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영상 분할을 이용한 비전 검사 장치 및 비전 검사 방법

  • 기술번호 : KST2015205427
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 영상 분할을 이용한 비전 검사 장치 및 비전 검사 방법에 관한 것으로, 본 발명의 일 실시예에 따른 영상 분할을 이용한 비전 검사 장치는, 대상 객체에 대한 비전 영상을 기 설정된 영역으로 분할하여 복수의 분할 비전 영상을 생성하는 분할 영상 생성부와, 상기 생성된 분할 비전 영상의 픽셀값을 기 설정된 임계값을 기준으로 이진 데이터 처리하여 상기 대상 객체에 대한 이진 영상을 생성하는 이진 영상 생성부와, 상기 생성된 이진 영상에 대해 검사 대상 영역을 설정하고, 상기 설정된 검사 대상 영역을 기 설정된 기준 영역 정보와 비교하여 상기 대상 객체의 불량 여부를 판단하는 불량 판단부를 포함한다.이에 따라, 대상 객체에 대한 비전 영상을 복수 개로 분할하여 독립적으로 외관 검사를 하여 전체적인 외관 검사를 수행함으로써 비전 검사에 소요되는 시간을 단축시킬 수 있다.
Int. CL G06T 7/00 (2006.01) G01N 21/88 (2006.01)
CPC G01N 21/95607(2013.01) G01N 21/95607(2013.01) G01N 21/95607(2013.01) G01N 21/95607(2013.01) G01N 21/95607(2013.01)
출원번호/일자 1020120066284 (2012.06.20)
출원인 한국기술교육대학교 산학협력단, (주) 피토
등록번호/일자 10-1434484-0000 (2014.08.20)
공개번호/일자 10-2013-0142769 (2013.12.30) 문서열기
공고번호/일자 (20140826) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.06.20)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기술교육대학교 산학협력단 대한민국 충청남도 천안시 동남구
2 (주) 피토 대한민국 충청남도 아산시

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유승열 대한민국 충남 천안시 동남구
2 조석진 대한민국 충남 천안시 서북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인태백 대한민국 서울 금천구 가산디지털*로 *** 이노플렉스 *차 ***호

