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광위상 측정용 근접장 주사 광학 현미경

  • 기술번호 : KST2015209807
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 광위상 측정용 근접장 주사 광학 현미경이 개시되어 있다. 이 개시된 광위상 측정용 근접장 주사 광학 현미경은, 피검물질에 광을 조사하는 광원; 상기 광원으로부터 조사된 광을 분할하는 빔스프리터; 상기 광원에서 조사된 후 상기 피검물질을 통과한 광을 반사시키는 광학 탐침; 상기 피검물질로부터 나오는 광을 검출하는 광검출기;를 포함하는 것을 특징으로 한다. 상기 구성에 의해, 본 발명에서는 반사형 광학 탐침을 구비하여 피검 물질에서 반사된 광과 광학 탐침에서 반사된 광의 간섭광을 얻고, 이 간섭광을 검출하여 피검 물질의 내부 구조와 광위상을 측정할 수 있다.
Int. CL G02B 21/00 (2006.01)
CPC G02B 21/002(2013.01) G02B 21/002(2013.01) G02B 21/002(2013.01) G02B 21/002(2013.01)
출원번호/일자 1020040024445 (2004.04.09)
출원인 학교법인연세대학교
등록번호/일자 10-0549215-0000 (2006.01.26)
공개번호/일자 10-2005-0099217 (2005.10.13) 문서열기
공고번호/일자 (20060202) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2004.04.09)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 학교법인연세대학교 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유장훈 대한민국 서울특별시 양천구
2 임상엽 대한민국 경기도고양시덕양구
3 박승한 대한민국 서울특별시 양천구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)
2 이해영 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)(리앤목특허법인)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2004.04.09 수리 (Accepted) 1-1-2004-0146638-28
2 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.		 2004.04.14 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2004-0154572-46
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2005.06.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2005.07.15 수리 (Accepted) 9-1-2005-0044546-55
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2005.09.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0450063-65
6 의견서
Written Opinion		 2005.11.12 수리 (Accepted) 1-1-2005-0651406-90
7 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.		 2005.11.12 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2005-0651407-35
8 등록결정서
Decision to grant		 2005.12.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0652938-82
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2010.11.05 수리 (Accepted) 4-1-2010-5207014-07
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2010.11.29 수리 (Accepted) 4-1-2010-5224078-51
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
피검물질에 광을 조사하는 광원;상기 광원으로부터 조사된 광을 분할하는 빔스프리터;상기 광원에서 조사된 후 상기 피검물질을 통과한 광을 반사시키는 광학 탐침;상기 피검물질의 표면에서 반사된 광과 상기 광학 탐침에서 반사된 광이 간섭을 일으켜 생긴 간섭광을 검출하는 광검출기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 광위상 측정용 근접장 주사 광학 현미경
2 2
제 1항에 있어서, 상기 광학 탐침은 반사형 탐침으로 이루어진 것을 특징으로 하는 광위상 측정용 근접장 주사 광학 현미경
3 3
제 1항에 있어서, 상기 광학 탐침은 광섬유로 이루어진 것을 특징으로 하는 광위상 측정용 근접장 주사 광학 현미경
4 4
제 1항 내지 제 3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광학 탐침은 피검 물질의 근접장 내에 배치되는 것을 특징으로 하는 광위상 측정용 근접장 주사 광학 현미경
5 5
삭제
6 6
제 1항 내지 제 3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 피검 물질을 통과한 광이 광학 탐침에서 반사되는 영역은 광원에서 조사되는 광의 파장보다 작은 크기를 가지는 것을 특징으로 하는 광위상 측정용 근접장 주사 광학 현미경
7 7
피검물질에 광을 조사하는 광원;상기 피검물질을 통과한 광의 일부를 반사시키고, 나머지 광을 투과시키는 광학 탐침;상기 피검물질의 표면에서 반사된 광과 상기 광학 탐침에서 반사된 광이 간섭을 일으켜 생긴 간섭광을 검출하는 제1광검출기;상기 투과된 광의 광량을 검출하는 제2광검출기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 광위상 측정용 근접장 주사 광학 현미경
8 8
제 7항에 있어서, 상기 광학 탐침은 광섬유로 이루어진 것을 특징으로 하는 광위상 측정용 근접장 주사 광학 현미경
9 9
제 7항 또는 제 8항에 있어서, 상기 피검 물질을 통과한 광이 광학 탐침에서 반사되는 영역은 광원에서 조사되는 광의 파장보다 작은 크기를 가지고, 상기 광원 탐침에서 반사되는 광이 점광원으로 작용하도록 된 것을 특징으로 하는 광위상 측정용 근접장 주사 광학 현미경
10 10
삭제
11 10
삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.