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복합 패시베이션 유전막을 갖는 이종접합 전계효과 트랜지스터 및 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2015209371
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 이종접합 전계효과 트랜지스터에 관한 것으로서, AlGaN/GaN 이종접합 박막 구조의 상부에 질화실리콘막 및 질화실리콘막 보다 작은 유전상수의 저 유전막이 적층된 복합 패시베이션 유전막을 형성함으로써 질화실리콘막의 패시베이션 효과와 전계 전극의 전계 분산 효과를 유지하면서 게이트-드레인 기생 커패시턴스에 의한 고주파 특성의 열화를 보상할 수 있다.
Int. CL H01L 29/778 (2006.01) H01L 21/338 (2006.01) H01L 29/812 (2006.01)
CPC H01L 29/7783(2013.01) H01L 29/7783(2013.01) H01L 29/7783(2013.01) H01L 29/7783(2013.01)
출원번호/일자 1020100076539 (2010.08.09)
출원인 홍익대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1078143-0000 (2011.10.24)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20111028) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.08.09)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 홍익대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 마포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김형탁 대한민국 서울특별시 강남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인태평양 대한민국 서울특별시 중구 청계천로 **, *층(다동, 예금보험공사빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 홍익대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 마포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.08.09 수리 (Accepted) 1-1-2010-0511722-25
2 등록결정서
Decision to grant
2011.09.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0546151-55
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번호 청구항
1 1
기판상에 형성된 질화갈륨 버퍼층;상기 질화갈륨 버퍼층 상에 형성된 질화알루미늄갈륨 배리어층;상기 배리어층 상에 서로 이격되게 형성된 소오스 전극 및 드레인 전극;상기 소오스 전극과 상기 드레인 전극 사이의 상기 배리어층 상에 형성된 게이트 전극;상기 배리어층 상에 증착되며 서로 다른 유전상수를 갖는 유전막들이 적층된 복합 패시베이션 유전막; 및상기 게이트 및 상기 드레인 전극 사이의 상기 복합 패시베이션 유전막 상에 형성되며 상기 게이트 전극 또는 상기 소오스 전극과 연결되는 전계 전극을 포함하는 이종접합 전계효과 트랜지스터
2 2
제 1항에 있어서, 상기 복합 패시베이션 유전막은질화실리콘(SiN)막 및 상기 질화실리콘막 보다 유전상수가 낮은 저 유전막이 적층된 구조로 형성된 것을 특징으로 하는 이종접합 전계효과 트랜지스터
3 3
제 2항에 있어서, 상기 저 유전막은산화실리콘(SiO2)막인 것을 특징으로 하는 이종접합 전계효과 트랜지스터
4 4
제 2항에 있어서, 상기 저 유전막은상기 질화실리콘막 보다 두껍게 형성되는 것을 특징으로 하는 이종접합 전계효과 트랜지스터
5 5
제 1항에 있어서, 상기 소오스 전극 및 상기 드레인 전극은Ti/Al/Ta/Au 금속 박막 또는 Ti/Al/Ti/Au 금속 박막이 열처리된 합금으로 형성된 것을 특징으로 하는 이종접합 전계효과 트랜지스터
6 6
제 1항에 있어서, 상기 게이트 전극은Ni/Ir/Au 금속 박막이 증착된 것을 특징으로 하는 이종접합 전계효과 트랜지스터
7 7
제 1항에 있어서, 상기 전계 전극은상기 게이트 전극의 상부면에서부터 상기 드레인 전극 측으로 수평 방향으로 연장되게 형성되는 것을 특징으로 하는 이종접합 전계효과 트랜지스터
8 8
기판 상부에 질화갈륨/질화알루미늄갈륨의 이종접합 박막을 형성하는 단계;상기 이종접합 박막 상부에 서로 다른 유전상수를 갖는 유전막들이 적층된 복합 패시베이션 유전막을 형성하는 단계;상기 복합패시베이션 유전막 및 상기 이종접합 박막을 이종접합 계면 아래까지 식각하여 단위 소자별로 분리시키는 단계;상기 이종접합 박막 양단부 상의 상기 복합패시베이션 유전막을 제거하여 소오스 전극 및 드레인 전극을 형성하는 단계; 및상기 소오스 전극과 상기 드레인 전극 사이의 상기 복합패시베이션 유전막을 선택적으로 제거하여 게이트 전극 및 전계 전극을 형성하는 단계를 포함하는 이종접합 전계효과 트랜지스터 제조 방법
9 9
제 8항에 있어서, 상기 복합 패시베이션 유전막을 형성하는 단계는상기 이종접합 박막 상에 질화실리콘막을 형성하는 단계; 및상기 질화실리콘막 상에 상기 질화실리콘막 보다 유전상수가 낮은 저 유전막을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 이종접합 전계효과 트랜지스터 제조 방법
10 10
제 9항에 있어서, 상기 질화실리콘막을 형성하는 단계는PECVD(Plasma-enhanced Chemical Vapor Deposition) 공정을 이용하여 질화실리콘을 상기 이종접합 박막 상에 증착하는 것을 특징으로 하는 이종접합 전계효과 트랜지스터 제조 방법
11 11
제 9항에 있어서, 상기 저 유전막은산화실리콘(SiO2)으로 형성되는 특징으로 하는 이종접합 전계효과 트랜지스터 제조 방법
12 12
제 11항에 있어서, 상기 저 유전막은상기 질화실리콘 막 보다 두껍게 형성되는 것을 특징으로 하는 이종접합 전계효과 트랜지스터 제조 방법
13 13
제 8항에 있어서, 상기 소오스 전극 및 상기 드레인 전극을 형성하는 단계는상기 이종접합 박막 양단부 상의 상기 복합 패시베이션 유전막을 선택식각하는 단계;상기 식각된 영역에 오믹 콘택 금속을 증착하는 단계; 및상기 오믹 콘택 금속을 열처리하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 이종접합 전계효과 트랜지스터 제조 방법
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제 13항에 있어서, 상기 오믹 콘택 금속을 증착하는 단계는전자빔 증발법(e-beam evaporation)을 이용하여 Ti/Al/Ta/Au 금속 박막 또는 Ti/Al/Ti/Au 금속 박막을 증착시키는 것을 특징으로 하는 이종접합 전계효과 트랜지스터 제조 방법
15 15
제 8항에 있어서, 상기 게이트 전극 및 전계 전극을 형성하는 단계는상기 복합 패시베이션 유전막에서 기 정의된 게이트 전극 영역을 선택식각하는 단계;상기 식각된 영역 및 상기 복합 패시베이션 유전막 상에 쇼트키(Schottky) 금속을 증착하는 단계; 및상기 쇼트키 금속을 패터닝하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 이종접합 전계효과 트랜지스터 제조 방법
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제 15항에 있어서, 상기 쇼트키 금속을 증착하는 단계는전자빔 증발법(e-beam evaporation)을 이용하여 Ni/Ir/Au 금속 박막을 증착시키는 것을 특징으로 하는 이종접합 전계효과 트랜지스터 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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