상에 불량이 있다고 판단하는 단계를 포함한다.
Int. CL G06T 7/00 (2017.01.01) G06V 10/40 (2022.01.01)
CPC G06T 7/0004(2013.01) G06T 7/0004(2013.01) G06T 7/0004(2013.01) G06T 7/0004(2013.01)
출원번호/일자 1020130036944 (2013.04.04)
출원인 한국기술교육대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1477665-0000 (2014.12.23)
공개번호/일자 10-2014-0120716 (2014.10.14) 문서열기
공고번호/일자 (20141230) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.04.04)
심사청구항수 17

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국기술교육대학교 산학협력단 대한민국 충청남도 천안시 동남구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 고진석 대한민국 충남 천안시 서북구
2 임재열 대한민국 서울 종로구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 전용준 대한민국 서울특별시 금천구 가산디지털*로 **, 대륭테크노타운 **차 ***호 (가산동)(이연국제특허법률사무소)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 (주)엠브이시스템 충청남도 천안시 동남구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.04.04 수리 (Accepted) 1-1-2013-0295098-34
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.10.02 수리 (Accepted) 4-1-2013-0045975-67
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2014.02.06 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.03.10 수리 (Accepted) 9-1-2014-0018045-49
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.03.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5030298-98
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.06.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0404085-57
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.08.05 수리 (Accepted) 1-1-2014-0740771-16
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.08.05 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0740770-60
9 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2014.12.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0839314-09
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.12.10 수리 (Accepted) 1-1-2014-1198923-68
11 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.12.10 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2014-1198922-12
12 등록결정서
Decision to grant
2014.12.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0877347-85
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.11.19 수리 (Accepted) 4-1-2018-5234295-28
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기준 영상을 복수의 기준 패치영상들로 분할하는 단계와;상기 복수의 기준 패치영상들을 이진화시키고, 이진화된 기준 패치영상들로부터 기준 특징벡터를 계산하는 단계를 포함하고,상기 기준 패치영상들은,각 좌표의 밝기에 미리 설정된 가중치를 적용하여, 이진화시키며,상기 가중치는, 상기 기준 패치영상들의 각 좌표 밝기가 미리 설정된 이진화 임계값보다 크면, 1을 상기 각 좌표 밝기로 나눈 값으로 설정되고, 상기 기준 패치영상들의 각 좌표 밝기가 상기 이진화 임계값 이하이면, 0으로 설정되어,상기 기준 패치영상들의 각 좌표 밝기에 상기 가중치를 곱하여, 상기 이진화된 기준 패치영상들을 구하는 불균일한 텍스쳐 표면의 불량 검출방법
2 2
