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Ｘ선 품질 측정 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015210307
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 X선 품질 측정 장치 및 방법이 개시된다. 본 발명의 실시예들은 X선 촬영 장치로부터 소정의 이미지를 획득하고, 상기 이미지에 대한 MTF(Modulation Transfer Function) 및 NNPS(Normalized Noise Power Spectrum)를 측정한 후 상기 X선 촬영 장치의 조사선량과 상기 측정된 MTF 및 상기 측정된 NNPS를 기초로 상기 X선 촬영 장치에 대한 DQE를 연산하는 장치 및 방법에 대한 것이다.
Int. CL G01T 1/161 (2006.01) A61B 6/00 (2006.01) G01N 23/04 (2006.01)
CPC A61B 6/4241(2013.01) A61B 6/4241(2013.01) A61B 6/4241(2013.01) A61B 6/4241(2013.01)
출원번호/일자 1020110033257 (2011.04.11)
출원인 연세대학교 원주산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0115763 (2012.10.19) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.03.10)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 원주산학협력단 대한민국 강원도 원주시

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김희중 대한민국 경기도 고양시 일산동구
2 박혜숙 대한민국 강원도 원주시
3 김예슬 대한민국 강원도 원주시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 남앤남 대한민국 서울특별시 중구 서소문로 ** (서소문동, 정안빌딩 *층)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2011.04.11 수리 (Accepted) 1-1-2011-0262780-23
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5252006-10
3 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)		 2012.12.14 수리 (Accepted) 1-1-2012-1039809-52
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5062749-37
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.06.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5088566-87
6 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status		 2014.01.14 수리 (Accepted) 1-1-2014-0036924-25
7 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)		 2014.01.22 수리 (Accepted) 1-1-2014-0064465-71
8 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2016.03.10 수리 (Accepted) 1-1-2016-0234094-03
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2016.05.10 수리 (Accepted) 4-1-2016-5057268-74
10 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2016.10.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
11 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2016.12.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0015669-79
12 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2017.02.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0081924-20
13 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2017.03.30 수리 (Accepted) 1-1-2017-0314160-18
14 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2017.03.30 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0314161-53
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2017.06.23 수리 (Accepted) 4-1-2017-5098886-10
16 거절결정서
Decision to Refuse a Patent		 2017.08.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0544575-71
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.05.14 수리 (Accepted) 4-1-2018-5085255-51
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
X선 촬영 장치로부터 제1 이미지 및 제2 이미지를 획득하는 이미지 획득부;상기 제1 이미지에 대한 MTF(Modulation Transfer Function)를 측정하는 MTF 측정부;상기 제2 이미지에 대한 NNPS(Normalized Noise Power Spectrum)를 측정하는 NNPS 측정부; 상기 X선 촬영 장치의 조사선량을 측정하는 조사선량 측정부; 및상기 측정된 MTS, 상기 측정된 NNPS 및 상기 측정된 조사선량에 기초하여 상기 X선 촬영 장치에 대한 DQE(Detective Quantum Efficiency)를 연산하는 DQE 연산부를 포함하는 X선 품질 측정 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 이미지 획득부는상기 이미지 획득부 상에 촬영대상 오브젝트(object)를 선정된(predetermined) 각도로 기울여서 위치시킨 후 상기 X선 촬영 장치를 통해 상기 촬영대상 오브젝트에 대한 슬릿(slit) 이미지 또는 엣지(edge) 이미지 중 어느 하나의 이미지를 상기 제1 이미지로 획득하는 X선 품질 측정 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 이미지 획득부는상기 X선 촬영 장치로부터 방사되는 X선이 차단될 경우 획득 가능한 다크(dark) 이미지 및 상기 X선 촬영 장치로부터 방사되는 X선이 차단되지 않을 경우 획득 가능한 화이트(white) 이미지를 상기 제2 이미지로 획득하는 X선 품질 측정 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 MTF 측정부는상기 제1 이미지로부터 컴포지트(composite) LSF(line spread function)를 획득하는 LSF 획득부; 및상기 획득된 컴포지트 LSF를 기초로 상기 MTF를 연산하는 MTF 연산부를 포함하는 X선 품질 측정 장치
5 5
제1항에 있어서,상기 NNPS 측정부는상기 제2 이미지로부터 적어도 하나의 관심 영역(Region of Interest: ROI)을 추출하는 ROI 추출부; 및상기 추출된 적어도 하나의 ROI를 기초로 상기 NNPS를 연산하는 NNPS 연산부를 포함하는 X선 품질 측정 장치
6 6
제1항에 있어서,상기 조사선량 측정부는이온 챔버(Ion Chamber)를 이용하여 상기 X선 촬영 장치의 조사선량을 측정하는 X선 품질 측정 장치
7 7
X선 촬영 장치로부터 제1 이미지를 획득하는 단계;상기 제1 이미지에 대한 MTF(Modulation Transfer Function)를 측정하는 단계;상기 X선 촬영 장치로부터 제2 이미지를 획득하는 단계;상기 제2 이미지에 대한 NNPS(Normalized Noise Power Spectrum)를 측정하는 단계;상기 X선 촬영 장치의 조사선량을 측정하는 단계; 및상기 측정된 MTS, 상기 측정된 NNPS 및 상기 측정된 조사선량에 기초하여 상기 X선 촬영 장치에 대한 DQE(Detective Quantum Efficiency)를 연산하는 단계를 포함하는 X선 품질 측정 방법
8 8
제7항에 있어서,상기 제1 이미지를 획득하는 단계는이미지 획득부 상에 촬영대상 오브젝트(object)를 선정된(predetermined) 각도로 기울여서 위치시킨 후 상기 X선 촬영 장치를 통해 상기 촬영대상 오브젝트에 대한 슬릿(slit) 이미지 또는 엣지(edge) 이미지 중 어느 하나의 이미지를 상기 제1 이미지로 획득하는 X선 품질 측정 방법
9 9
제7항에 있어서,상기 MTF를 측정하는 단계는상기 제1 이미지로부터 컴포지트(composite) LSF(line spread function)를 획득하는 단계; 및상기 획득된 컴포지트 LSF를 기초로 상기 MTF를 연산하는 단계를 포함하는 X선 품질 측정 방법
10 10
제7항에 있어서,상기 제2 이미지를 획득하는 단계는상기 X선 촬영 장치로부터 방사되는 X선이 차단될 경우 획득 가능한 다크(dark) 이미지 및 상기 X선 촬영 장치로부터 방사되는 X선이 차단되지 않을 경우 획득 가능한 화이트(white) 이미지를 상기 제2 이미지로 획득하는 X선 품질 측정 방법
11 11
제7항에 있어서,상기 NNPS를 측정하는 단계는상기 제2 이미지로부터 적어도 하나의 관심 영역(Region of Interest: ROI)을 추출하는 단계; 및상기 추출된 적어도 하나의 ROI를 기초로 상기 NNPS를 연산하는 단계를 포함하는 X선 품질 측정 방법
12 12
제7항에 있어서,상기 조사선량을 측정하는 단계는이온 챔버(Ion Chamber)를 이용하여 상기 X선 촬영 장치의 조사선량을 측정하는 X선 품질 측정 방법
13 13
제7항 내지 제12항 중 어느 한 항의 방법을 수행하는 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독 가능 기록 매체
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.