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위상천이기를 이용한 결정론적 테스트패턴 생성 장치

  • 기술번호 : KST2015209763
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 결정론적 테스트패턴을 인가하는 로직 BIST의 경우, 어느 정도의 의사무작위 테스트패턴을 인가한 후에 결정론적 테스트패턴을 인가하게 된다. 즉 이 경우에는 의사무작위 BIST와 결정론적 BIST의 하드웨어를 둘 다 갖추어야 한다. 위상천이기는 일반적으로 거의 모든 의사무작위 BIST에 사용되는 하드웨어이다. 그러므로 위상천이기를 결정론적 BIST에 사용하는 것은 동일한 기능 블록을 공유하는 것이므로 면적 효율적 방법이다. 또한 본 발명에서 제안하는 결정론적 패턴 생성 하드웨어는 M시퀀스의 윈도우 특성을 이용하므로 기존의 방법과는 다르게 현재 LFSR의 패턴이 어떤 것이든 상관없이 모든 결정론적 테스트패턴을 생성할 수 있다. 그러므로 기존의 방법과는 다르게 빠른 시간안에 필요한 패턴을 생성할 수 있다. BIST, 의사무작위 테스트패턴, 위상천이, 주사열
Int. CL G06F 17/50 (2006.01)
CPC G06F 11/263(2013.01) G06F 11/263(2013.01)
출원번호/일자 1020040056114 (2004.07.19)
출원인 학교법인연세대학교
등록번호/일자 10-0615401-0000 (2006.08.17)
공개번호/일자 10-2006-0007315 (2006.01.24) 문서열기
공고번호/일자 (20060825) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2004.07.19)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 학교법인연세대학교 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강성호 대한민국 서울특별시 서대문구
2 송동섭 대한민국 서울특별시 서대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2004.07.19 수리 (Accepted) 1-1-2004-0318932-82
2 보정통지서
Request for Amendment
2004.08.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2004-0050133-04
3 서지사항 보정서
Amendment to Bibliographic items
2004.08.07 수리 (Accepted) 1-1-2004-0353377-17
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2005.11.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2005.12.02 수리 (Accepted) 9-1-2005-0079541-36
6 대리인변경신고서
Agent change Notification
2006.01.13 수리 (Accepted) 1-1-2006-0025560-86
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2006.01.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0060213-60
8 의견서
Written Opinion
2006.03.29 수리 (Accepted) 1-1-2006-0220792-35
9 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2006.03.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2006-0220793-81
10 등록결정서
Decision to grant
2006.07.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0406992-13
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.11.05 수리 (Accepted) 4-1-2010-5207014-07
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.11.29 수리 (Accepted) 4-1-2010-5224078-51
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번호 청구항
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다중 주사열(scan chain)을 갖는 회로에 대한 결정론적 BIST의 테스트패턴 생성 장치에 있어서, 탭 배치가 커버하는 결정론적 테스트패턴의 수를 저장하는 콘트롤비트 저장 수단, 상기 콘트롤비트 저장 수단의 저장 값을 하나씩 받아서 거꾸로 카운트하는 패턴 카운터 수단, 현재의 탭 배치의 순서를 트레이스하여 상기 패턴 카운터의 값이 1을 지날 때 마다 1씩 증가하는 배치 카운터 수단,상기 배치 카운터 수단의 값에 따라서 위상천이망을 구성하며, TapConni(j)에 따라서 XOR게이트의 입력 신호를 결정하는 디코더 및 그 신호를 받아 실제의 위상천이기를 배치하는 재배치 가능한 위상천이기로 구성되는, 위상천이기를 이용한 결정론적 테스트패턴 생성 장치
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제1항에 있어서, 상기 위상천이기는 다음과 같은 단계에 의해 합성되는 것을 특징으로 하는 위상천이기를 이용한 결정론적 테스트패턴 생성 장치
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제2항에 있어서, 상기 패턴 요청 단계에서의 요청 순서는 하나의 패턴 내 "don't-care 값(x)"이 많은 순서를 먼저 오도록 하는 것을 특징으로 하는, 위상천이기를 이용한 결정론적 테스트패턴 생성 장치
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제2항에 있어서, 상기 TapConni(j) 초기화 단계에서 TapConni(j)는 n단계 LFSR의 경우 {1, 2,
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제2항에 있어서, 위상천이수와 관련된 생성 패턴을 저장하는 테이블인 TapTable을 갱신하는 단계에서, 상기 테이블은 최초에는 기존의 시뮬레이션을 이용한 위상천이기 생성 알고리듬에 의해서 생성되며, 이 테이블은 결정론적 테스트패턴이 재배치 가능한 위상천이기로 임베드될 때마다 갱신되는 것을 특징으로 하는 위상천이기를 이용한 결정론적 테스트패턴 생성 장치
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제2항에 있어서, 위상천이수와 관련된 생성 패턴을 저장하는 테이블인 TapTable을 갱신하는 단계에서, 상기 테이블은 최초에는 기존의 시뮬레이션을 이용한 위상천이기 생성 알고리듬에 의해서 생성되며, 이 테이블은 결정론적 테스트패턴이 재배치 가능한 위상천이기로 임베드될 때마다 갱신되는 것을 특징으로 하는 위상천이기를 이용한 결정론적 테스트패턴 생성 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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