기준 영상을 복수의 기준 패치영상들로 분할하는 단계와;상기 복수의 기준 패치영상들을 이진화시키고, 이진화된 기준 패치영상들로부터 기준 특징벡터를 계산하는 단계를 포함하고,상기 기준 특징 벡터들의 집합을 이용하여, 가우시안 혼합모델의 모델 파라미터를 생성하는 단계와;검사 대상물에 대한 검사 영상을 복수의 검사 패치영상으로 분할하는 단계와;상기 복수의 검사 패치영상들을 이진화시키고, 이진화된 검사 패치영상들로부터 검사 특징 벡터를 계산하는 단계와;상기 모델 파라미터에 상기 검사 특징 벡터를 적용하여, 각 검사 패치영상에 대한 로그-우도값을 계산하는 단계와;상기 계산된 로그-우도값을 로그-우도 임계값과 비교하고, 상기 로그-우도 임계값보다 낮은 값을 갖는 패치영상에 불량이 있다고 판단하는 단계를 포함하는 불균일한 텍스쳐 표면의 불량 검출방법
3 3
청구항 1 또는 2 에 있어서,상기 기준 영상은 불량이 없는 대상물에 대한 영상인 불균일한 텍스쳐 표면의 불량 검출방법
4 4
청구항 2 에 있어서,상기 기준 패치영상들은,각 좌표의 밝기에 미리 설정된 가중치를 적용하여, 이진화시키는 불균일한 텍스쳐 표면의 불량 검출방법
5 5
청구항 4 에 있어서,상기 가중치는, 상기 기준 패치영상들의 각 좌표 밝기가 미리 설정된 이진화 임계값보다 크면, 1을 상기 각 좌표 밝기로 나눈 값으로 설정되고, 상기 기준 패치영상들의 각 좌표 밝기가 상기 이진화 임계값 이하이면, 0으로 설정되어,상기 기준 패치영상들의 각 좌표 밝기에 상기 가중치를 곱하여, 상기 이진화된 기준 패치영상들을 구하는 불균일한 텍스쳐 표면의 불량 검출방법
6 6
청구항 1 또는 2 에 있어서,상기 기준 특징벡터는,상기 이진화된 기준 패치영상들에서 각 픽셀들의 밝기에 대한 평균과 표준편차를 포함하는 불균일한 텍스쳐 표면의 불량 검출방법
7 7
청구항 2 에 있어서,상기 검사 패치영상들은,각 좌표의 밝기에 미리 설정된 가중치를 적용하여, 이진화시키는 불균일한 텍스쳐 표면의 불량 검출방법
8 8
청구항 7에 있어서, 상기 가중치는, 상기 검사 패치영상들의 각 좌표 밝기가 미리 설정된 이진화 임계값보다 크면, 1을 상기 각 좌표 밝기로 나눈 값으로 설정되고, 상기 검사 패치영상들의 각 좌표 밝기가 상기 이진화 임계값 이하이면, 0으로 설정되어,상기 검사 패치영상들의 각 좌표 밝기에 상기 가중치를 곱하여, 상기 이진화된 검사 패치영상들을 구하는 불균일한 텍스쳐 표면의 불량 검출방법
9 9
청구항 2에 있어서, 상기 검사 특징벡터는,상기 이진화된 검사 패치영상들에서 각 픽셀들의 밝기에 대한 평균과 표준편차를 포함하는 불균일한 텍스쳐 표면의 불량 검출방법
10 10
청구항 2에 있어서, 상기 로그-우도 임계값은, 상기 복수의 검사 패치영상들 중에서 일부 패치영상들만의 로그-우도값에 대한 평균과 표준 편차를 포함하는 불균일한 텍스쳐 표면의 불량 검출방법
11 11
청구항 2에 있어서, 상기 로그-우도 임계값은,상기 복수의 검사 패치 영상들에 대한 각 로그-우도값 중에서 미리 설정된 설정 비율의 하위값들을 제외한 나머지 로그-우도값들의 평균과 표준 편차를 포함하는 불균일한 텍스쳐 표면의 불량 검출방법
12 12
청구항 2에 있어서,상기 로그-우도값이 상기 로그-우도 임계값보다 낮은 패치영상만을 출력하는 불균일한 텍스쳐 표면의 불량 검출방법
13 13
불량이 없는 기준 영상을 복수의 기준 패치영상들로 분할하고, 각 기준 패치영상들에 대한 기준 특징벡터들을 이용하여, 가우시안 혼합모델의 모델 파라미터를 학습하는 단계와;검사 대상물에 대한 검사 영상을 복수의 검사 패치영상들로 분할하고, 상기 가우시안 혼합모델의 모델 파라미터에 각 검사 패치 영상들에 대한 검사 특징벡터들을 입력하여, 각 검사 패치영상들에 대한 로그-우도값을 계산하는 단계와;상기 검사 패치영상들에 대한 상기 로그-우도값이 설정 범위를 벗어나면, 해당 검사 패치영상에 불량이 있다고 판단하는 단계를 포함하는 불균일한 텍스처 표면의 불량 검출방법
14 14
청구항 13에 있어서,상기 해당 검사 패치영상에 불량이 있다고 판단하면, 불량이 있다고 판단된 검사 패치영상만을 출력하는 단계를 더 포함하는 불균일한 텍스처 표면의 불량 검출방법
15 15
불량이 없는 기준 영상을 복수의 기준 패치영상들로 분할하는 단계와;상기 복수의 기준 패치영상들에 가중치를 적용하여 이진화시키는 단계와;상기 이진화된 기준 패치영상들에서 각 픽셀들의 밝기에 대한 평균과 표준편차로 구성된 기준 특징벡터를 계산하는 단계와;상기 기준 특징 벡터들의 집합을 이용하여, 가우시안 혼합모델의 모델 파라미터를 생성하는 단계와;검사 대상물에 대한 검사 영상을 복수의 검사 패치영상으로 분할하는 단계와;상기 복수의 검사 패치영상들에 가중치를 적용하여 이진화시키는 단계와;상기 이진화된 검사 패치영상들에서 각 픽셀들의 밝기에 대한 평균과 표준편차로 구성된 검사 특징 벡터를 계산하는 단계와;상기 모델 파라미터에 상기 검사 특징 벡터를 적용하여, 각 검사 패치영상에 대한 로그-우도값을 계산하는 단계와;상기 복수의 검사 패치영상들중에서 일부 패치영상들의 로그-우도값의 평균과 표준편차를 고려하여 로그-우도 임계값을 설정하는 단계와;상기 계산된 로그-우도값을 상기 로그-우도 임계값과 비교하는 단계와;상기 로그-우도 임계값보다 낮은 값을 갖는 패치영상을 불량으로 판단하고, 영상을 출력하는 단계를 포함하는 불균일한 텍스쳐 표면의 불량 검출방법
16 16
청구항 15에 있어서,상기 불량으로 판단된 패치영상을 출력하는 단계를 더 포함하는 불균일한 텍스처 표면의 불량 검출방법
17 17
청구항 2, 청구항 4, 청구항 5 및 청구항 7 내지 청구항 16 중 어느 한 항에 있어서,상기 검사 대상물은 솔라셀인 불균일한 텍스쳐 표면의 불량 검출방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.