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국기술교육대학교 산학협력단 충청남도 천안시 동남구
2 (주) 피토 충청남도 아산시
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2012.06.20 수리 (Accepted) 1-1-2012-0492059-40
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2013.08.02 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2013.08.27 수리 (Accepted) 9-1-2013-0072072-93
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.10.02 수리 (Accepted) 4-1-2013-0045975-67
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2013.10.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0695788-47
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2013.11.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0786181-56
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2013.12.09 수리 (Accepted) 1-1-2013-1126282-44
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2013.12.09 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-1126281-09
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2014.01.15 수리 (Accepted) 1-1-2014-0043402-79
10 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2014.02.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0137020-15
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.03.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5030298-98
12 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2014.04.24 수리 (Accepted) 1-1-2014-0392080-56
13 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2014.04.24 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0392079-10
14 등록결정서
Decision to grant		 2014.05.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0338559-15
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2016.09.22 수리 (Accepted) 4-1-2016-5134432-06
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.11.19 수리 (Accepted) 4-1-2018-5234295-28
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
대상 객체에 대한 비전 영상을 기 설정된 영역으로 분할하여 복수의 분할 비전 영상을 생성하는 분할 영상 생성부;상기 생성된 분할 비전 영상의 픽셀값을 기 설정된 임계값을 기준으로 이진 데이터 처리하여 상기 대상 객체에 대한 이진 영상을 생성하는 이진 영상 생성부; 및상기 생성된 이진 영상에 대해 검사 대상 영역을 설정하고, 상기 설정된 검사 대상 영역을 기 설정된 기준 영역 정보와 비교하여 상기 대상 객체의 불량 여부를 판단하는 불량 판단부를 포함하며,상기 대상 객체는 경계 부분에 따라 복수의 표면 영역으로 구분되고,상기 분할 비전 영상은 적어도 하나의 표면 영역에 대한 비전 영상을 포함하며,상기 분할 영상 생성부는,제1 표면 영역, 제2 표면 영역, 제3 표면 영역을 포함하는 대상 객체에 대한 비전 영상에 대하여, 2개 이상의 표면 영역에 대하여 각각 분할 비전 영상을 생성하는 경우, 상기 2개 이상의 분할 비전 영상에 포함된 상기 제2 표면 영역을 각각 보정 처리하여 제거하고, 상기 제1 표면 영역 및 제3 표면 영역의 좌표를 이용하여, 상기 제1 표면 영역과 상기 제3 표면 영역 사이에 위치하는 제2 표면 영역에 대한 분할 비전 영상을 추출하는 영상 분할을 이용한 비전 검사 장치
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
삭제
5 5
제1항에 있어서,상기 불량 판단부는,상기 대상 객체의 좌표 정보 및 기울기 정보를 연산하여 상기 이진 영상에 포함된 하나의 표면 영역을 검사 대상 영역으로 설정하는 영상 분할을 이용한 비전 검사 장치
6 6
제5항에 있어서,상기 기준 영역 정보는,상기 표면 영역에 대한 길이 정보 또는 면적 정보를 포함하는 영상 분할을 이용한 비전 검사 장치
7 7
제1항에 있어서,상기 생성된 이진 영상을 블러링 보정 처리하는 블러링 보정 처리부를 더 포함하고,상기 이진 영상 생성부는,상기 블러링 보정 처리된 이진 영상을 다시 이진 데이터 처리하여 2차 이진 영상을 생성하는 영상 분할을 이용한 비전 검사 장치
8 8
비전 검사 장치의 검사 방법에 있어서,대상 객체에 대한 비전 영상을 기 설정된 영역으로 분할하여 복수의 분할 비전 영상을 생성하는 단계;상기 생성된 분할 비전 영상의 픽셀값을 기 설정된 임계값을 기준으로 이진 데이터 처리하여 상기 대상 객체에 대한 이진 영상을 생성하는 단계; 및상기 생성된 이진 영상에 대해 검사 대상 영역을 설정하고, 상기 설정된 검사 대상 영역을 기 설정된 기준 영역 정보와 비교하여 상기 대상 객체의 불량 여부를 판단하는 단계를 포함하며,상기 대상 객체는 경계 부분에 따라 복수의 표면 영역으로 구분되고,상기 분할 비전 영상은 적어도 하나의 표면 영역에 대한 비전 영상을 포함하며,상기 분할 비전 영상을 생성하는 단계는,제1 표면 영역, 제2 표면 영역, 제3 표면 영역을 포함하는 대상 객체에 대한 비전 영상에 대하여, 2개 이상의 표면 영역에 대하여 각각 분할 비전 영상을 생성하는 경우, 상기 2개 이상의 분할 비전 영상에 포함된 상기 제2 표면 영역을 각각 보정 처리하여 제거하고, 상기 제1 표면 영역 및 제3 표면 영역의 좌표를 이용하여, 상기 제1 표면 영역과 상기 제3 표면 영역 사이에 위치하는 제2 표면 영역에 대한 분할 비전 영상을 추출하는 영상 분할을 이용한 비전 검사 방법
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삭제
10 10
삭제
11 11
삭제
12 12
제8항에 있어서,상기 대상 객체의 불량 여부를 판단하는 단계는,상기 대상 객체의 좌표 정보 및 기울기 정보를 연산하여 상기 이진 영상에 포함된 하나의 표면 영역을 검사 대상 영역으로 설정하는 영상 분할을 이용한 비전 검사 방법
13 13
제12항에 있어서,상기 기준 영역 정보는,상기 표면 영역에 대한 길이 정보 또는 면적 정보를 포함하는 영상 분할을 이용한 비전 검사 방법
14 14
제8항에 있어서,상기 생성된 이진 영상을 블러링 보정 처리하는 단계를 더 포함하고,상기 이진 영상을 생성하는 단계는,상기 블러링 보정 처리된 이진 영상을 다시 이진 데이터 처리하여 2차 이진 영상을 생성하는 영상 분할을 이용한 비전 검사 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 (주)피토 생산기술사업화 지원사업 신공정을 위한 차세대 OLED Cell의 Plastic 절단 시스템 개발