| 요약 |
본 발명은 탭 아이씨(TAB IC) 검사용 프로브 카드에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 메인 기판과 니들에 신호를 연결하는 다수의 신호선을 연결하지 않고서도 간단한 구조로 빠른 신호 전달이 이루어지도록 한 탭 아이씨 검사용 프로브 카드에 관한 것으로서, 중앙부에 상하로 관통공이 형성되고, 다수의 회로연결단자가 형성된 메인기판과; 상기 관통공에 삽입되어 고정되고, 중앙부에 블럭결합공이 형성된 보강링과; 상기 블럭결합공의 내측에 서로 이격되어 고정되는 한 쌍의 지지블럭과; 일단이 상기 메인기판의 하면에 형성된 회로연결단자에 접속되고, 타단이 메인기판의 수직방향으로 배치되도록 절곡되면서 그 끝단이 상기 지지블럭의 상부측으로 돌출되며, 상기 지지블럭에 고정되는 다수의 니들로 구성된 니들어셈블리;를 포함하여 구성된다.이에 따라, 신호선을 각각 납땜해서 연결해야 하는 불편함이 사라져 프로브 카드의 제작이 더욱 간편해 질 뿐만 아니라, 니들(41)의 끝단이 매인기판의 수직방향으로 배치됨으로써 더욱 많은 수의 니들(41)을 배치할 수 있게 되어 하나의 프로브 카드로 동시에 다수의 탭 아이씨를 검사할 수 있게 되어 프로브 카드를 이용한 탭아이씨의 검사 속도가 더욱 개선되는 효과를 가지게 된다.프로브 카드, 니들어셈블리, 탭 아이씨, TAB IC
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