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실리콘 웨이퍼의 텍스처링 방법

  • 기술번호 : KST2015205903
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 실리콘 웨이퍼 표면 조직화 기술로서 웨이퍼 표면에 반사도를 줄여주는 것으로 태양전지에서 빛 반사를 줄이기 위한 기술에 관한 것으로, 특히 실리콘 웨이퍼의 표면을 알카리 용액으로 처리하는 1차 텍스처링 공정과 상기 1차 텍스처링 공정 후에 상기 실리콘 웨이퍼의 표면에 금속막을 형성하는 금속막형성공정, 상기 금속막이 형성된 실리콘 웨이퍼의 표면을 산성용액을 포함하는 용액으로 처리하는 2차 텍스처링 공정을 포함하여 구성되는 실리콘 웨이퍼의 텍스처링 방법을 제공한다.본 발명에 따르면, 실리콘 웨이퍼 기판의 표면에 텍스처링 공정을 알카리 용액을 통한 1차 공정과 산성용액을 포함하는 용액을 통한 2차 공정으로 형성하여 요철패턴을 형성함으로써, 실리콘 웨이퍼 기판의 반사도를 1% 이하로 형성하는 효과가 있다.
Int. CL H01L 31/0236 (2006.01) H01L 31/042 (2014.01) H01L 21/306 (2006.01) H01L 31/18 (2006.01)
CPC H01L 31/02363(2013.01) H01L 31/02363(2013.01)
출원번호/일자 1020120016812 (2012.02.20)
출원인 한국교통대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1359407-0000 (2014.01.29)
공개번호/일자 10-2013-0095416 (2013.08.28) 문서열기
공고번호/일자 (20140211) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.02.20)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국교통대학교산학협력단 대한민국 충청북도 충주시 대

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 임동건 대한민국 충북 충주시 금제*길 *,
2 오병진 대한민국 충북 청주시 상당구
3 김기순 대한민국 충남 아산시
4 류정식 대한민국 충남 아산시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김희곤 대한민국 대전시 유성구 문지로 ***-*(문지동) *동(웰쳐국제특허법률사무소)
2 김인한 대한민국 서울특별시 서초구 사임당로 **, **층 (서초동, 신영빌딩)(특허법인세원)
3 박용순 대한민국 서울특별시 송파구 법원로*길 **, **층 D-****호(문정동)(주심국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국교통대학교산학협력단 충청북도 충주시 대
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.02.20 수리 (Accepted) 1-1-2012-0133045-36
2 보정요구서
Request for Amendment
2012.03.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2012-0027436-69
3 직권수리안내서
Notification of Ex officio Acceptance
2012.03.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2012-0027598-46
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.05.03 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.06.05 수리 (Accepted) 9-1-2013-0042811-80
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.06.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0427673-32
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.07.02 수리 (Accepted) 1-1-2013-0595449-15
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.07.02 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0595450-62
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.08.09 수리 (Accepted) 4-1-2013-0036542-01
10 등록결정서
Decision to grant
2013.12.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0908660-43
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.02.21 수리 (Accepted) 4-1-2020-5039896-32
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
실리콘 웨이퍼의 표면을 알카리 용액으로 처리하는 1차 텍스처링 공정;상기 1차 텍스처링 공정 후에 상기 실리콘 웨이퍼의 표면에 금속막을 형성하는 금속막형성공정;상기 금속막이 형성된 실리콘 웨이퍼의 표면을 산성용액을 포함하는 용액으로 처리하는 2차 텍스처링 공정;을 포함하여 구성되는 실리콘 웨이퍼의 텍스처링 방법
2 2
청구항 1에 있어서,상기 1차 텍스처링 공정은,실리콘 웨이퍼의 표면에 피라미드 구조의 요철패턴을 형성하는 공정인 실리콘 웨이퍼의 텍스처링 방법
3 3
청구항 2에 있어서,상기 1차 텍스처링 공정은,상기 알카리용액을 수산화칼륨, 수산화나트륨 및 수산화암모늄으로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 또는 이들의 혼합 용액을 이용하는 것을 특징으로 하는 실리콘 웨이퍼의 텍스처링 방법
4 4
청구항 2에 있어서,상기 금속막형성공정은,상기 요철패턴이 형성된 실리콘 웨이퍼의 표면의 전면에 금속막을 형성하는 공정인 실리콘 웨이퍼의 텍스처링 방법
5 5
청구항 2에 있어서,상기 금속막형성공정은,상기 요철패턴이 형성된 실리콘 웨이퍼의 표면에 분리구조의 금속 도트패턴(island structure)을 형성하는 공정인 실리콘 웨이퍼의 텍스처링 방법
6 6
청구항 4 또는 청구항 5에 있어서,상기 금속막형성공정은,Ag, Au, Sn, Cu, Pt, Pd 중에서 선택된 어느 하나 또는 이들의 혼합물을 이용하여 형성하는 공정인 실리콘 웨이퍼의 텍스처링 방법
7 7
청구항 1에 있어서,상기 2차 텍스처링 공정은,HF, H2O2, DI가 혼합된 촉매용액에 상기 실리콘 웨이퍼를 투입하고,중탕을 이용하여 금속 촉매 반응을 유도하여 이루어지는 공정인 실리콘 웨이퍼의 텍스처링 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.